[发明专利]一种植被空间分布状态测量方法及装置有效

专利信息
申请号: 201210339810.0 申请日: 2012-09-13
公开(公告)号: CN102853822A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 黄文江;刘良云;杨贵军;孙刚;申茜;彭代亮;张清 申请(专利权)人: 中国科学院对地观测与数字地球科学中心
主分类号: G01C11/00 分类号: G01C11/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 100094*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 植被 空间 分布 状态 测量方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及遥感领域,尤其涉及一种植被空间分布状态测量方法及装置。

背景技术

植被空间分布状态是指植被中的植株地上部分的空间分布状态,通常,可以将植被的空间分布状态分成直立型、中间型和披散型,一般地,叶倾角和叶面积指数等参数可以直接表征植被的空间分布状态。

目前,对植被空间分布状态的测量通常由人工进行,具体地,由人工使用测量工具,实地测量植被中的植株的倾斜角等参数,再依据测得的参数计算出各植株的空间分布状态。这种测量植被空间分布状态的方法准确性不高,并且测量测度慢。

发明内容

有鉴于此,本发明提供了一种植被空间分布状态测量方法及装置,目的在于解决现有的植被空间分布状态测量方法存在的准确性不高、测量速度慢的问题。

为了实现上述目的,本发明实施例提供了以下技术方案:

一种植被空间分布状态测量方法,包括:

获取待测植被的冠层遥感图像;

确定表征所述冠层遥感图像的空间分布状态的参数;

确定所述参数与所述冠层遥感图像的光谱反射率之间的对应关系;

查询所述对应关系,确定所述植被的空间分布状态。

优选地,所述确定表征所述冠层遥感图像的空间分布状态的参数包括:

利用主成分分析和敏感性分析,统计不同参数对所述冠层遥感图像的影响;

确定对所述冠层遥感图像的影响最大的参数为表征所述冠层遥感图像的空间分布状态的参数。

优选地,所述确定所述参数与所述冠层遥感图像的光谱反射率之间的对应关系包括:

依据所述参数及预设的模型,绘制预设的光谱波长范围内所述冠层遥感图像的光谱反射率随所述参数变化的曲线;

依据所述曲线,确定所述冠层遥感图像的光谱反射率随所述参数变化率最大的光谱波长;

选择所述光谱波长对应的曲线为所述参数与所述冠层遥感图像的光谱反射率之间的对应关系。

优选地,所述预设的模型包括:

计算植被冠层光谱和光谱影响因素的植被冠层辐射传输模型。

优选地,所述查询所述对应关系,确定所述植被的空间分布状态包括:

测量所述植被的冠层遥感图像的反射率;

依据所述对应关系,确定与所述反射率对应的所述参数的参数值;

依据所述参数值,确定所述植被的空间分布状态。

优选地,所述确定表征所述冠层遥感图像的空间分布状态的参数之前,还包括:

对所述待测植被的冠层遥感图像进行预处理。

一种植被空间分布状态测量装置,包括:

遥感图像获取模块,用于获取待测植被的冠层遥感图像;

参数确定模块,用于确定表征所述冠层遥感图像的空间分布状态的参数;

对应关系确定模块,用于确定所述参数与所述冠层遥感图像的光谱反射率之间的对应关系;

空间分布状态确定模块,用于查询所述对应关系,确定所述植被的空间分布状态。

优选地,所述参数确定模块包括:

分析单元,用于用主成分分析和敏感性分析,统计不同参数对所述冠层遥感图像的影响;

参数确定单元,用于确定对所述冠层遥感图像的影响最大的参数为表征所述冠层遥感图像的空间分布状态的参数。

优选地,所述对应关系确定模块包括:

绘图单元,用于依据所述参数及预设的模型,绘制预设的光谱波长范围内所述冠层遥感图像的光谱反射率随所述参数变化的曲线;

光谱波长确定单元,用于依据所述曲线,确定所述冠层遥感图像的光谱反射率随所述参数变化率最大的光谱波长;

对应关系选择单元,用于选择所述光谱波长对应的曲线为所述参数与所述冠层遥感图像的光谱反射率之间的对应关系。

优选地,所述空间分布状态确定模块包括:

测量单元,用于测量所述植被的冠层遥感图像的反射率;

参数值确定单元,用于依据所述对应关系,确定与所述反射率对应的所述参数的参数值;

空间分布状态确定单元,用于依据所述参数值,确定所述植被的空间分布状态。

本发明实施例所述的植被空间分布状态测量方法及装置,通过对待测植被的冠层遥感图像进行分析,确定所述遥感图像的表征参数及表征参数与光谱反射率之间的对应关系,从而能够通过所述对应关系确定植被的空间分布状态,而避免了人工使用测量工具测量植被的空间分布状态,因而提供了测量的准确性和测量速度。

附图说明

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