[发明专利]检查保护环完整性的方法

说明书

技术领域

本发明涉及半导体集成电路版图设计软件工具中的版图验证领域，特别是涉及一种检查版图设计验证中斜线挡住规则的方法。

背景技术

ESD(静电放电)和Latch-up(闩锁效应)，均是集成电路产品可靠性评估的重要项目。据统计，芯片在使用中由此导致失效的比例占所有失效的40％以上。

在版图设计过程中，为了防止静电放电和闩锁效应引起内部电路的失效，需要在版图中加入相应的保护环(Guard Ring)图形。

请参阅图1a～图1c，涉及保护环完整性检查的版图设计规则，其版图图形可大致分为三大类：一类是输入输出区域的缓冲器件(Buffer器件)10，另一类是内部器件(Internal器件)20，保护环30用于将前两类器件隔离开来。保护环30的版图图形或者是多条线段组成的环状图形，一般为矩形，如图1a所示；或者是一条或多条线段，如图1b、图1c所示。

保护环30需要将缓冲器件10和内部器件20完全隔开，否则就需要报错。目前业界采用的检查保护环完整性的方法是：利用通用的版图验证工具(例如Mentor公司的Calibre DRC工具)检查缓冲器件10和内部器件20的正对面之间是否有保护环30进行隔离。这种检查方法并不能找到所有的错误。如图1d所示，当缓冲器件10与内部器件20没有正面相对、而是斜向面对时，该方法不能有效检查二者之间在斜线方向是否有保护环30隔开。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种检查保护环完整性的方法，可用于检查斜向面对的缓冲器件与内部器件之间是否有保护环进行隔离，从而在任何情况下均可得到准确的关于保护环是否完整的结果。

为解决上述技术问题，本发明检查保护环完整性的方法包括如下步骤：

第1步，检查缓冲器件和内部器件的正对面之间是否有保护环进行隔离，当发现有缓冲器件和内部器件的正对面之间没有保护环进行隔离，则报警；

第2步，在版图中寻找所有的保护环，并记录每个保护环的图形坐标；

第3步，在版图中寻找出要求隔离的缓冲器件和内部器件，将每对缓冲器件和内部器件的各个顶点连线，然后过滤掉水平线段和垂直线段这些正面相对的线段，剩余的线段都是斜向相对的线段，并记录这些连线的图形坐标；

第4步，判断每条连线与保护环之间是否具有交点；

如果一条连线与任一保护环具有交点，则删除该条连线；

如果一条连线与所有保护环都没有交点，则将该条连线作为结果输出，并报警。

本发明用于检查版图设计中保护环的图形是否完整，既可用于缓冲器件和内部器件正面相对的情况(如图1a、图1b、图1c所示)，也可用于缓冲器件和内部器件斜向面对的情况(如图1d所示)。最终可确保检查结果不遗漏任何一个错误。

附图说明

图1a～图1e是版图中缓冲器件、内部器件和保护环的位置示意图；

图2是本发明的一个实施例的流程图。

图中附图标记说明：

10为缓冲器件；20为内部器件；30为保护环。

具体实施方式

请参阅图2，这是本发明检查保护环完整性的方法的一个实施例，包括如下步骤：

第1步，检查缓冲器件和内部器件的正对面之间是否有保护环进行隔离。当发现缓冲器件和内部器件的正对面之间没有保护环进行隔离，则进行报警。

该步骤的作用是：如果发现有未隔离的正面相对的缓冲器件和内部器件，则对保护环的完整性给出报警。在后续的第3步中，将过滤掉水平线段和垂直线段这些正对边，保留斜线方向的线段，从而在第3、4步中不再重复检查正面相对的图形关系。

第2步，在版图中寻找所有的保护环，并记录每个保护环的图形坐标。如何在版图中寻找出保护环的图形是一种现有技术，在此不再赘述。保护环的图形通常为矩形或线段。如果保护环的图形为矩形，则记录四个顶点坐标、或三个顶点坐标、或呈对角线的两个顶点坐标。如果保护环的图形为线段，则记录每条线段两个端点的坐标。这样便可根据坐标唯一地定位保护环的图形在版图上的位置。

第3步，在版图中寻找出要求隔离的缓冲器件和内部器件，将每对缓冲器件和内部器件的各个顶点连线，然后过滤掉水平线段和垂直线段这些正面相对的线段，剩余的线段都是斜向相对的线段，并记录这些斜向相对的连线的图形坐标。