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[发明专利]有限距成像系统垂轴放大率的测量方法-CN201510881901.0在审
发明人：金春水;谢耀;王丽萍;郭本银;王君 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2015-12-04 - 公布日： 2016-03-09 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：有限距成像系统垂轴放大率的测量方法，涉及光学系统检测领域，解决现有光学系统的垂轴放大率测量方法需要借助在物像面安置小孔板的方式，存在执行成本高，且不易控制实现的问题，在光学系统中载入带标记的光学元件面形，对光学系统进行优化，建立修正后的光学系统模型；通过系统物平面的位移量和与像平面的位移量的比例关系，计算轴向放大率；根据垂轴放大率和轴向放大率的关系，计算垂轴放大率，并建立计算垂轴放大率与设计的垂轴放大率的对应关系；确定光学系统物平面的位移量的区间和光学系统像平面的初始位置；采用修正后的模型，对实际光学系统进行装配和装调；获得实际光学系统的垂轴放大率。
有限成像系统放大率测量方法

[发明专利]光学系统及虚拟现实设备-CN202211695470.5在审
发明人：申成哲 -专利权人：江西晶浩光学有限公司
申请日： 2022-12-28 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G02B27/01 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学系统及虚拟现实设备，光学系统共有三片具有屈折力的透镜，沿光轴从成像侧至像源侧依次为第一透镜、第二透镜和第三透镜，第一透镜的成像面和光源面之间沿光轴从成像侧至像源侧还依次设有偏振反射膜、相位延迟片和分光膜，且光学系统满足以下关系式：1.35≤TTL/IMGH≤1.65，TTL是第一透镜的成像面至所述光学系统的光源面于光轴上的距离，IMGH为所述光学系统的光源面上最大有效光源区域对角线长的一半本发明提供的光学系统及虚拟现实设备，能够在实现光学系统轻薄化设计的同时，提高光学系统的成像性能。
光学系统虚拟现实设备

[发明专利]光学系统、镜头模组和电子设备-CN202110554354.0有效
发明人：谭怡翔;党绪文;李明 -专利权人：江西晶超光学有限公司
申请日： 2021-05-20 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G02B13/00 文献下载
摘要：一种光学系统、镜头模组和电子设备，光学系统沿光轴由物侧至像侧依次包含：具有屈折力的第一透镜至第四透镜，第一透镜具有正屈折力，其物侧面和像侧面于近光轴处均为凸面，第二透镜的像侧面于近光轴处为凹面，以及棱镜光学系统满足关系式：198f*43/(2*ImgH)260；其中，f为光学系统的有效焦距，ImgH为光学系统的最大视场角所对应的像高的一半。通过设置棱镜，使得光线偏转90°，增加了光学系统的后焦，同时，对第一透镜至第四透镜的面型和屈折力进行合理设计，并使光学系统满足所述关系式，可确保光学系统具备超长焦的特性，实现背景虚化、远距离拍摄等特性。
光学系统镜头模组电子设备

[发明专利]一种长波红外多温区自由曲面离轴折反射光学系统-CN202111481511.6在审
发明人：王保华;聂云松;王军;康晓军;邢辉;童卫明;马军;宋俊儒;孙启杨;闫秀荣;陈希;蔡媛媛;徐培麒 -专利权人：北京空间机电研究所
申请日： 2021-12-06 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G02B17/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种长波红外多温区自由曲面离轴折反射光学系统，包括：光学系统、中继光学系统和中间像面；其中，主光学系统为离轴反射系统，中继光学系统为透射系统；目标辐射的长波红外光线经主光学系统反射后经过中间像面进入中继光学系统，再经过中继光学系统折射后汇聚到像面；中间像面与主光学系统的距离为805mm，中间像面与中继光学系统的距离为112mm。
一种长波红外多温区自由曲面离轴折反射光学系统

[发明专利]一种用于星载多光谱成像仪的双筒折反射式光学系统-CN200410066548.2有效
发明人：刘银年;陈建新;王欣;王建宇;王跃明;黄健;黄立峰;姚志雄 -专利权人：中国科学院上海技术物理研究所
申请日： 2004-09-21 - 公布日： 2005-03-23 - 主分类号： G02B17/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于星载多光谱成像仪的双筒折反射式光学系统，其特征在于：光学系统从物方至像方按顺序由一个扫描反射镜，而后有两个分光学系统。该两个分光学系统分别由主反射镜、次反射镜和像差校正透镜组组成。本发明的优点是：系统结构简单、紧凑，加工、装校技术成熟，采用双光学系统整体上降低了光学系统设计、加工和装校的难度，提高了光学效率和像质。
一种用于星载多光谱成像双筒反射光学系统

