[发明专利]液晶面板制造方法及装置有效
申请号: | 201210054825.2 | 申请日: | 2012-03-02 |
公开(公告)号: | CN102566130A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 陈政鸿 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/1333 | 分类号: | G02F1/1333;G02F1/13;G02F1/1337 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 何青瓦;丁建春 |
地址: | 518000 广东省深圳市光明新区公*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 液晶面板 制造 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域,具体涉及一种液晶面板制造方法及装置。
背景技术
现有技术中,在制作液晶面板特别是PSVA(Polymer Stabilize Vertical Align,聚合物稳定垂直对齐)模式的液晶面板时,采用的方法一般包括:
1)在ODF(液晶滴下)之后,对基板进行Edge cut(边缘切割);
2)通过加热或UV(照射紫外光)使该基板的液晶的单体分子(Monomer)聚合而形成预倾角,即对液晶分子进行配向;
3)接着对该基板进行Macro Inspection(巨观检查),再经过Chip Cut(面板切割)将该基板切割为多个面板,然后POL(贴附偏光片)并进行Inspection(点灯测试),若点灯测试时发现缺陷,利用对应的修复方式进行面板的Repair(修复)。
本申请的发明人在长期研发中发现,通常情况下,面板的缺陷譬如信号线的断路或不同信号线之间短路,在制造PSVA模式的液晶面板的工艺流程之前就已经存在;在经过加热或照射紫外光之后,这些缺陷将以液晶分子的预倾角的方式记忆在面板中,即使通过修复动作也无法完全修复,即修复成功率基本为零。
发明内容
本发明主要解决现有技术中由于面板的缺陷以液晶分子的预倾角的方式记忆在面板中,导致无法完全修复的技术问题,是提供一种液晶面板制造方法及装置。
为解决上述技术问题,本发明采用的一个技术方案是:提供一种液晶面板制造方法,该方法包括步骤:对基板进行边缘切割以露出信号焊盘;将检查信号输入到该信号焊盘以进行检查,其中若检出缺陷即对该缺陷进行修复;在进行检查后或修复后,通过配向使该基板的液晶的单体分子聚合以形成预倾角。
其中,在该将检查信号输入到该信号焊盘以进行检查,其中若检出缺陷即对该缺陷进行修复的步骤包括:将检查信号输入到该信号焊盘,并将该基板置于光箱上进行巨观检查;判断是否检出缺陷,若检出缺陷即对该缺陷进行修复,若未检出缺陷则通过配向使该基板的液晶的单体分子聚合以形成预倾角。
其中,在该在进行巨观检查后或修复后,通过配向使该基板的液晶的单体分子聚合以形成预倾角的步骤之后,还包括:通过自动光学检测,检查出液晶中的未聚合单体分子;在不加电压情况下对该未聚合单体分子进行配向,使其形成预倾角。
其中,在该在不加电压情况下对该未聚合单体分子进行配向,使其形成预倾角的步骤之后,还包括:对该基板进行面板切割以形成多个面板;贴附偏光片到该多个面板并进行点灯测试;确定该多个面板未存在缺陷之后,分别对该多个面板进行激光切割。
其中,在该贴附偏光片到该多个面板并进行点灯测试的步骤之后还包括:若点灯测试时发现有弱线或是画面异常的缺陷时,通过对应的修复方式进行面板修复。
其中,该通过配向使基板的液晶的单体分子聚合以形成预倾角的步骤包括:通过加热或照射紫外光的方式进行配向,使基板的液晶的单体分子聚合以形成预倾角。
其中,在该对基板进行边缘切割以露出信号焊盘的步骤之前,还包括:在该基板上形成配向层;在配向层上注入液晶。
为解决上述技术问题,本发明采用的另一个技术方案是:提供一种液晶面板制造装置,包括边缘切割机构、检查机构、修复机构和第一配向机构。该边缘切割机构用于对基板进行边缘切割以露出信号焊盘;该检查机构用于将检查信号输入到经该边缘切割机构得到的该信号焊盘以进行检查;该修复机构用于若该检查机构检出缺陷,对该缺陷进行修复;该第一配向机构用于对经过该检查机构未检出缺陷或检出缺陷但经过该修复机构修复的该基板进行配向,使得该基板的液晶的单体分子聚合以形成预倾角。
其中,该液晶面板制造装置还包括自动光学检测机构和第二配向机构。该自动光学检测机构检查经过该第一配向机构进行配向的液晶中的未聚合单体分子;该第二配向机构用于在不加电压情况下对该自动光学检测机构检查到的未聚合单体分子进行配向,使其形成预倾角。
其中,该液晶面板制造装置还包括面板切割机构、贴附机构、测试机构和激光切割机构。该面板切割机构用于对经过该第二配向机构配向的该基板进行切割以形成多个面板;该贴附机构用于贴附偏光片到该面板切割机构切割出的该多个面板;该测试机构用于对经过该贴附机构贴附了偏光片的该多个面板进行点灯测试;该激光切割机构用于在经过该测试机构测试后确定该多个面板未存在缺陷后,分别进行激光切割。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电技术有限公司,未经深圳市华星光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210054825.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。