[发明专利]检验单元和流体分析盒在审

专利信息
申请号: 201310292051.1 申请日: 2013-07-12
公开(公告)号: CN103543256A 公开(公告)日: 2014-01-29
发明(设计)人: 李承俊;金承勋;闵正基;金洙弘 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G01N33/50 分类号: G01N33/50
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 王新华
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 检验 单元 流体 分析
【权利要求书】:

1.一种流体分析盒,用来检验流体样品,包括:

检验单元,容纳并检验所述流体样品;

壳体,包括将所述流体样品供应到所述检验单元的至少一个供应孔;以及

过滤单元,设置在所述检验单元与所述壳体之间且在与所述壳体的所述供应孔相对应的位置,并配置为过滤所述流体样品中存在的特定物质。

2.根据权利要求1所述的流体分析盒,其中所述壳体的底表面接合到所述检验单元的上表面,

所述检验单元包括入口,所述流体样品通过所述入口从所述供应孔供应,以及

所述壳体接合到所述检验单元使得所述供应孔与所述入口对准。

3.根据权利要求1所述的流体分析盒,其中所述过滤单元包括表面涂覆有功能物质的隔膜,所述功能物质与所述特定物质反应、接合到所述特定物质或者吸收所述特定物质。

4.根据权利要求1所述的流体分析盒,其中所述过滤单元包括两个或更多的多孔隔膜,每个隔膜具有多个孔并配置为过滤在尺寸上比所述多个孔的尺寸更大的物质。

5.根据权利要求3所述的流体分析盒,其中所述功能物质设置在所述两个或更多层的多孔隔膜中的两个相邻多孔隔膜之间。

6.根据权利要求2所述的流体分析盒,其中所述检验单元包括:

多个检验室,配置为检验通过所述入口供应的所述流体样品;以及

供应通道,配置为将所述入口连接到所述多个检验室。

7.根据权利要求2所述的流体分析盒,其中所述检验单元包括上板、下板和插设在所述上板与所述下板之间的中间板,

所述上板和所述下板包括膜,所述中间板包括多孔片,

所述入口、所述检验室和所述供应通道形成在所述中间板中,以及

所述上板和所述下板印有遮光墨,所述上板和所述下板的对应于所述检验室的区域用透明材料处理。

8.根据权利要求2所述的流体分析盒,其中所述壳体包括两个或更多的供应孔,所述检验单元在与所述供应孔相对应且对准的位置包括两个或更多的入口。

9.一种检验单元,用来接收和检验流体样品,包括:

多个检验室,检验接收的流体样品,

其中所述检验室设置为包括两个或更多层的布置,所述检验室的上层与所述检验室的下层交替。

10.根据权利要求9所述的检验单元,还包括:

入口,所述流体样品通过所述入口供应;以及

至少一个供应通道,将所述流体样品从所述入口供应到所述检验室。

11.根据权利要求10所述的检验单元,其中所述检验室被分成至少两个检验区,

所述供应通道包括将相应的检验区连接到所述入口的至少两个供应通道,

所述两个或更多的供应通道具有相对于彼此不同的曲率半径,以及

所述检验单元还包括设置在所述入口与所述检验区之间的中间室,其中所述供应通道中的一个经过所述中间室。

12.一种检验单元,用来接收和检验流体样品,包括:

入口,所述流体样品通过所述入口供应;

多个检验室,检验供应的流体样品;以及

供应通道,将所述入口连接到所述检验室,

其中所述检验室被分成至少两个检验区,所述供应通道包括将相应的检验区连接到所述入口的至少两个供应通道。

13.根据权利要求12所述的检验单元,其中所述至少两个供应通道将所述入口连接到所述检验室中的一个,以及

所述至少两个供应通道具有相对于彼此不同的曲率半径。

14.一种流体分析盒,用来检验流体样品,包括:

检验单元,接收所述流体样品并对所述流体样品进行多个检验;以及

壳体,包括将所述流体样品供应到所述检验单元的至少一个供应孔,

其中所述检验单元包括上板、下板和插设在所述上板和所述下板之间的中间板,其中所述上板和所述下板的每个由膜形成,所述中间板由多孔片形成,所述上板、所述中间板和所述下板彼此接合。

15.根据权利要求14所述的流体分析盒,其中所述中间板包括:入口,所述流体样品通过所述入口从所述供应孔供应;

多个检验室,检验通过所述入口供应的所述流体样品;以及

供应通道,将所述入口连接到所述检验室。

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