[发明专利]投影光学系统、曝光装置和器件制造方法-CN201010297954.5有效
发明人：深见清司 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2010-09-27 - 公布日： 2011-04-27 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种投影光学系统、曝光装置和器件制造方法，该投影光学系统具有第1光学系统、第2光学系统、第3光学系统以及控制部分，其中，将投影光学系统的、与第1方向正交的第2方向和与第1方向和第2方向正交的第3方向上的倍率的应修正量分别设为A和B，将第3光学系统对投影光学系统的第2方向和第3方向上的倍率的修正量设为C时，控制部分控制第1光学系统、第2光学系统和第3光学系统，使得修正量C成为应修正量A与应修正量B之间的量，第1光学系统对第2方向上的倍率的修正量成为(A-C)，第2光学系统对第3方向上的倍率的修正量成为(B-C)。
投影光学系统曝光装置器件制造方法

[发明专利]平视显示装置以及反射光学系统-CN201680048784.2有效
发明人：横江润也;南原孝启 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2016-08-08 - 公布日： 2020-05-08 - 主分类号： G02B27/01 文献下载
摘要：平视显示装置具备照明光学系统(22)、成像光学系统(10)以及反射光学系统(34)。照明光学系统(22)投射表示信息的光源光。成像光学系统(10)使由照明光学系统(22)投射的光源光投影于投影面。反射光学系统(34)具有：使红外线区域的电磁波透过并反射可见光区域的电磁波的电介质多层膜。反射光学系统(34)构成为：包含来自照明光学系统(22)的光源光的至少一部分波长的对象波长的相位差成为大于‑π/2[rad]且小于π/2[rad]的范围。反射光学系统(34)配置为：在从照明光学系统(22)至成像光学系统(10)的光源光的路径上，来自照明光学系统(22)的光源光的偏振光轴α相对于入射面成为0度＜α＜90度＜α＜180度。
平视显示装置以及反射光学系统

[实用新型]一种采用全塑料光学材料的工业监控镜头-CN201721175997.X有效
发明人：刘红霞;毕野彪;张良 -专利权人：中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所
申请日： 2017-09-14 - 公布日： 2018-07-06 - 主分类号： G02B1/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种采用全塑料光学材料的工业监控镜头，采用全塑料光学材料设计的工业监控镜头按光路走向由物镜[8]、光阑[9]、物镜[10]及探测器[11]组成光学系统光路。光学系统焦距为11.2mm、系统采用一次成像的方式；光学系统总长度为5.2mm，光学系统重量0.1g。F数：4；全视场内畸变≤1％。重量大幅减轻，采用非球面、衍射面进行光学系统消像差设计，使光学系统的像差得到很好的控制。易于进行大批量生产，控制成本。
光学系统工业监控镜头光学材料全塑料探测器光路物镜像差光学系统焦距本实用新型一次成像中心波长非球面衍射面波长畸变光阑生产

[发明专利]照相机-CN98125303.2无效
发明人：儿玉晋一;杉田幸彦 -专利权人：奥林巴斯光学工业株式会社
申请日： 1998-12-11 - 公布日： 2004-01-28 - 主分类号： G03B19/02 文献下载
摘要：以一种改进的照相机包括彼此独立存在的照相光学系统和取景器光学系统。为使得取景器观察图象不会被照相机透镜遮蔽，照相机包括用于分别驱动照相光学系统和取景器光学系统的驱动电路，以及用于控制照相光学系统的光学系统控制电路，其控制方式使得取景器光学系统将不会被照相光学系统阻挡。
照相机

[发明专利]用双层谐衍射元件的红外光学系统-CN200610016166.8无效
发明人：王肇圻;范长江;张梅 -专利权人：南开大学
申请日： 2006-10-19 - 公布日： 2007-03-28 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本发明涉及两个改进型Petzval红外双波段探测光学系统，红外双波段单层谐衍射光学系统和红外双波段双层谐衍射光学系统。本发明红外双波段单层谐衍射光学系统包括折射透镜和折射/谐衍射混合透镜，红外双波段双层谐衍射光学系统包括折射透镜和双层折射/谐衍射混合透镜。红外双波段单层谐衍射光学系统特点是将谐衍射透镜引入到红外单波段Petzval物镜系统中，实现了在中红外3.4－4.2μm和热红外8－11μm两个波段的双光谱探测。为改善此系统的衍射效率，利用双层谐衍射元件对红外双波段单层谐衍射光学系统做了改进，设计出红外双波段双层谐衍射光学系统。此系统特点是双层折射/谐衍射混合元件使得系统衍射效率得到极大的改善，在设计波段的各个波长下衍射效率达到90％以上，像面对比度提高，成像质量优良，为红外系统的设计提供了一种新的器件。
双层衍射元件红外光学系统

