[发明专利]钛酸钡系正温度系数热敏电阻调阻方法有效
申请号: | 201210202405.4 | 申请日: | 2012-06-07 |
公开(公告)号: | CN102842397A | 公开(公告)日: | 2012-12-26 |
发明(设计)人: | 曹全喜;牛顺祥;赵方舟;刘芳 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学;陕西华龙敏感电子元件有限责任公司 |
主分类号: | H01C7/02 | 分类号: | H01C7/02 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 田文英;王品华 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 钛酸钡 温度 系数 热敏电阻 方法 | ||
1.一种电阻值大于7KΩ的钛酸钡系正温度系数热敏电阻调阻方法,包括如下步骤:
(1)分选电阻元件
分选仪器对待分选的元件按照电阻值的大小进行分类,从电阻值大于7KΩ的类别中取出电阻值大于电阻值额定值的元件作为待处理元件;
(2)称量降阻试剂的原料
用电子天平分别按照摩尔比例配制降阻试剂,其中,碳酸钙0.500~0.700、碳酸锰0.010~0.020、碳酸钠0.070~0.090、碳酸氢铵0.210~0.220、无水醋酸钙0.001~0.003、碳酸钡0.001~0.003、碳酸锶0.001~0.003、草酸氧钛锶0.001~0.003、石墨粉0.001~0.003、碳粉0.002~0.004;
(3)降阻试剂制备
将称量原料通过球磨、烘干工艺,得到降阻试剂;
(4)热处理
(4a)按照待处理元件与降阻试剂3∶1的质量比例,对待处理元件和降阻试剂用电子天平分别进行称量;
(4b)将称量后的待处理元件和降阻试剂放入有盖坩埚中;
(4c)将坩埚放入马弗炉中热处理;
(5)测量元件电阻值
(5a)将热处理后的元件取出,用去离子水清洗,烘干;
(5b)将烘箱中元件取出,用万用表测量元件的电阻值。
2.根据权利要求1所述的电阻值大于7KΩ的钛酸钡系正温度系数热敏电阻调阻方法,其特征在于:步骤(3)中所述的球磨工艺是指将称量原料与去离子水、玛瑙磨球按照料∶水∶球=1∶1∶1的质量比例放入球磨罐,在球磨机上球磨4~8小时。
3.根据权利要求1所述的电阻值大于7KΩ的钛酸钡系正温度系数热敏电阻调阻方法,其特征在于:步骤(3)中所述的烘干工艺是指将称量原料从球磨罐中取出,放入150℃烘箱,烘烤4~8小时。
4.根据权利要求1所述的电阻值大于7KΩ的钛酸钡系正温度系数热敏电阻调阻方法,其特征在于:步骤(4c)中所述的热处理是指,将炉中温度从室温开始控制在50~70分钟的加温时间内,使其达到500~700℃的温度范围,停止加温,再保温60~180分钟。
5.根据权利要求1所述的电阻值大于7KΩ的钛酸钡系正温度系数热敏电阻调阻方法,其特征在于:步骤(5a)中所述的烘干是指将清洗后的元件放入80℃烘箱,烘烤2~4小时。
6.一种电阻值小于7KΩ的钛酸钡系正温度系数热敏电阻调阻方法,包括如下步骤:
1)分选电阻元件
分选仪器对待分选的元件按照电阻值的大小进行分类,从电阻值小于7KΩ的类别中取出电阻值大于电阻值额定值的元件作为待处理元件;
2)称量降阻试剂的原料
用电子天平分别按照摩尔比例配制降阻试剂,其中,碳酸钙0.500~0.700、碳酸锰0.010~0.020、碳酸钠0.070~0.090、碳酸氢铵0.210~0.220、无水醋酸钙0.001~0.003、碳酸钡0.001~0.003、碳酸锶0.001~0.003、草酸氧钛锶0.001~0.003、石墨粉0.001~0.003、碳粉0.002~0.004、铁粉0.002~0.004、锌粉0.001~0.003、铝粉0.001~0.003;
3)降阻试剂制备
将称量原料通过球磨、烘干工艺,得到降阻试剂;
4)热处理
4a)按照待处理元件与降阻试剂3∶1的质量比例,对待处理元件和降阻试剂用电子天平分别进行称量;
4b)将称量后的待处理元件和降阻试剂放入有盖坩埚中;
4c)将坩埚放入马弗炉中热处理;
5)测量元件电阻值
5a)将热处理后的元件取出,用去离子水清洗,烘干;
5b)将烘箱中元件取出,用万用表测量元件的电阻值。
7.根据权利要求2所述的钛酸钡系正温度系数热敏电阻调阻方法,其特征在于:步骤3)中所述的球磨工艺是指将称量原料与去离子水、玛瑙磨球按照料∶水∶球=1∶1∶1的质量比例放入球磨罐,在球磨机上球磨4~8小时。
8.根据权利要求2所述的钛酸钡系正温度系数热敏电阻调阻方法,其特征在于:步骤3)中所述的烘干工艺是指将称量原料从球磨罐中取出,放入150℃烘箱,烘烤4~8小时。
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