[发明专利]图像传感器、成像装置以及成像方法在审

专利信息
申请号: 201210261661.0 申请日: 2012-07-26
公开(公告)号: CN102917181A 公开(公告)日: 2013-02-06
发明(设计)人: 中田征志 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: H04N5/357 分类号: H04N5/357;H04N5/359;H04N9/04
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邸万奎
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 图像传感器 成像 装置 以及 方法
【权利要求书】:

1.一种图像传感器,包括:

由多个常规像素构成的常规像素组,每个所述常规像素具有用于对入射光进行光电转换的光电转换器件;以及

检测像素,其被配置为在所述常规像素组的有效像素区域内,通过所述光电转换器件来检测来自相邻像素的入射光。

2.根据权利要求1的图像传感器,其中,所述检测像素还包括遮光膜,其被配置为遮蔽从外部入射到所述检测像素的入射光。

3.根据权利要求2的图像传感器,其中,由布线层形成所述遮光膜。

4.根据权利要求3的图像传感器,其中,由多个布线层形成所述遮光膜。

5.根据权利要求4的图像传感器,其中,每个所述布线层在其上的彼此不同的位置形成间隙。

6.根据权利要求4的图像传感器,其中,取决于入射光的入射角来布置每个所述布线层。

7.根据权利要求2的图像传感器,其中,由被置于所述光电转换器件上的金属来形成所述遮光膜。

8.根据权利要求1的图像传感器,其中,所述图像传感器包括多个所述检测像素。

9.根据权利要求8的图像传感器,还包括:

滤光器,其被配置为透射预定波长的入射光;

其中,使用通过由所述检测像素检测来自相邻像素的入射光所得到的结果,来校正被提供有配置为与所述检测像素上提供的滤光器透射具有相同波长的入射光的滤光器的常规像素的像素值。

10.根据权利要求8的图像传感器,其中,在彼此不连续的位置中提供所述检测像素。

11.一种成像装置,包括:

图像传感器,其包括:

由多个常规像素构成的常规像素组,每个所述常规像素具有用于对入射光进行光电转换的光电转换器件;以及

检测像素,其被配置为在所述常规像素组的有效像素区域内,通过

所述光电转换器件来检测来自相邻像素的入射光,以及

减法单元,其被配置为通过使用所述图像传感器的所述检测像素检测到的光的光量,从所述常规像素的像素值中减去从所述常规像素的相邻像素入射的光的光量。

12.根据权利要求11的成像装置,其中,所述减法单元包括:

选择单元,其被配置为选择要被用于减去光量的检测像素;

光量计算单元,其被配置为使用由所述选择单元选择的检测像素的像素值,计算在要处理的常规像素的像素值中包括的光量;以及

光量减法单元,其被配置为从要处理的常规像素的像素值中减去由所述光量计算单元计算的光量。

13.根据权利要求12的成像装置,

其中,所述选择单元选择多个检测像素,并且,

其中,所述光量计算单元通过取决于由所述选择单元选择的多个检测像素与要处理的常规像素之间的位置关系,对所述多个检测像素的每个像素值加权,来计算所述光量。

14.根据权利要求12的成像装置,其中,当由所述选择单元选择的检测像素的相邻像素的像素值饱和时,所述光量计算单元将用来计算所述光量的检测像素改变为另一检测像素或禁止使用该检测像素。

15.根据权利要求12的成像装置,其中,当由所述选择单元选择的检测像素是缺陷像素时,所述光量计算单元将用来计算所述光量的检测像素改变为另一检测像素或禁止使用该检测像素。

16.根据权利要求12的成像装置,其中,当要处理的常规像素与检测像素相邻时,所述光量计算单元还校正所计算的光量,以减小光量。

17.根据权利要求11的成像装置,其中,所述减法单元从所述常规像素的像素值减去黑电平以及所述光量。

18.根据权利要求11的成像装置,其中,所述减法单元包括:

选择单元,其被配置为选择要被用于减去所述光量的检测像素;

比率计算单元,其被配置为使用由所述选择单元选择的检测像素的像素值,计算在要处理的常规像素的像素值中包括的光量的比率;以及

乘法单元,其被配置为将要处理的常规像素的像素值乘以从外部输入到要处理的常规像素的入射光的比率,所述入射光的比率对应于由所述比率计算单元计算的光量的比率。

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