[发明专利]应用于电路板集成光组件系统的误码率测试装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及无源光网络技术领域，特别涉及电路板集成光组件系统技术领域，具体是指一种应用于电路板集成光组件系统的误码率测试装置及方法。

背景技术

在PON（无源光网络）终端设备的生产过程中，需要对PON部分进行下行方向的误码率进行测量。

如果使用光模块，如图1所示，光模块收到误码仪通过光纤发送过来的PRBS（Pseudo-Random Binary Sequence，伪随机二进制序列）码型，再变换成电信号通过同轴电缆回送到误码仪。误码仪通过比较发送和接收到的数据，就能计算出当前的误码率大小。在BOB系统（电路板集成光组件系统）中，PON部分仍然可以收到误码仪通过光纤发送的下行PRBS码型。但是由于电信号直接接到PON的MAC接口上面，无法直接回送到误码仪。常用的解决办法是：用OLT（光线路终端）和ONT（光网络终端）共同搭建一个系统，通过测试丢包率的方法来判断是否有误码。这种OLT与ONT结合的方法的缺陷在于，首先系统比较复杂，要增加OLT进行测试，不同的方案可能对应不同的OLT；其次丢包率可能会受到OLT的影响，对误码的判断不够准确。

发明内容

本发明的目的是克服了上述现有技术中的缺点，提供一种不需要增加额外的OLT设备，就能在ONT内部直接统计出当前的误码率，且系统结构简单，准确率高，应用方式简便，应用范围较为广泛的应用于电路板集成光组件系统的误码率测试装置及方法。

为了实现上述的目的，本发明的应用于电路板集成光组件系统的误码率测试装置具有如下构成：

该应用于电路板集成光组件系统的误码率测试装置包括误码检测仪，所述的误码检测仪包括伪随机二进制序列码型生成单元，所述的电路板集成光组件系统的光网络终端集成有伪随机二进制序列码型收发器，所述的伪随机二进制序列码型生成单元通过光纤连接所述的伪随机二进制序列码型收发器。

该应用于电路板集成光组件系统的误码率测试装置中，所述的伪随机二进制序列码型收发器包括收发单元、伪随机二进制序列码型存储单元、同步控制单元和误码率检测单元，所述的误码率检测单元分别连接所述的收发单元、伪随机二进制序列码型存储单元和同步控制单元，所述的收发单元连接所述的伪随机二进制序列码型生成单元。

本发明还提供一种利用所述的装置实现电路板集成光组件系统的误码率测试方法，该方法包括以下步骤：

（1）所述的误码检测仪的伪随机二进制序列码型生成单元生成伪随机二进制序列码型；

（2）所述的误码检测仪通过光纤将所述的伪随机二进制序列码型发送至所述的光网络终端的伪随机二进制序列码型收发器；

（3）所述的伪随机二进制序列码型收发器将其内部预置的伪随机二进制序列码型和从所述的误码检测仪接收到的伪随机二进制序列码型比较，统计当前误码率。

该实现电路板集成光组件系统的误码率测试方法中，所述的伪随机二进制序列码型收发器包括收发单元、伪随机二进制序列码型存储单元、同步控制单元和误码率检测单元，所述的误码率检测单元分别连接所述的收发单元、伪随机二进制序列码型存储单元和同步控制单元，所述的收发单元连接所述的伪随机二进制序列码型生成单元，所述的步骤（3）具体包括以下步骤：

（31）所述的收发单元从所述的误码检测仪接收到伪随机二进制序列码型；

（32）所述的同步单元将所述的伪随机二进制序列码型收发器的速率和相位同步到所述的误码检测仪；

（33）所述的误码率检测单元根据所述的伪随机二进制序列码型存储单元中存储的伪随机二进制序列码型和从所述的误码检测仪接收到的伪随机二进制序列码型比较，统计当前误码率。

采用了该发明的应用于电路板集成光组件系统的误码率测试装置包括误码检测仪，误码检测仪包括PRBS码型生成单元，电路板集成光组件系统的ONT集成有PRBS码型收发器。利用该装置的误码率测试方法中，ONT的PRBS码型收发器能直接利用其内部预置的PRBS码型和从误码检测仪接收到的PRBS码型比较，统计当前误码率。从而提供了一种不需要增加额外的OLT设备，就能在ONT内部直接统计出当前的误码率，且系统结构简单，准确率高的误码率测试装置及方法，同时，本发明的应用于电路板集成光组件系统的误码率测试装置及方法的应用方式简便，应用范围较为广泛。

附图说明

图1为现有技术中的光模块误码率测试装置的结构示意图。

图2为本发明的应用于电路板集成光组件系统的误码率测试装置的结构示意图。

具体实施方式