[发明专利]图像传感器、成像装置以及成像方法

说明书

技术领域

本公开涉及图像传感器、成像装置以及成像方法。更具体地，本公开涉及能够更准确地校正混色（color mixing）的图像传感器、成像装置以及成像方法。

背景技术

在现有技术中，已提出了预设混色校正系数、并通过使用混色校正系数来校正混色的方法（例如，参见日本专利特开（Laid-open）No.2010-16419）。

还提出了在有效像素之外的光学黑区（OPB区）提供混色检测像素的方法作为动态校正混色的方法（例如，参见日本专利特开No.2010-239192）。

此外，还提出了在有效像素内提供OPB的方法（例如，参见日本专利特开No.2010-147785）。

发明内容

然而，在日本专利特开No.2010-16419中描述的预设混色校正系数的方法中，未考虑制造差异（例如，滤色器的膜厚，或片载（on-chip）透镜的位置偏差）。由于混色率取决于光波长以及光源或者要拍摄的对象而变化，所以，预设混色校正系数的方法未能考虑到这样的情况。

此外，在日本专利特开No.2010-239192中描述的方法中，如果在有效像素之外的区域提供混色检测像素，则有效像素内的入射角与有效像素外的入射角不同，这是因为，混色量是取决于光入射角而变化的值。因而，不可能得到准确的混色量。

此外，在日本专利特开No.2010-147785中描述的方法中，未考虑Si内产生的混色。如果仅在特定颜色的像素上提供OPB，则连同黑电平一起输出正进入该像素的混色。如果从其它颜色的像素中减去该值，则得到的混色率可能不准确，这是因为，混色取决于颜色而变化。另外，由于混色量取决于图像高度（图像传感器内的位置）而变化，所以，有必要执行考虑到光学距离的操作。然而，在日本专利特开No.2010-147785中描述的方法未考虑到这一点。

考虑到前述内容，期望提供能够更准确地校正混色的技术。

根据本公开的实施例，提供了一种图像传感器，包括：由多个常规像素构成的常规像素组，每个所述常规像素具有用于对入射光进行光电转换的光电转换器件；以及检测像素，其被配置为在所述常规像素组的有效像素区域内，通过所述光电转换器件来检测来自相邻像素的入射光。

所述检测像素还可包括遮光膜，其被配置为遮蔽从外部入射到所述检测像素上的入射光。

可由布线层形成所述遮光膜。

可由多个布线层形成所述遮光膜。

每个所述布线层可在其上的彼此不同的位置形成间隙。

可取决于入射光的入射角来布置每个所述布线层。

可由被置于所述光电转换器件上的金属来形成所述遮光膜。

所述图像传感器可包括多个所述检测像素。

该图像传感器还可包括：滤光器，其被配置为透射预定波长的入射光。使用通过由所述检测像素检测来自相邻像素的入射光所得到的结果，来校正常规像素的像素值，所述常规像素被提供有被配置为与在所述检测像素上提供的滤光器透射具有相同波长的入射光的滤光器。

可在彼此不连续的位置中提供所述检测像素。

根据本公开的另一实施例，提供了一种成像装置，包括图像传感器和减法单元。图像传感器包括：由多个常规像素构成的常规像素组，每个所述常规像素具有用于对入射光进行光电转换的光电转换器件；以及检测像素，其被配置为在所述常规像素组的有效区域内，通过所述光电转换器件来检测来自相邻像素的入射光。减法单元被配置为通过使用所述图像传感器的所述检测像素检测到的光的光量，从所述常规像素的像素值中减去从所述常规像素的相邻像素入射的光的光量。

所述减法单元可包括：选择单元，其被配置为选择要被用于减去所述光量的检测像素；光量计算单元，其被配置为使用由所述选择单元选择的检测像素的像素值，计算在要处理的常规像素的像素值中包括的光量；以及光量减法单元，其被配置为从要处理的常规像素的像素值中减去由所述光量计算单元计算的光量。

所述选择单元可选择多个检测像素。所述光量计算单元可通过取决于由所述选择单元选择的多个检测像素与要处理的常规像素之间的位置关系而对所述多个检测像素的每个像素值加权，来计算所述光量。

当由所述选择单元选择的检测像素的相邻像素的像素值饱和时，所述光量计算单元可将用来计算所述光量的检测像素改变为另一检测像素，或禁止使用该检测像素。

当由所述选择单元选择的检测像素是缺陷像素时，所述光量计算单元可将用来计算所述光量的检测像素改变为另一检测像素，或禁止使用该检测像素。