[发明专利]电流传感器组件、装置和系统

权利要求书

1.一种电流传感器组件，其被配置为检测在基板的初级导体中流动的初级电流，所述电流传感器组件包括：

校准电流供应装置，所述校准电流供应装置被配置为针对基板的校准导体提供校准电流，其中校准导体和初级导体以被限定的彼此之间的空间关系被布置在基板上；

磁场传感器，所述磁场传感器被配置为检测在初级导体中流动的初级电流的磁场，以提供初级传感器信号，并且所述磁场传感器进一步被配置为检测流过校准导体的校准电流的磁场，以提供校准传感器信号；以及

控制器，所述控制器被配置为接收初级传感器信号和校准传感器信号，并且被配置为基于校准传感器信号和在初级导体与校准导体之间的被限定的空间关系来校准初级传感器信号。

2.根据权利要求1所述的电流传感器组件，其中，控制器进一步被配置为基于校准传感器信号来确定在磁场传感器与校准导体之间的空间关系，并且被配置为：基于在磁场传感器与校准导体之间的被确定的空间关系以及在校准导体与初级导体之间的被限定的空间关系，确定在磁场传感器与初级导体之间的空间关系；

其中，控制器进一步被配置为基于磁场传感器与初级导体之间的被确定的空间关系来校准初级传感器信号。

3.根据权利要求1所述的电流传感器组件，其中，校准电流供应装置被配置为提供校准电流，使得校准电流的强度至多是初级电流的满额强度的1/100。

4.根据权利要求1所述的电流传感器组件，其中，校准电流供应装置被配置为提供校准电流，使得校准电流的强度等于或小于100mA。

5.根据权利要求1所述的电流传感器组件，其中，磁场传感器包括初级磁场传感器单元和校准磁场传感器单元，其中，初级磁场传感器单元被配置为检测流过初级导体的初级电流的磁场，以提供初级传感器信号，并且其中校准磁场传感器单元被配置为检测流过校准导体的校准电流的磁场，以提供校准传感器信号。

6.根据权利要求1所述的电流传感器组件，其中，电流传感器组件包括被配置为针对校准导体提供校准电流的第一管脚。

7.根据权利要求6所述的电流传感器组件，其中，电流传感器组件包括第二管脚，其中第一管脚和第二管脚被配置为接触校准导体。

8.一种电流传感器装置，用于检测在基板的初级导体中流动的初级电流，所述电流传感器装置包括：

磁场传感器，所述磁场传感器包括初级磁场传感器单元和校准磁场传感器单元，其中初级磁场传感器单元被配置为检测流过初级导体的初级电流的磁场，以提供初级传感器信号，并且其中校准磁场传感器单元被配置为检测流过基板的校准导体的校准电流的磁场，以提供校准传感器信号，其中校准导体和初级导体以被限定的彼此之间的空间关系被布置在基板上；以及

控制器，所述控制器被配置为接收初级传感器信号和校准传感器信号，并且被配置为基于校准传感器信号和在初级导体与校准导体之间的被限定的空间关系来校准初级传感器信号。

9.根据权利要求8所述的电流传感器装置，其中，校准磁场传感器单元的磁场灵敏度至少是初级磁场传感器单元的磁场灵敏度的10倍。

10.根据权利要求9所述的电流传感器装置，其中，校准磁场传感器单元是各向异性磁阻、巨磁阻、穿隧磁阻或者庞磁阻传感器单元。

11.根据权利要求8所述的电流传感器装置，其中，校准磁场传感器单元包括以被限定的彼此之间的空间关系来布置的第一校准磁场传感器元件和第二校准磁场传感器元件，其中所述第一校准磁场传感器元件和第二校准磁场传感器元件被配置为检测流过校准导体的校准电流的磁场，以提供第一校准传感器信号和第二校准传感器信号；并且

其中控制器被配置为：基于在第一校准传感器信号和第二校准传感器信号之间的差，并基于在第一磁场传感器元件与第二磁场传感器元件之间的被限定的空间关系，校准初级传感器信号。

12.根据权利要求8所述的电流传感器装置，其中，磁场传感器和控制器被集成在电流传感器组件中。

13.根据权利要求8所述的电流传感器装置，进一步包括校准电流供应装置，所述校准电流供应装置被配置为针对校准导体提供校准电流。

14.根据权利要求13所述的电流传感器装置，其中，控制器被配置为提供校准信号，其中校准电流供应装置被配置为基于校准信号提供校准电流。