[发明专利]一种液晶面板的线缺陷修复方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种液晶面板的线缺陷修复方法。

背景技术

为降低LCD(液晶显示器)的背光成本，液晶面板的阵列基板侧的数据线与公共线重叠的设计成为像素高开口率的主流设计，但这样的设计增加了数据线与公共线短路的风险，且两者短路的精确位置很难确定。

发明内容

发明目的：针对上述现有技术存在的问题和不足，本发明的目的是提供一种液晶面板的线缺陷修复方法，能够精确确定数据线与公共线短路的位置。

技术方案：为实现上述发明目的，本发明采用的技术方案为一种液晶面板的线缺陷修复方法，液晶面板的阵列基板侧的数据线与公共线重叠，在所述液晶面板点灯检测的过程中，数据线信号为直流黑画面电压，扫描线信号为依次打开的高电平脉冲电压，公共线信号在扫描线信号为高电平的至少部分时间为低电平脉冲电压，公共线信号在扫描线信号为低电平的时间为高电平电压；在数据线与公共线短路的位置出现亮线，且短路的位置为最亮，则该最亮处即为数据线与公共线短路的位置；最后断开短路处的公共线信号。

所述公共线的横向部分与纵向部分的相交处，位于相应的数据线的两侧可设有凹槽。

有益效果：本发明利用特殊的检测信号，精确确定阵列基板侧的数据线与公共线的短路位置，并能在不引起其它故障的前提下进行修复。

附图说明

图1为现有高开口设计的像素平面示意图；

图2为图1中A-A’的剖视示意图；

图3为本发明的信号时序示意图；

图4为本发明的检测结果示意图；

图5为本发明中像素的局部平面结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本发明，应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围，在阅读了本发明之后，本领域技术人员对本发明的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。

如图1所示，数据线与公共线完全重叠，可降低彩膜基板(Color Filter，CF)侧黑色矩阵(Black Matrix，BM)的宽度，以提高开口率。如图2所示，由下往上依次为公共线、第一绝缘层、数据线、第二绝缘层和像素电极，从图2中可以看出，由于数据线与公共线完全重叠，只要绝缘层稍有破裂，数据线与公共线即可能发生短路，风险增加，且短路的位置很难确定。

如图3所示，一个帧(Frame)分为ON/OFF期。在ON期扫描线信号(即Gate信号，图中为G1、G2、G3、……、G12)依次打开，分为12个区域(也可以分为其它数量的区域)，相邻的两个扫描线脉冲(Gate Pulse)间设置输出使能(OE，Output Enable)时间；另外，CF侧的公共电极电压Vcom＝0V；提供给数据线的源极(Source)电压为5V，输出黑画面；阵列基板侧的公共线电压Cs为5V/0V方波，且公共线的脉冲时序与扫描线的脉冲时序相对应，具体为，每根扫描线的高电平脉冲电压的持续时间为16us，当扫描线为高电平时，公共线在第9us从高电平拉到低电平，然后，在扫描线由高电平变为低电平时，公共线同步拉到高电平。即本实施例中，公共线低电平脉冲的时间为扫描线高电平脉冲时间的一半，实际上公共线低电平脉冲的时间具体为扫描线高电平脉冲时间的几分之一，这里并不作严格限定，按实际显示效果调节。

在进行如前一段所述的点灯检测过程中，如图4所示，正常的液晶面板显示黑画面，但数据线与公共线短路的位置会出现亮线，且短路位置为最亮，往上下两侧逐渐变暗，可用人眼观察哪个点最亮，也可在液晶面板点亮的情况下，用显微镜查看，判断是哪个点最亮，最亮的点即为短路位置。分析原因如下：在数据线与公共线短路(S-Cs short)位置的上方区域，由于Source电压为5V，且受Cs电压影响小(因为数据线为稳定的直流电压，不易被Cs脉冲电压拉动，且Cs电压绝大部分时间与Source电压同样为5V)，所以为黑画面；在S-Cs short位置的下方区域，Source电压受Cs影响也不大，所以也接近于黑画面；在S-Cs short位置的区域，Source电压受Cs电压影响会被拉到白画面，但由于Source存在电阻电容延迟，所以在short点的像素为最亮，离short点越远的像素越暗，呈渐进式，因此可判断最亮的那个像素点发生了S-Cs short。在知道了发生短路的数据线和公共线的具体位置，那么在修复时，用激光切断短路处位于数据线两侧的公共线，使得短路处的公共线本身没有信号(由于公共线的信号从公共线横向部分的两端输入(图中未示出)，因此须切断数据线两侧的公共线)即可，如图5所示，公共线的横向部分与纵向部分的相交处，位于相应的数据线的两侧设有凹槽，这样在用激光切断的时候，就不会切到像素电极，避免了因修复公共线与数据线的短路而导致公共线与像素电极短路的问题(图5中虚线所示即为激光切断的位置)。