[发明专利]制作立体神经微电极的方法无效
申请号: | 201110409793.9 | 申请日: | 2011-12-09 |
公开(公告)号: | CN102512151A | 公开(公告)日: | 2012-06-27 |
发明(设计)人: | 裴为华;赵辉;王宇;陈三元;汤戎昱;陈远方;陈弘达 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | A61B5/04 | 分类号: | A61B5/04;B81C1/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 制作 立体 神经 微电极 方法 | ||
1.一种制作立体神经微电极的方法,包括以下步骤:
步骤1:取一衬底;
步骤2:在衬底正反面生长掩膜,并做对称图案化处理,得到微电极阵列的原始形状;
步骤3:从衬底正反面同时刻蚀,将多余部分去除;
步骤4:去除剩余的掩膜;
步骤5:对上述步骤得到的结构,采用腐蚀的方法进行光滑和变尖处理,得到微电极阵列,该微电极阵列包括多个电极,该电极的尾端相连接;
步骤6:在微电极阵列的表面生长金属层;
步骤7:在微电极阵列表面的金属层上再生长绝缘层,并将连接点和记录点的绝缘层刻蚀掉。
2.根据权利要求1所述的制作立体神经微电极的方法,其中衬底的厚度为50至500微米。
3.根据权利要求1所述的制作立体神经微电极的方法,其中衬底的材料为硅、金属、碳化硅、氧化硅或陶瓷。
4.根据权利要求1所述的制作立体神经微电极的方法,其中掩膜的材料为氧化硅、氮化硅或金属。
5.根据权利要求1所述的制作立体神经微电极的方法,其中该微电极阵列上的多个电极的数量为2-10。
6.根据权利要求1所述的制作立体神经微电极的方法,其中微电极阵列中电极的长度为2毫米至2厘米。
7.根据权利要求1所述的制作立体神经微电极的方法,其中刻蚀是采用湿法刻蚀、干法刻蚀、机械切割或电火花放电的方法。
8.根据权利要求1所述的制作立体神经微电极的方法,其中光滑处理是采用化学湿法腐蚀或电化学腐蚀方法;变尖处理是采用腐蚀液静置法或针尖蘸腐蚀液法。
9.根据权利要求1所述的制作立体神经微电极的方法,其中金属层的材料为金或铂,或金/钛,金/铬;生长金属层是采用化学电镀、热蒸镀、化学气相沉积或磁控溅射的方法。
10.根据权利要求1所述的制作立体神经微电极的方法,其中绝缘层的材料为氧化硅、氮化硅、聚对二甲苯或聚酰亚胺,或这些材料构成的复合膜。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110409793.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种腔道治疗器
- 下一篇:一种高磷硫菱铁矿资源回收利用的方法