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[实用新型]一种兼容LPDDR5和LPDDR4X的PCB封装板-CN202120836540.9有效
发明人：曾国原 -专利权人：重庆创通联达智能技术有限公司
申请日： 2021-04-22 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： H05K1/02 文献下载
摘要：本申请公开了一种兼容LPDDR5和LPDDR4X的PCB封装板。该PCB封装板适用高通8520芯片，所述PCB封装板包括：用于封装LPDDR5的第一封装部和用于封装LPDDR4X的第二封装部，所述第一封装部的部分区域和第二封装部重合；所述PCB封装板上设有用于指示所述第二封装部的定位标识本申请所公开的技术方案，能够解决现有高通8520芯片无法有效兼容LPDDR5和LPDDR4X的PCB的问题。
一种兼容 lpddr5 lpddr4x pcb 封装

[实用新型]一种用于兼容LPDDR4X的供电回路及电子设备-CN202222706169.1有效
发明人：肖国良;汪淼 -专利权人：南京微智新科技有限公司
申请日： 2022-10-13 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： H02M1/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种用于兼容LPDDR4X的供电回路及电子设备，包括：时序控制电路、分压电路、电源输入回路、LDO芯片以及电源输出回路；所述时序控制电路的控制端用于连接中央处理器，所述时序控制电路的输入端用于连接电源芯片的反馈端电气连接，所述电源通过所述电源输入回路与所述LDO芯片的输入端电气连接，所述LDO芯片的输出端与所述电源输出回路的输入端电气连接，所述电源输出回路的输出端用于连接配置在GeminiLake平台上的LPDDR4X内存的电源端；解决了现有GeminiLake平台无法兼容LPDDR4X内存的问题。
一种用于兼容 lpddr4x 供电回路电子设备

[发明专利]LPDDR芯片测试装置-CN202011464576.5在审
发明人：孙成思;孙日欣;刘冲 -专利权人：深圳佰维存储科技股份有限公司
申请日： 2020-12-11 - 公布日： 2021-03-16 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明公开一种LPDDR芯片测试装置，该LPDDR芯片测试装置包括测试台、设于所述测试台内的测试主板和设于所述测试台上的测试座，所述测试主板位于所述测试座的内腔中，所述测试台上还设有用于将测试数据输出至显示器的显示器接口本发明实施例所提出的LPDDR芯片测试装置可对不同型号的LPDDR进行测试，譬如LPDDR4和LPDDR4X，具体通过测试按钮切换测试电压即可，同时还可兼容EMCP、UMCP中LPDDR的测试。
lpddr 芯片测试装置

[实用新型]LPDDR芯片测试装置-CN202022989706.9有效
发明人：孙成思;孙日欣;刘冲 -专利权人：深圳佰维存储科技股份有限公司
申请日： 2020-12-11 - 公布日： 2021-08-27 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本实用新型公开一种LPDDR芯片测试装置，该LPDDR芯片测试装置包括测试台、设于所述测试台内的测试主板和设于所述测试台上的测试座，所述测试主板位于所述测试座的内腔中，所述测试台上还设有用于将测试数据输出至显示器的显示器接口本实用新型实施例所提出的LPDDR芯片测试装置可对不同型号的LPDDR进行测试，譬如LPDDR4和LPDDR4X，具体通过测试按钮切换测试电压即可，同时还可兼容EMCP、UMCP中LPDDR的测试。
lpddr 芯片测试装置

[实用新型]一种支持多路输出的超高清视频解码器-CN202320259274.7有效
发明人：林盈志;李浩 -专利权人：富视智通电子技术（济南）有限公司
申请日： 2023-02-20 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： H04N19/42 文献下载
摘要：POWER模块、RGMII LAN模块、PCIE LAN模块、PCIESATA模块、MIPI_CSI01_RX模块、MIPI_DPHY01_RX模块、MIPI_DPHY01_TX模块、USB2.0模块、LPDDR4X
一种支持输出超高视频解码器

