[发明专利]一种基于单摄像机双色线结构光的三维坐标测量方法

说明书

技术领域

本发明属于光学测量技术领域，涉及一种基于单摄像机双色线结构光的三维坐标测量方法。

背景技术

逆向工程(Reverse Engineering)是指从产品的实物样件或模型反求几何模型的过程。主要研究如何从实物或者样件上准确高效地采集复杂三维表面数据，进而重建出CAD实体模型，广泛应用在机械制造，医疗卫生等领域。三维扫描测量的目的是为了获取物体三维空间坐标数据，通常可以分为接触式测量和非接触式测量，接触式测量效率低、操作复杂，难以测量外形复杂的物体。非接触式测量包括线结构光扫描法、投影光栅法、立体视觉法等。线结构光扫描法是一种发展比较成熟的方法，典型的工作方式是通过电机控制激光发生器旋转，投射一条激光线在物体表面移动，激光线根据物体表面形状发生空间扭曲，形成测量光栅条纹，由相机捕捉成像，经图像处理获得中心条纹信息，结合相机标定的参数，可以计算出物体表面的三维信息。一般的线结构光三维扫描仪通常由两个摄像机和一个结构光源的组成依据三维摄影测量理论，传统的摄像机标定是指采用特定的照相机模型，求取相机内外参数的过程。通常将镜头抽象为投影点，求出拍照时的各种几何常量。对于镜头的误差，则采用各种补偿算法。传统方法最大的问题是无法对相机镜头的畸变准确的补偿，从而影响三维测量的精度。如图1所示，图1中，两架摄像机安装在激光器光源的左右两侧，光平面与摄像机视场相交的部分是测量平面区域。同一次测量中两台摄像机各拍一张图像，分别得到物体表面上亮带部分的三维坐标。采用两个摄像机的目的是为了扩大观察角度，从而减少测量盲区，但是使用两个摄像机的缺点是摄像机的标定困难，需要进行多视角数据的配准工作，从而影响测量精度。

发明内容

针对上述现有技术状况，本发明的目的在于，提供一种单摄像机双色线结构光三维扫描方法，以解决非接触式测量线结构光扫描法双摄像机的数据采集量小，成本高，数据传输量大，需要进行多个摄像机采集数据的配准问题。

现将本发明构思及技术解决方案叙述如下：

本发明一种单摄像机双色线结构光三维扫描方法，其特征在于：包括摄像机标定、光平面标定、坐标求解三大步骤，具体如下：

步骤1：摄像机标定

摄像机标定的是建立图像上像素坐标与形成该像点的一条空间直线的对应关系，通过合理分布样本点的位置、建立样本点集的像素坐标与空间直线的对应关系，得到全部测量空间内的连续映射。由于光线在空气中可以认为是直线，这种方法避开了镜头的几何畸变，更有实用价值。

步骤1.1：标定器材

标定器材为放置在活动滑板上的垂直安装的标准网格图案平板，标定块安装在模型夹持器上，标定块AB两面平行，两面相同位置有黑底白线网格图案；标定板是具有漫反射表面的平板，图像上既有网格，又可以获取红蓝光栅图像。

步骤1.2：摄像机标定算法

步骤1.2.1：标定时使垂直转轴绕x轴旋转逆时针90度，摄像机光轴与坐标系y轴重合，标定板平面放置在与y轴垂直的平面上，原点位置在标定板的中心，对应三维空间坐标(x，z)为(0，0)，标定时使三维扫描仪平移平台在y方向p1位置和p2位置分别拍摄两幅标定板的图像(如图5)。

通过图像处理的方法提取网格线交点对应的像素坐标，每个网格交点的像素坐标和三维空间坐标可以一一对应，如表1。在y＝0附近的三维空间即为三维测量空间，与摄像机有固定的相互位置关系。

步骤1.2.2：依据表1中的样本点数据，采用双线性插值方法建立由像素坐标到成像直线的映射函数：L：P＝p₁(x，y，z)+λ(p₂(x，y，z)-p₁(x，y，z))       (1)

其中p₁(x，y，z)、p₂(x，y，z)分别为像素坐标(x_p，y_p)在平面p1和平面p2对应的三维坐标。

p₁(x，y，z)＝f(x_p，y_p)              (2)

p₂(x，y，z)＝g(x_p，y_p)              (3)

公式(2)、(3)可以分别具体表示成公式(4)、(5)：