[发明专利]空间杀菌装置及空间除臭装置有效
| 申请号： | 201580043868.2 | 申请日： | 2015-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN106659811B | 公开（公告）日： | 2019-11-19 |
| 发明（设计）人： | 千草尚;森田修介;高桥健;大川猛;松田秀三;柳泽正 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | A61L2/20 | 分类号： | A61L2/20;A23L3/3481;A61L9/01;A61L9/04;A61L9/14;G01N21/78 |
| 代理公司： | 72002 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 王灵菇;白丽<国际申请>=PCT/JP2 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种空间杀菌装置，其包含向被处理空间供给气状和/或雾状的次氯酸溶液的次氯酸溶液供给部，所述空间杀菌装置使被处理空间中的次氯酸浓度为400ppb～500ppm。本发明获得了能够规定不受次氯酸溶液的不良影响且可对被处理空间内充分地进行杀菌、除臭的次氯酸浓度并维持该浓度的空间杀菌装置。 | ||
| 搜索关键词： | 空间 杀菌 装置 除臭 | ||
【主权项】：
1.一种空间杀菌装置，其包含：/n向被处理空间供给气状和/或雾状的次氯酸溶液的次氯酸溶液供给部、和/n包含具有用于采集所述被处理空间内的所述气状和/或雾状的次氯酸溶液的容器的次氯酸溶液采集部、且由采集到所述容器中的次氯酸溶液测定所述被处理空间内中的次氯酸浓度的测量系统，/n根据所述测量系统的测量结果，使所述被处理空间中的所述次氯酸浓度为400ppb～500ppm。/n
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