[发明专利]一种原料卷与卷筒对中的方法及系统

权利要求书

1.一种原料卷与卷筒对中的方法，其特征在于，用于包括原料卷、原料卷承载装置、卷筒、测距装置、处理装置、第一支架及第二支架的系统；其中，

所述原料卷承载装置，用于做与水平面垂直的直线往复运动；

所述原料卷，置于所述原料卷承载装置上，所述原料卷的轴线水平，在所述原料卷承载装置的带动下做所述往复运动；

所述卷筒，与所述原料卷内径相匹配，固定在所述第一支架上，所述卷筒的轴线与所述原料卷的轴线平行，且所述卷筒的轴线与所述原料卷的轴线所构成的第一平面与水平面垂直；

所述测距装置，固定在所述第二支架上，用于测量自身到所述原料卷圆柱表面的距离值，所述测距装置的感应端的中心线与所述卷筒的轴线等高、且垂直于所述卷筒的轴线；

所述处理装置与所述原料卷承载装置、测距装置电连接；

所述方法包括：

所述处理装置驱动所述原料卷承载装置带动所述原料卷做所述往复运动；

在所述原料卷做所述往复运动过程中，驱动所述测距装置多次测量自身到所述原料卷圆柱表面的距离值；

采集所述测距装置测量的多个距离值，获取最小距离值；

发送定位信号，以使所述原料卷承载装置根据接收到的定位信号定位到所述最小距离值所对应的位置，以使所述原料卷与所述卷筒对中。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括以下步骤：

根据公式Φ＝2×(L1-d_min)计算得到所述原料卷的直径Φ，其中L1为所述卷筒的轴线到所述测距装置的距离，d_min为所述最小距离值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述驱动所述测距装置多次测量自身到所述原料卷圆柱表面的距离值，具体为：驱动所述测距装置连续测重。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述驱动所述测距装置多次测量自身到所述原料卷圆柱表面的距离值，具体为：驱动所述测距装置定时测量。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述原料卷具体包括冷轧卷。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测距装置具体包括超声波传感器或激光传感器。

7.一种原料卷与卷筒对中系统，其特征在于，包括原料卷、原料卷承载装置、卷筒、测距装置、处理装置、第一支架及第二支架；其中，

所述原料卷：其轴线水平，置于所述原料卷承载装置上，并在所述原料卷承载装置的带动下做与水平面垂直的直线往复运动；

所述卷筒：与所述原料卷内径相匹配；固定在所述第一支架上；所述卷筒的轴线与所述原料卷的轴线平行，且所述卷筒的轴线与所述原料卷的轴线所构成的第一平面与水平面垂直；

所述测距装置：固定在所述第二支架上；用于在所述原料卷做所述往复运动过程中多次测量自身到所述原料卷圆柱表面的距离值；所述测距装置的感应端的中心线与所述卷筒的轴线等高，且垂直于所述卷筒的轴线；

所述处理装置：与所述原料卷承载装置、测距装置电连接；用于驱动所述原料卷承载装置带动所述原料卷做所述往复运动；在所述原料卷做所述往复运动过程中，用于驱动所述测距装置多次测量自身到所述原料卷圆柱表面的距离值；用于采集所述测距装置测量的多个距离值，获取最小距离值；根据所述最小距离值向所述原料卷承载装置发送定位信号，以使所述原料卷承载装置定位到与所述最小距离值所对应的位置；

所述原料卷承载装置：用于做与水平面垂直的直线往复运动；接收所述处理装置发送的定位信号，并根据所述定位信号定位到与所述最小距离值所对应的位置，以使所述原料卷与所述卷筒对中；

所述第一支架：用于固定所述卷筒；

所述第二支架：用于固定所述测距装置。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，还包括：计算装置，用于根据公式Φ＝2×(L1-d_min)计算得到所述原料卷的直径Φ，其中L1为所述卷筒的轴线到所述测距装置的距离，d_min为所述最小距离值。

9.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述原料卷具体包括冷轧卷。

10.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述测距装置具体包括超声波传感器或激光传感器。