[发明专利]应用于电路板集成光组件系统的误码率测试装置及方法

权利要求书

1.一种应用于电路板集成光组件系统的误码率测试装置，其特征在于，所述的装置包括误码检测仪，所述的误码检测仪包括伪随机二进制序列码型生成单元，所述的电路板集成光组件系统的光网络终端集成有伪随机二进制序列码型收发器，所述的伪随机二进制序列码型生成单元通过光纤连接所述的伪随机二进制序列码型收发器。

2.根据权利要求1所述的应用于电路板集成光组件系统的误码率测试装置，其特征在于，所述的伪随机二进制序列码型收发器包括收发单元、伪随机二进制序列码型存储单元、同步控制单元和误码率检测单元，所述的误码率检测单元分别连接所述的收发单元、伪随机二进制序列码型存储单元和同步控制单元，所述的收发单元连接所述的伪随机二进制序列码型生成单元。

3.一种利用权利要求1所述的装置实现电路板集成光组件系统的误码率测试方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤：

（1）所述的误码检测仪的伪随机二进制序列码型生成单元生成伪随机二进制序列码型；

（2）所述的误码检测仪通过光纤将所述的伪随机二进制序列码型发送至所述的光网络终端的伪随机二进制序列码型收发器；

（3）所述的伪随机二进制序列码型收发器将其内部预置的伪随机二进制序列码型和从所述的误码检测仪接收到的伪随机二进制序列码型比较，统计当前误码率。

4.根据权利要求3所述的实现电路板集成光组件系统的误码率测试方法，其特征在于，所述的伪随机二进制序列码型收发器包括收发单元、伪随机二进制序列码型存储单元、同步控制单元和误码率检测单元，所述的误码率检测单元分别连接所述的收发单元、伪随机二进制序列码型存储单元和同步控制单元，所述的收发单元连接所述的伪随机二进制序列码型生成单元，所述的步骤（3）具体包括以下步骤：

（31）所述的收发单元从所述的误码检测仪接收到伪随机二进制序列码型；

（32）所述的同步单元将所述的伪随机二进制序列码型收发器的速率和相位同步到所述的误码检测仪；

（33）所述的误码率检测单元根据所述的伪随机二进制序列码型存储单元中存储的伪随机二进制序列码型和从所述的误码检测仪接收到的伪随机二进制序列码型比较，统计当前误码率。