[发明专利]一种测试LPDDR4颗粒的系统及方法-CN202310304651.9在审
发明人：谢登煌;卢浩;黄哲 -专利权人：深圳市晶存科技有限公司
申请日： 2023-03-14 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试LPDDR4颗粒的系统及方法，系统包括：双通道的SOC主控模块，用于向待测试的LPDDR4颗粒发送写入指令，通过DDR模块接收写入指令对应的响应信号，根据响应信号确定待测试的LPDDR4颗粒的测试结果；SOC主控模块的复位引脚和NC引脚分别与待测试的LPDDR4颗粒的复位引脚连接；待测试的LPDDR4颗粒为双通道或四通道的LPDDR4颗粒，且被配置为可180度旋转；DDR模块，用于与待测试的LPDDR4颗粒连接；电源模块，用于向SOC主控模块与DDR模块供电。本发明可以简单高效地测试双通道和四通道的LPDDR4颗粒，可广泛应用于芯片测试技术领域。
一种测试 lpddr4 颗粒系统方法

[外观设计]性能测试载板（LPDDR4 颗粒）-CN202330268347.4有效
发明人：林国智;戴洋洋 -专利权人：深圳市耀星微电子有限公司
申请日： 2023-05-09 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：性能测试载板（LPDDR4 颗粒）。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于LPDDR4颗粒性能测试时装载LPDDR4颗粒。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
性能测试 lpddr4 颗粒

[发明专利]上拉阻抗校准方法及装置、电子设备-CN202310202471.X在审
发明人：何飒;沈杰;朱海奇;黄怡仁 -专利权人：联芸科技（杭州）股份有限公司
申请日： 2023-02-23 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G11C29/50 文献下载
摘要：本申请公开了一种LPDDR4/NV‑LPDDR4的上拉阻抗校准方法及装置、电子设备、可读存储介质，本申请提供的方案包括：获取LPDDR4/NV‑LPDDR4的内存/控制器的上拉驱动模块接入的电源电压、所述上拉驱动模块输出的电压输出高电平
阻抗校准方法装置电子设备

[发明专利]一种LPDDR测试装置-CN202210657815.1在审
发明人：李创锋 -专利权人：深圳市金泰克半导体有限公司
申请日： 2022-06-10 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明涉及一种LPDDR测试装置，涉及半导体测试技术领域。所述LPDDR测试装置包括：测试单元、电路控制单元、主控单元；所述测试单元上设有多个LPDDR测试模块，所述电路控制单元以及所述主控单元均分别与多个所述LPDDR测试模块连接；所述电路控制单元包括多个供电模块，单个所述供电模块与单个所述LPDDR测试模块连接。通过将测试单元以及电路控制单元进行分组，将LPDDR颗粒能够分别根据分组分别放置到测试单元的多个LPDDR测试模块中，通过单个所述供电模块给单个所述LPDDR测试模块供电，那么当某一个供电模块出现问题无法供电时，其他的供电模块及其对应的LPDDR测试模块还可以继续进行测试工作，不影响整体的测试，保证对LPDDR的测试效率。
一种 lpddr 测试装置

[外观设计]性能测试电路板（LPDDR3颗粒）-CN202330213600.6有效
发明人：陈建光;林国智 -专利权人：深圳市耀星微电子有限公司
申请日： 2023-04-18 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： 14-99 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：性能测试电路板（LPDDR3颗粒）。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于LPDDR3颗粒性能测试时装载LPDDR3颗粒。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：仰视图。
性能测试电路板 lpddr3 颗粒

[发明专利]LPDDR芯片的降容测试方法、系统、设备以及存储介质-CN202310433004.8在审
发明人：刘孜 -专利权人：深圳市晶存科技有限公司
申请日： 2023-04-17 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种LPDDR芯片的降容测试方法、系统、设备以及存储介质，属于存储器技术领域。方法包括：从LPDDR芯片的两个通道中选择一个通道作为降容通道，确定降容通道的原输入端为LPDDR芯片的目标输入端，确定LPDDR芯片的原输出端为LPDDR芯片的目标输出端；通过终端向降容通道发送测试指令；通过预先获取的测试数据和读取的LPDDR芯片的存储数据进行对比，确定与测试数据不一致的存储数据的第一物理地址；对各第一物理地址进行解析得到通道信息值，并根据通道信息值对LPDDR芯片进行读、写以及比较操作，得到LPDDR芯片的测试结果，其中，测试结果用于表征LPDDR芯片为良品或为不良品。本申请能够对LPDDR芯片进行降容测试，提高了LPDDR芯片的利用率。
lpddr 芯片测试方法系统设备以及存储介质

