专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]对准标记的检测方法以及装置-CN200910212112.2有效
  • 筱山理惠 - 优志旺电机株式会社
  • 2009-11-10 - 2010-06-16 - G03F9/00
  • 其解决手段为使用对准显微镜(10),进行工件(W)的表面影像显像,将作为工件标记(WAM)应登记的呈现方式(形状或明暗或色调)不同的多个图形,作为工件标记WAM1~n登记到控制部(11)的存储部(11b检测工件标记时,使用该工件标记WAM1~n,进行检索区域内图形的检索,以比较·评估部(11c)比较所登记的工件标记WAM1~n与检索区域内的图形求得一致度的点数,点数例如超过预定值时,判定该图形为工件(W)上的工件标记(WAM)。对位控制部(11e)使用该工件标记(WAM)进行掩模(M)与工件(W)的对位。
  • 对准标记检测方法以及装置
  • [发明专利]曝光装置-CN200910212111.8有效
  • 佐藤善彦;井上丰治 - 优志旺电机株式会社
  • 2009-11-10 - 2010-06-16 - G03F7/20
  • 一方面,在对准平台(AS)上载置工件(W),以工件标记(WAM)所形成的间隔单步进给平台(AS)或准直显微镜(4),利用准直显微镜(4)以排列的方式检测工件标记(WAM),存储其位置坐标。顺便,工件搬运机构(23)将工件(W)搬运至曝光平台(WS),进行对位以使光罩标记(MAM)与工件标记(WAM)的位置一致,一面移动曝光平台(WS),一面依次曝光工件(W)上的各曝光区域。
  • 曝光装置
  • [发明专利]图像处理器、图像处理方法、数码相机和成像装置-CN200880100694.9有效
  • 渡边义一 - 株式会社理光
  • 2008-07-23 - 2010-06-30 - G06T5/20
  • 一种图像处理器(24),其包括:图像处理部件(04),其对给定图像数据执行模糊处理。所述图像处理部件(04)配备有:图像数据缩小部分(04A)、空间滤波处理部分(04B)和图像数据扩大部分(04C)。图像数据缩小部分(04A)以预定缩小率来缩小所述给定图像数据,以便生成缩小后的图像数据。空间滤波处理部分(04B)对所述图像数据缩小部分(04A)所缩小的缩小后的图像数据执行空间滤波处理,以便生成经处理的图像数据。图像数据扩大部分(04C)以所述缩小率倒数的扩大率,将所述空间滤波处理部分(04B)所处理的经处理的图像数据进行扩大。
  • 图像处理器处理方法数码相机成像装置
  • [发明专利]一种着色性好的陶瓷色料配方及其制备方法-CN202010391452.2在审
  • 章文义;曾力 - 佛山市利德嘉陶瓷制釉有限公司
  • 2020-05-11 - 2020-08-18 - C09C1/00
  • 本发明涉及陶瓷色料技术领域,且公开了一种着色性好的陶瓷色料的制备方法,包括以下步骤,V‑ZrSi04青陶瓷色料制备:在有矿化剂条件下,V‑ZrSi04青烧成温度850摄氏度以上,一千摄氏度以下,氧化气氛,烧成时间三小时,Pr‑ZrSi04黄陶瓷色料制备:采用Pr‑ZrSi04黄属稀土类色料,经精细筛选后进行烧制,Fe‑ZrSi04红陶瓷色料制备:在Fe‑ZrSi04红陶瓷色料合成过程中,Fe‑ZrSi04红陶瓷色料的色调与Zr02和Zi02配料比有关,合成过程中,若原料含有一定量CaO及其杂质时,对制备Fe‑ZrSi04红陶瓷色料有利,在高温阶段,CaO、Si02及矿化剂中的Na+离子易形成低共熔的液相
  • 一种着色陶瓷色料配方及其制备方法

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