[发明专利]荧光检测方法

说明书

技术领域

本发明与包含酶或微生物的测定或检验方法有关，特别是有关于一种荧光检测方法。

背景技术

利用荧光，是检测核酸的一种技术。是利用适当波长的光照射具有荧光性质的样品，样品会吸收光的能量而被激发至高能量状态，并在极短时间内回复低能量状态，同时以放光的形式将多余能量释出。当样品上结合有荧光或可呈色的化学物质，便能提供光源，使化学物质产生荧光反应。借此，由外部观察是否有荧光反应，便能知道样品有没有结合化学物质，或者是结合化学物质的样品是否存在。

已知的荧光技术系统通常包含一激发光源、一感光元件、一聚光装置。当光源照射在样品上，样品吸收能量产生光致荧光效应后发出荧光，但因为荧光信号微弱且亦受其他光源干扰如激发光源，需通过聚光装置收集后才能由感光元件感测。上述的聚光装置通常由多片透镜、反射镜及放射光滤片(Emission Filter)组成，其光路复杂且不容易精确。而且光源通常为汞灯、氙灯或卤素灯等，虽其发光波长涵盖范围长，但激发光源需针对不同的荧光指示剂下去做选择波段，所以还必须使用不同滤镜做搭配，耗费成本高且激发能量弱。而感光元件感测光信号后将其转为电流信号，又需通过转阻放大器(Trans-impedance Amplifier,TIA)将此电流信号转换为模拟电压信号，再利用模拟数字转换电路(Analog to Digital Converter,ADC)将模拟电压信号转为数字电压信号，才能得出所需的实验要据，如此一来手续繁杂又需增加额外成本支出。

一般由外部判断荧光反应的技术，是直接接收荧光，当荧光强度高于特定值，便视为有荧光反应。然而接收荧光的技术，容易受环境影响，难有稳定的准确度。且已知的荧光检测技术装置大体上为体积庞大的复杂系统，携带不便，如有须检测的样品需带回实验室才有办法进行检测，浪费时间且麻烦。

有鉴于上述问题，本发明提供了一种方便且检测准确度更为稳定的一种荧光检测方法。

发明内容

因此本发明的一目的在于提供一种荧光检测方法，利用灰阶影像与比对技术准确快速地分辨出样品是否有荧光信号。

将荧光检测试剂加入样品中；将样品盛装至一样品盘中。其中该样品盘包含至少一列背景样品孔。以及至少一列待测样品孔。以一背景光源照射该样品盘。取得该样品盘的一背景灰阶影像。

根据本发明一实施方式，上述荧光检测方法还包含下述步骤。均值滤波背景灰阶影像。二值化背景灰阶影像。根据二值化后的背景灰阶影像，计算出背景样品孔的边缘位置。根据背景样品孔的边缘位置，计算出待测样品孔的边缘位置。取得位于背景样品孔内的灰阶像素数据，并将其平均，作为一背景信号临界值。根据待测样品孔的边缘位置以及背景信号临界值，对待测样品孔进行荧光信号读取作业。

依据本发明又一实施方式，上述对待测样品孔进行荧光信号读取作业的步骤，包含以背景光源照射样品盘；取得样品盘的一待测灰阶影像。均值滤波待测灰阶影像，取得位于待测样品孔内的灰阶像素数据。逐个判断位于待测样品孔内的灰阶像素数据是否大于背景信号临界值；以及当位于待测样品孔内的灰阶像素数据大于背景信号临界值时，判断为读出荧光信号。

依据本发明另一实施方式，上述对待测样品孔进行荧光信号读取作业的步骤，还包含根据待测灰阶影像，取得位于背景样品孔内的灰阶像素数据；根据位于背景样品孔内的灰阶像素数据，判断是否读出光源信号，当未读出光源信号时，判断为异常状况，并终止实验。

依据本发明再一实施方式，其中对于取得样品盘的背景灰阶影像的步骤是以电荷耦合元件(Charge-couple Device,CCD)或互补式金属氧化物半导体(Complementary Metal Oxide Semiconductor,CMOS)等光感测器为之。

依据本发明又一实施方式，其中背景样品孔上覆盖有一减光片或偏光片，且待测样品孔上覆盖有一荧光滤镜。而背景光源为一发光二极管或一激光光源，且背景光源照射样品盘的方向，是选自样品盘的上方、侧边、下方、及其组合。