[实用新型]一种LPDDR4芯片电流检测装置-CN201921546684.X有效
发明人：卢浩;谢登煌 -专利权人：深圳市晶存科技有限公司
申请日： 2019-09-17 - 公布日： 2020-07-14 - 主分类号： G01R19/25 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种LPDDR4芯片电流检测装置，包括：检测主控模块、电流检测模块、LPDDR4测试架、检测控制模块、电源模块、继电器模块、串口通信模块和上位机；所述检测主控模块分别与所述串口通信模块、所述检测控制模块、所述继电器模块和电流检测模块连接，所述检测控制模块、所述LPDDR4测试架和所述电流检测模块依次连接，所述电源模块通过所述继电器模块与所述LPDDR4测试架连接，所述上位机通过所述串口通信模块与所述检测主控模块连接
一种 lpddr4 芯片电流检测装置

[实用新型]LPDDR降容电路及具有该电路的装置-CN202121394089.6有效
发明人：谢登煌;宋文杰;刘孜 -专利权人：深圳市晶存科技有限公司
申请日： 2021-06-22 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： G11C11/413 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种LPDDR降容电路及具有其的装置，LPDDR降容电路包括SOC控制芯片、第一LPDDR芯片和第二LPDDR芯片；其中，SOC控制芯片、第一LPDDR芯片和第二LPDDR芯片均为32位的芯片，且都具有双通道；第二A通道的功能正常，第二B通道的功能异常；第三B通道的功能正常，第三A通道的功能异常；第一A通道与第二A通道连接，第一LPDDR芯片的16位数据线分别与SOC控制芯片的DQ0‑DQ15引脚一一对应连接；第一B通道与第三B通道连接，第二LPDDR芯片的16位数据线分别与SOC控制芯片的DQ16‑DQ31引脚一一对应连接。根据本实用新型的LPDDR降容电路，能够将一个只有A通道正常的LPDDR芯片和一个只有B通道正常的LPDDR芯片分别与SOC控制芯片连接起来，使得这两个LPDDR芯片均能正常使用，从而减少了资源浪费。
lpddr 电路具有装置

[发明专利]LPDDR测试方法、装置、可读存储介质及电子设备-CN202011460256.2在审
发明人：孙成思;孙日欣;刘冲 -专利权人：深圳佰维存储科技股份有限公司
申请日： 2020-12-11 - 公布日： 2021-03-23 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明公开一种LPDDR测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，通过搭建基于intel的测试主板，并在所述测试主板上放置并连接待测试的LPDDR芯片，触发测试主板上电并启动，在测试主板启动后，下载测试软件，通过运行所述测试软件对待测试的LPDDR芯片进行读写扫描测试以获得对待测试的LPDDR芯片的测试结果，通过测试主板的搭建并在各种指令的作用下实现了对LPDDR芯片的自动化测试，全程不需要人工参与，提高了对LPDDR的测试效率，降低了测试成本。
lpddr 测试方法装置可读存储介质电子设备

[发明专利]一种LPDDR基板设计方法、LPDDR基板和电子设备-CN202010056038.6有效
发明人：李虎;谭少鹏 -专利权人：深圳市德明利技术股份有限公司
申请日： 2020-01-17 - 公布日： 2021-07-30 - 主分类号： H05K3/00 文献下载
摘要：本发明揭示了一种LPDDR基板设计方法、LPDDR基板和电子设备其中，一种LPDDR基板设计方法，包括：在LPDDR基板上确定芯片封装区；在芯片封装区两端的相邻区域分别设置有第一蚀刻区和第二蚀刻区，其中，第一蚀刻区和第二蚀刻区均用于设置第一电镀引线，第一电镀引线与LPDDR基板上的待电镀的电路网络电连接。本设计方法电镀引线蚀刻区域集中，后期检查方便，几乎没有残留引线线尾，很好地解决了传统基板设计造成的弊端，满足了LPDDR基板的性能要求和美观要求。
一种 lpddr 设计方法电子设备

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