[发明专利]一种反射镜对准检测装置及其工作方法有效
申请号: | 201210187564.1 | 申请日: | 2012-06-07 |
公开(公告)号: | CN102707733A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 徐海卫;许世森;郑建涛;徐越;刘明义;裴杰;李启明;刘冠杰 | 申请(专利权)人: | 中国华能集团清洁能源技术研究院有限公司 |
主分类号: | G05D3/12 | 分类号: | G05D3/12;G01C1/00 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人: | 贾玉健 |
地址: | 100098 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 反射 对准 检测 装置 及其 工作 方法 | ||
1.一种反射镜对准检测装置,其特征在于:包括反射辐射测量装置(5),对反射聚光系统中反射镜是否对准进行检测,反射聚光系统包括辐射吸收装置(1)、反射镜(2)、反射镜调整驱动系统(3)以及控制器(4),辐射吸收装置(1)布置在反射镜(2)聚焦的位置,反射镜调整驱动系统(3)输入端和控制器(4)电连接,反射镜调整驱动系统(3)输出端和反射镜(2)相连接,反射辐射测量装置(5)下端辐射入射口正对反射镜(2),反射辐射测量装置(5)输出端和控制器(4)相连接。
2.根据权利要求1所述的反射镜对准检测装置,其特征在于:所述反射辐射测量装置(5)为直辐射仪。
3.根据权利要求1所述的反射镜对准检测装置,其特征在于:还包括用于直接测量入射辐射的参考辐射测量装置(8),所述参考辐射测量装置(8)的辐射入射口正对入射光线,所述参考辐射测量装置(8)输出端和控制器4相连接。
4.根据权利要求1所述的反射镜对准检测装置,其特征在于:当所述反射镜(2)为多列时,在垂直于每列反射镜(2)长度方向上均配备有反射辐射测量装置(5)。
5.根据权利要求1所述的反射镜对准检测装置,其特征在于:当所述反射镜片(2)为多列时,辐射吸收装置(1)附近只布置一个反射辐射测量装置(5),反射辐射测量装置(5)配置在旋转机构(601)的固定底座(61)上,旋转机构(601)的电机与控制器(4)相连,所述反射辐射测量装置(5)能够在控制器(4)的控制下通过旋转机构(601)进行旋转。
6.根据权利要求5所述的反射镜对准检测装置,其特征在于:所述旋转机构(601)包括固定底座(61)及安装反射辐射测量装置(5)的平台(54),底座(61)上有两个平行的光滑T型导轨,平台(54)通过边缘的卡槽固定在底座(61)的T型导轨上并可沿着导轨自由滑动,平台(54)内设有驱动装置(53),驱动装置(53)包括电机和与电机相连的齿轮,齿轮与底座(61)上的齿条(65)相啮合,控制器(4)和驱动装置(53)的电机相连接,通过电机带动齿轮,进而带动齿条(65)转动,实现平台(54)在底座(61)上的移动。
7.根据权利要求5所述的反射镜对准检测装置,其特征在于:所述反射辐射测量装置(5)及固定底座(61)上配置有定位装置,所述定位装置包括设置在平台(54)上的定位孔(52)以及固定底座(61)没有齿条(65)一面上安装的定位销控制机构(63),所述定位销控制机构(63)包括带有轨道的外壳(68),固定在外壳(68)上的电机及丝杠(66),卡在轨道上并与丝杠(66)配合的移动板(67),以及安装在移动板(67)上的能插入定位孔(52)内的定位销(62)及其附属弹簧。
8.权利要求1所述一种反射镜对准检测装置的运行方法,其特征在于:通过调整镜片角度的驱动系统(3)调整反射镜片(2)角度至分析计算得到的反射角度附近,旋转反射镜片(2),控制器(4)对反射辐射测量装置(5)测得的辐射值及对应的反射镜片(2)位置进行记录和分析,最大反射辐射值对应的反射镜片(2)位置即为最佳反射镜片(2)位置。
9.根据权利要求7所述的运行方法,其特征在于:通过调整镜片角度的驱动系统(3)调整反射镜片(2)的角度,同时用反射辐射测量装置(5)对反射镜片(2)反射的辐射量进行测量,控制器(4)对反射辐射测量装置(5)测得的辐射值与参考辐射测量装置(8)测得的辐射量相比较,直到测得的反射辐射量与参考辐射测量装置(8)测得的辐射量相一致时对应的反射镜片(2)位置即为最佳反射镜片(2)位置。
10.权利要求1-7任一项所述的一种反射镜对准检测装置用于线性太阳聚光系统中。
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