[发明专利]一种电解电容击穿试验击穿点的捕捉方法

说明书

技术领域

本发明涉及电容检测方法，特别涉及捕捉电解电容击穿点的一种方法。

背景技术

电解电容击穿是由于阳极氧化膜介质膜破裂，导致电解液直接与阳极接触而造成的。氧化膜可能因各种材质，工艺或环境条件等方面的原因而受到局部损伤。在外加电场的作用下工作电解液提供的氧离子可在损伤部位重新形成氧化膜，使阳极氧化膜得以填平修复。但是如果在损伤部位存在杂质离子或其他缺陷，使填平修复工作无法完善，则在阳极氧化膜上会留下微孔，甚至可能成为穿透孔，使电解电容击穿。

现有检测电解电容击穿电压的方法是将电解电容置于含氧酸根离子溶液中，将电解电容接稳压稳流电源的正极，溶液接稳压稳流电源的负极。按不同规格电解电容检测工艺，通过稳压稳流电源输出恒流电场，直至试件击穿。

由于电解电容在击穿试验或形成等过程因材质不同、规格不同的电解电容在各阶段的电压波形相当复杂，难以用统一的物理量加以描述。附图1中列举了两个电解电容的击穿波形，因电解电容自身和外界的原因，以及击穿试验过程等工艺原因击穿电压波形中波峰、波幅及周期存在无规则性，捕捉其是否击穿在现有技术中只有模拟信号。现有技术中通常采用示波器法和电压记录仪法，是在输出电源上并接电压记录仪或示波器，通过将信号放大，在电压记录仪上读取峰值电压即为试件的击穿电压值。但这一技术受环境、设备的零点漂移、信号干扰等因素影响，记录数据波动大，数值精度不高。整个击穿试验或形成过程数小时记录很长，读取费时费力。

发明内容

本发明的目的是提供一种电解电容击穿试验击穿点的捕捉方法，可以精确捕捉击穿点。

本发明提供的电解电容击穿试验击穿点的捕捉方法，包括以下步骤：

（1）设定采样时间Δt、采样个数n和时间上限T₁，其中T₁＞Δt；设置最大电压U_max的初始值和时间参数T_i的初始值，其中U_max的初始值小于U₀，T_i的初始值≤T₁-Δt；其中U₀为击穿试验过程开始经过T₁-Δt时间达到的电压值；

（2）击穿试验过程开始，每采样时间Δt内采集n个电压值并计算其算术平均值                                                ；

（3）将平均值与最大电压U_max比较大小，若＞U_max时，用的值替代U_max的值，即令U_max=，如此往复；每一次U_max被更新，时间T_i清零并重新计时；

（4）比较最大电压U_max被更新时的时间参数T_i与时间上限T₁的大小，若T_i >T₁，判断为电解电容击穿。

作为改进，所述采集的方法为，采样时间Δt内每隔相等的时间间隔均匀采集n个电压值。

作为改进，步骤（1）设置最大电压U_max的初始值为0、时间参数T_i的初始值为0。

本发明提供一种用数字信号捕捉击穿点的一种方法，在电解电容击穿试验中可以精确检测到电解电容发生击穿，并捕捉击穿点电压，解决了现有技术中存在因电解电容发生击穿的持续时间较短而不能精确检测的问题，同时也解决了受环境影响不能精确检测电解电容发生击穿的问题。同时，本发明可通过设置采集精度、时间上限等参数更精确的捕捉击穿点。

附图说明

图1为电解电容击穿电压波形示意图。

图2为电解电容击穿试验电流（电压）-时间示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明进行详细的说明：