[发明专利]表面花纹的检测方法有效
申请号: | 201210065302.8 | 申请日: | 2012-03-09 |
公开(公告)号: | CN103308530A | 公开(公告)日: | 2013-09-18 |
发明(设计)人: | 郑文玮;薛名凯;罗文期 | 申请(专利权)人: | 致茂电子(苏州)有限公司 |
主分类号: | G01N21/956 | 分类号: | G01N21/956 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;常大军 |
地址: | 215011 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 表面 花纹 检测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种光学检测方法,且特别涉及一种表面花纹的检测方法。
背景技术
在大量工业产品的生产上,如何追求更高的产品品质以及提高所生产产品的均一性,一直是人们所重视的重点,因此除了对产品的生产程序进行改进,更须对所生产产品的品质进行检测,以满足客户对于产品品质的要求,而其中,产品外观是否完好无瑕疵,更是在产品生产时,最为直观的检测项目。
然而在许多生产领域上,受限于其材料本质的限制,在制作完成后,其表面容易形成各式各样的纹路或斑点图案,虽然花纹多半对于产品性能影响不大,但就其外观来看,其不规则的表面花纹无法符合大多数人对于美感的要求,造成其产品价值下降,而客户也多将此类表面花色过于斑驳不一的产品予以退货,因此若是此类产品未能在出货前被检测出来,将造成出货成本上的损失。
举例而言,在目前主流的硅晶太阳能电池工艺中,由于硅晶板的生长特性,其晶格控制不易而难以控制其表面花色,容易造成太阳能电池表面花色不一,虽然表面花色不均匀不影响其光电性能,不妨碍一般发电运用,但若要将太阳能电池应用于建筑领域,其表面花色的均匀性便极为重要,生产者必需于品管过程中检出表面花纹过花的太阳能电池。
然而目前在产品花纹检测中,多依赖人工目测的方法,以检出其表面花色较不均匀的产品,然而由于表面花色的均匀与否,并无统一的标准以及明确的数值可予以界定,仅能依赖生产线人员其个人主观意识与个人经验,来评断产品表面是否过花,但由于不同检测人员之间,彼此对于均匀的感官认知均不相同,往往对于瑕疵产品有误判或过判的情事,因此,若是未能把瑕疵产品检出而造成客户退货,将使得生产者必须付出额外的出货成本。
发明内容
本发明所欲解决的技术问题与目的:
综观以上所述,由于在以往的表面花纹的检测方法中,所采用的人工目测检出方法,来检测产品表面是否具有瑕疵,往往会有检出标准不一以及个人主观性不同所造成误判或过判的问题。
因此为了解决上述问题,本发明的主要目的在于提供一种表面花纹的检测方法,其是以自动化的判断待测物表面花纹的不均匀度,用以改善传统人工目测方法的缺点。
本发明解决问题的技术手段:
本发明为解决现有技术的问题所采用的技术手段为提供一种表面花纹的检测方法,其包含以下步骤:首先对一待测物的表面撷取一具有N个像素的灰阶影像,且N为正整数;接着依据一筛选比例f,选出f×N个灰阶值较小的像素定义为一前景区域,并依据该前景区域的像素数量及灰阶值计算出一前景平均值。
同时,选出f×N个灰阶值较大的像素定义为一背景区域,并依据该背景区域的像素数量及灰阶值计算出一背景平均值;最后依据该前景平均值与该背景平均值判断该待测物的表面是否具有瑕疵。其中较佳者,该筛选比例f介于0至0.5之间,且该具有N个像素的灰阶值为一常态分布。
该表面花纹的检测方法还是先统计每一灰阶值的像素数量,若该灰阶值的像素数量小于一预设数量时,则忽略该灰阶值的像素。
在本发明的另一较佳实施例中,当该前景平均值与该背景平均值的差值大于一预设差值时,则判断该待测物的表面具有瑕疵。
在本发明的另一较佳实施例中,当该前景平均值大于一预设前景值,且该前景区域的像素数量大于一区域数量时,则判断该待测物的表面具有瑕疵。
在本发明的另一较佳实施例中,另先依据该前景区域的像素的分布位置,计算出该前景区域的一分散度;且当该分散度大于一预设分散度时,则判断该待测物的表面具有瑕疵。
此外,本发明所提供的表面花纹的检测方法更特别适于应用在太阳能电池的检测。
本发明对照现有技术的功效:
从以上述可知,由于在本发明所提供的一种表面花纹的检测方法中,是利用分析待测物表面的灰阶影像,藉以分类出前景区域与背景区域,并归纳其前景区域与背景区域的各项影像特性,诸如前景区域数量的多少、前景平均值与背景平均值彼此间的差值大小,以及计算前景区域的像素的分布分散度;利用该些规则定义,将可以自动地将表面具有瑕疵的待测物检出,以避免由于人工目测所造成的误判或过判的问题,使检测过程中排除人为主观意识的影响,降低检测的失误机率,并减少生产者的出货成本。
通过以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述,但不作为对本发明的限定。
附图说明
图1A至图1E显示不同的灰阶影像示意图;
图2为本发明较佳实施例的表面花纹的检测方法的流程图;
图3为待测物表面的灰阶影像示意图;
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