[发明专利]一种盲检校验方法以及相关装置有效
申请号: | 201110238064.1 | 申请日: | 2011-08-18 |
公开(公告)号: | CN102957494A | 公开(公告)日: | 2013-03-06 |
发明(设计)人: | 矫渊培 | 申请(专利权)人: | 上海华为技术有限公司 |
主分类号: | H04L1/00 | 分类号: | H04L1/00 |
代理公司: | 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 | 代理人: | 彭愿洁;李文红 |
地址: | 200121 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 校验 方法 以及 相关 装置 | ||
技术领域
本发明涉及通信领域,尤其涉及一种盲检校验方法以及相关装置。
背景技术
在长期演进(LTE,Long Term Evolution)协议下的下行物理控制信道(PDCCH,Physical Downlink Control Channel)中进行下行控制信息(DCI,Downlink Control Information)的传输,由于用户设备(UE,User Equipment)一般不知道当前传送的DCI是什么类型的信息,也不知道自己需要的信息在哪个位置。但是UE知道自己当前在期待什么信息,例如在空闲(Idle)状态的UE期待的信息是paging,SI;在发起随机访问(Random Access)后,期待的是RACH Response;在有上行数据等待发送的时,期待UL Grant等。对于不同的期望信息,UE用相应的无线网络临时标识(RNTI,radio network temporary identifier)去和控制信道单元(CCE,Control Channel Element)信息(承载DCI的基本单元是CCE)做循环冗余校验码(CRC,Cyclic Redundancy Check)校验,如果CRC校验成功,那么UE就知道这个信息是自己需要的,也知道相应的DCI类型,从而进一步解出DCI内容,这就是盲检的过程。
在下行控制信息的发送端确定好相关数据之后,对下行控制信息依次进行编码,CRC校验,RNTI加掩以及速率匹配等处理,将进行上述处理后的下行控制信息映射到空口资源上进行发送。
在现有技术中,UE端若需要接收上述下行控制信息,则需要对该下行控制信息进行盲检,即在计算得到的搜索空间上搜索该下行控制信息所在的位置,对该位置的下行控制信息进行译码,并依次对译码后的下行控制信息进行RNTI解掩和CRC校验,若经CRC校验后,该下行控制消息的值全为零,则UE端的盲检成功。
现有技术在检验盲检结果时是按发送端的逆操作进行检验的,即先对译码后的下行控制信息进行RNTI解掩,然后对每次RNTI解掩的结果进行一次CRC校验,由于UE端需要对每个RNTI值都进行一次解掩,若需要对A次盲检结果进行RNTI解掩,后续则需要进行A×B(B为RNTI的个数)次CRC校验;显然,随着盲检次数以及RNTI个数的增加,CRC校验次数也会陡增,大大增加了处理时延。
发明内容
本发明实施例提供了一种盲检校验方法以及相关装置,用于快速地完成下行控制信息的盲检校验。
本发明提供的盲检校验方法,包括:获取译码后的N位下行控制信息;对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验,得到M位CRC校验结果,所述M为CRC校验位数,所述M为大于1的整数,所述N大于M;对所述M位CRC校验结果进行无线网络临时标识RNTI加掩,得到M位RNTI加掩结果;将所述M位RNTI加掩结果与所述N位下行控制信息中的最后M位进行比对,若相同,则盲检成功,若不相同,则盲检失败。
本发明提供的盲检校验方法,包括:获取译码后的N位下行控制信息;对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验,得到M位CRC校验结果,所述M为CRC校验位数,所述M大于1的整数,所述N大于M;对所述N位下行控制信息中的最后M位进行RNTI解掩,得到M位RNTI解掩结果;将所述M位RNTI解掩结果与所述M位CRC校验结果进行比对,若相同,则盲检成功,若不相同,则盲检失败。
本发明提供的盲检校验装置,包括:获取单元,用于获取译码后的N位下行控制信息;校验单元,用于对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验,得到M位CRC校验结果,所述M为CRC校验位数,所述M为大于1的整数,所述N大于M;加掩单元,用于对所述M位CRC校验结果进行无线网络临时标识RNTI加掩,得到M位RNTI加掩结果;对比单元,用于将所述M位RNTI加掩结果与所述N位下行控制信息中的最后M位进行比对,若相同,则盲检成功,若不相同,则盲检失败。
本发明提供的盲检校验装置,包括:获取单元,用于获取译码后的N位下行控制信息;校验单元,用于对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验,得到M位CRC校验结果,所述M为CRC校验位数,所述M为大于1的整数,所述N大于M;解掩单元,用于对所述N位下行控制信息中的最后M位进行RNTI解掩,得到M位RNTI解掩结果;盲检判断单元,用于将所述M位RNTI解掩结果与所述M位CRC校验结果进行比对,若相同,则盲检成功,若不相同,则盲检失败。
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