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- [发明专利]半导体装置-CN201310628016.2有效
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伊藤一幸;城田博史
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瑞萨电子株式会社
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2013-11-29
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2017-11-17
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G01R31/28
- 故障预先检测电路12包括用于使与设置在触发器FF0的后续级中的触发器FF1的数据输入端子并行输入的输入数据延迟的延迟电路DL、接收延迟电路DL的输出的触发器FFT、以及将触发器FF1的输出与触发器FFT在用于测试故障预先检测电路12的操作的操作测试模式中将测试数据tv1和测试数据tv2输入到故障预先检测电路12。测试数据tv2被输入到延迟电路DL。在操作测试模式中比较器CMP将测试数据tv1和触发器FFT的输出进行比较。
- 半导体装置
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