[发明专利]一种可改善Moiré条纹的像素结构及像素检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶面板，尤其涉及液晶面板中的可改善Moiré条纹的像素结构及像素检测方法。

背景技术

当前，液晶面板的背光模组中的棱镜片为规则性排列，并且该液晶面板的玻璃基板上的像素也呈现规则性排列(即像素阵列)，当规则排列的棱镜片与像素相重叠后，会在人眼的视觉上产生Moiré条纹(或称为摩尔干涉条纹)。该Moiré条纹在不同因素的影响下，其条纹形状也不尽相同，这些因素大致包括：棱镜片的间距、像素的大小、液晶面板的穿透程度以及不同的视角等。在一些情形下，两种不同周期的结构重叠时，图案或亮度在空间上就产生了不均匀的分布。例如，像素的遮黑区与棱镜片的结合就会形成上述的Moiré条纹。

为了改善或消除液晶面板中的Moiré条纹，现有技术中的一种解决方式是在于，针对单位子像素(如Red子像素、Green子像素或Blue子像素)，在平行于棱镜片的方向上，使得任意一行的所有遮黑区段的长度总和相等。例如，某一行所对应的遮黑区段有两个，分别为L1和L2；而另一行所对应的遮黑区段有四个，分别为L3、L4、L5和L6，则保证L1与L2之和等于L3、L4、L5和L6之和，即可有效改善上述Moiré效应。

然而，采用上述现有的举措，并不能从根本上解决Moiré条纹的相关问题。有鉴于此，如何设计一种可改善Moiré条纹的像素结构及像素检测方法，藉由新颖的像素结构和像素检测方法来彻底消除Moiré条纹，提升面板的性能和用户的视觉体验，是相关技术人员亟待解决的一项课题。

发明内容

针对现有技术中的液晶面板在解决Moiré条纹时所存在的上述缺陷，本发明提供了一种新颖的、可改善Moiré条纹的像素结构及像素检测方法。

依据本发明的一个方面，提供了一种可改善Moiré条纹的像素结构，包括：

多条扫描线，被设置为沿水平方向延伸；

多条数据线，被设置为沿竖直方向延伸，并且与所述多条扫描线相正交；以及

一第一遮黑区域和一第二遮黑区域，所述第一遮黑区域与所述第二遮黑区域相对设置，并且分别位于所述数据线的两侧；

其中，所述第一遮黑区域与所述第二遮黑区域在水平方向上交错排列。

在一实施例中，所述第一遮黑区域和所述第二遮黑区域均为黑矩阵。

在一实施例中，该像素结构还包括一像素电极，设置于所述第一遮黑区域和第二遮黑区域之间。此外，该像素电极为一透明电极，并且所述透明电极采用ITO或ITZ材料制成。此外，所述像素电极呈“Z”型结构。

在另一实施例中，该像素结构适用于一3D液晶面板。

依据本发明的又一个方面，提供了一种可改善Moiré条纹的像素检测方法，包括以下步骤：

a)检测藉由像素结构中的棱镜所看到的多个遮黑区；

b)计算所述多个遮黑区中的位置种类数目P以及所述多个遮黑区中位置种类之间的差异数目N；

c)根据上述位置种类数目P和差异数目N，调整所述像素结构的遮黑区位置；

d)重复上述步骤a)～c)，直至Moiré条纹达到液晶面板的预设规格。

在一实施例中，于上述步骤a之前，该像素检测方法还包括：将分别位于数据线两侧的一遮黑区域和另一遮黑区域在水平方向上交错排列。

在一实施例中，位置种类数目P和差异数目N越小，Moiré条纹越轻微。较佳地，该位置种类数目P小于或等于5。

采用本发明的可改善Moiré条纹的像素结构及像素检测方法，将像素的第一遮黑区域和第二遮黑区域分别设置于数据线的两侧且在水平方向上交错排列，藉由该交错排列的两个遮黑区域来彻底消除Moiré条纹，提升面板的性能和用户的视觉体验。

附图说明

读者在参照附图阅读了本发明的具体实施方式以后，将会更清楚地了解本发明的各个方面。其中，

图1示出依据本发明的一具体实施方式，在液晶面板中可改善Moiré条纹的像素结构示意图；以及

图2示出依据本发明的另一实施方式，在液晶面板中可改善Moiré条纹的像素检测方法的流程图。

具体实施方式

为了使本申请所揭示的技术内容更加详尽与完备，可参照附图以及本发明的下述各种具体实施例，附图中相同的标记代表相同或相似的组件。然而，本领域的普通技术人员应当理解，下文中所提供的实施例并非用来限制本发明所涵盖的范围。此外，附图仅仅用于示意性地加以说明，并未依照其原尺寸进行绘制。