[发明专利]一种测量金属钚氧化百分比的方法无效
申请号: | 201210016487.3 | 申请日: | 2012-01-18 |
公开(公告)号: | CN102590251A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 程金星;刘军辉;王庆波;朱文凯;王新赤;高缨 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军第二炮兵装备研究院第六研究所 |
主分类号: | G01N23/22 | 分类号: | G01N23/22 |
代理公司: | 北京尚德技研知识产权代理事务所(普通合伙) 11378 | 代理人: | 严勇刚 |
地址: | 100085 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 金属 氧化 百分比 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种测量金属钚氧化程度的方法,尤其是测量金属钚中究竟有多少重量百分比的氧化钚的方法。
背景技术
钚是一种重要的金属元素,其多种同位素在军事、经济等领域有十分重要的应用,裸露的金属钚在室温下会与空气中的氧气发生反应形成钚的氧化物,其化学反应为:
Pu(s)+O2(g)→PuO2(s)+ΔH (ΔH为-1056kJ/mol)
由于金属钚在空气中易于氧化的特性,即使采取了表面镀层(镍-铜-镍镀层)的技术工艺,也不能绝对保证金属钚不被氧化。因此,对钚氧化程度的判别和确定就变得重要。
氧有多种同位素,但稳定的同位素只有三种:16O,17O,18O,其在自然界的丰度分别为99.757%,0.038%,0.205%。钚材料中的氧受到α粒子和中子的照射,将发生如下物理过程:
17O(n,n′γ)17O(871keV);
17O(α,α′γ)17O(871keV);
18O(n,n′γ)18O(1982.2keV);
18O(α,α′γ)18O(1982.2keV);
17O(α,n)20Ne*(1634keV);或
18O(α,n)21Ne*(350.7,1396,2438,2788.5,2794keV)
这些物理过程对于16O来说,由于16O的激发能比较高,所以钚材料中16O被活化的几率可忽略。
17O的871keV和18O的1982.2keV的特征γ射线在受到α粒子激发时的反应几率分别为1.24/106和0.44/106,而在中子激发下分别为622/106和3100/106,由于在自然放射条件下,金属钚材料中α粒子的数量大约是中子数量的108倍,因此氧化钚中的871keV的特征γ射线主要是受到α粒子激发产生的,即:17O(α,α′γ)17O(871keV)。
在《核技术》杂志2006年12月第29卷第12期中的文章“氧化钚属性测量技术研究”中,作者给出了提出了通过测量871keV特征γ射线来对金属钚是否被氧化进行定性的研究和讨论。
但是,上述文章却忽视了如下的问题,即,由于14N(α,p)17O(871keV)反应也能产生871keV的特征γ射线,而且在金属钚材料的生产过程中,不可避免的会引入N元素,14N的丰度还会较高,因此在测量的γ射线中,14N(α,p)17O(871keV)反应产生的γ射线还要比17O(α,α′γ)17O(871keV)更高,因此直接利用17O的871keV特征γ射线判定氧化钚的存在容易受到14N的干扰。
例如,在文章编号为“Nuclear Instruments and Methods in Physics ResearchA 474(2001)285-293”的文章“The 871keV gamma ray from 17O and theidentification of plutonium oxide”以及文章编号为“Nuclear Instruments andMethods 193(1982)383-385”的文章“THE 870.8keV GAMMA RAY FORMPuO2”中经过分析后认为,仅靠871keV的特征γ射线证明氧化钚的存在着较大误差,直接利用17O的871keV特征γ射线也很难对氧化钚的存在进行定量分析。
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