[发明专利]具有色散器件的自由曲面光学系统的设计方法-CN201810139879.6有效
发明人：张本奇;朱钧;金国藩;范守善 -专利权人：清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司
申请日： 2018-02-09 - 公布日： 2020-09-08 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种具有色散器件的自由曲面光学系统的设计方法，包括以具有色散器件的自由曲面光学系统的狭缝为物，构建一非色散球面光学系统；在所述非色散球面光学系统中的一个非色散球面上放置一色散器件，进而得到一色散球面光学系统；将色散球面光学系统构建为一色散自由曲面光学系统；以及将特征光线与所述色散自由曲面光学系统中自由曲面的的交点定义为该自由曲面上的特征数据点，采用迭代算法，保持色散自由曲面光学系统中的每个自由曲面上的特征数据点的坐标不变，按照物像关系重新计算特征数据点的法向，然后用自由曲面上特征数据点的坐标和重新计算得到的法向拟合得到新的自由曲面，进而得到最终的具有色散器件的自由曲面光学系统。
具有色散器件自由曲面光学系统设计方法

[发明专利]一种光栅光谱仪光学系统焦距和狭缝尺寸计算方法-CN201911156820.9有效
发明人：刘志敏;安宁;唐绍凡;付智红;贺瑞聪;邓家全;李康 -专利权人：北京空间机电研究所
申请日： 2019-11-22 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种光栅光谱仪光学系统焦距和狭缝尺寸计算方法，所述方法包括如下步骤：建立空间天文点源探测光栅光谱仪的光学系统，使光学系统像质达到衍射限；根据探测光谱的波长最大值λmax和光学系统入瞳直径D得到狭缝处星点像PSF的半高全宽FWHM；根据狭缝处星点像PSF的半高全宽FWHM、光谱采样率n和探测器的光谱方向像元间距p得到光学系统的焦距f′；根据探测光谱的波长最大值λmax和光学系统入瞳直径D得到艾利斑第一暗环尺寸；根据光学系统的焦距f′、光学系统的放大率δ和艾利斑第一暗环尺寸得到狭缝的宽度Ws。本发明确定了空间天文探测的光栅光谱仪的光学系统的焦距和尺寸，能够进行空间天文探测的光栅光谱仪的光学系统的详细设计。
一种光栅光谱仪光学系统焦距狭缝尺寸计算方法

[发明专利]光束均化器和激光照射装置-CN201010230937.X有效
发明人：田中幸一郎;大石洋正 -专利权人：株式会社半导体能源研究所
申请日： 2005-03-24 - 公布日： 2010-10-20 - 主分类号： G02B3/00 文献下载
摘要：由于光学元件特性的缘故，光学元件在光学系统中的设置是受限的，所以在设计用于形成预定的激光束的光学系统中存在困难。本发明的目的是为了设计具有所需功能的光学系统，该光学系统不受设置光学元件的限制的影响。
光束均化器激光照射装置

[发明专利]一种复合成像模拟光学系统-CN201410715206.2有效
发明人：任小婉;张玉国;孙红胜 -专利权人：北京振兴计量测试研究所
申请日： 2014-12-02 - 公布日： 2015-04-08 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本发明提供一种复合成像模拟光学系统，该系统主要由反射式红外光学系统和透射式可见光、激光光学系统组成，依次包括大口径反射镜、第一透镜、第二透镜和第三透镜。本发明通过采用反射式与透射式相结合的光学系统设计方式，通过合理匹配透镜的材料、半径、距离和厚度等参数，可满足红外光学系统±0.5°的成像质量要求和可见光、激光光学系统满足±5.5°观测范围的要求，从而最终实现三光合一共口径光学系统的性能要求并且使整个系统装置整体尺寸最小，从而满足整个系统装置的整体要求。
一种复合成像模拟光学系统

[发明专利]投射光学设备-CN200880024654.0有效
发明人：高浦淳;藤田和弘;安部一成;山影明广;永濑修;河野义次 -专利权人：株式会社理光
申请日： 2008-09-02 - 公布日： 2010-06-16 - 主分类号： G03B21/14 文献下载
摘要：一种投射光学设备，能够提供高图像质量以及具有减小的尺寸。投射光学设备包括光阀和投射光学系统，该投射光学系统包括第一光学系统(5)和第二光学系统(3′)，该第一光学系统(5)具有透射折射元件，该第二光学系统(3′)具有反射折射元件。形成在光阀上的图像被投射光学系统投射在投射表面(4)上。第一光学系统(5)中的光轴被纵向和横向折转。第一光学系统的第一组(5A)被容纳一个在空间(无用空间)内，该空间的下限被第二光学系统(3′)的下边缘限定，借此减少设备的深度。
投射光学设备