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[发明专利]测试无人车控制、装置、信号测试设备及存储介质-CN202010737190.0有效
发明人：武振;苗岩;田聪;柯腾辉;戴鹏;周壮 -专利权人：中国联合网络通信集团有限公司
申请日： 2020-07-28 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： H04W4/02 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种测试无人车控制、装置、信号测试设备及存储介质，通过获取预设的测试范围信息，其中，测试范围信息用于表征待测试区域的位置和范围；根据测试范围信息，确定测试路径；控制测试无人车按照测试路径移动并进行信号测试，得到与测试范围信息对应的信号测试结果，由于测试无人车的测试路径是根据预设的测试范围信息而确定的，因此，测试无人车可以自主的根据该测试范围信息规划处出最佳的测试路径，使该测试路径能够合理的覆盖待测试区域，根据该测试路径进行移动并进行信号测试，可以提高测试的精确度和效率，降低测试成本。
测试无人控制装置信号设备存储介质

[发明专利]应用于数字芯片的测试扫描方法、系统及存储介质-CN202210842912.8在审
发明人：李荣涛 -专利权人：深圳市华宇福保半导体有限公司
申请日： 2022-07-18 - 公布日： 2022-10-14 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请涉及芯片测试领域，尤其是涉及一种应用于数字芯片的测试扫描方法、系统及存储介质。其方法包括：获取待测芯片的多个测试项目和对应的多个测试范围；将多个所述测试范围进行范围并集处理，得到目标测试范围，其中所述目标测试范围包含多个所述测试范围；基于所述目标测试范围对多个所述测试项目进行一次测试处理本申请能够提高数字芯片测试的效率，减少测试人员的工作量。
应用于数字芯片测试扫描方法系统存储介质

[发明专利]频率范围测试系统及方法-CN200910304055.0无效
发明人：陈正记 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2009-07-06 - 公布日： 2011-01-12 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：一种频率范围测试系统，包括一测试设备、一频率发生器及一电源，测试设备包括：一频率接收模块，用于设定一调整频率值及一初始调整频率值，并将初始调整频率值写入频率发生器以使频率发生器产生一对应的测试频率信号输出给待测设备；一电源控制模块，用于控制电源给待测设备供电；一判断模块，用于判断待测设备在所述测试频率下是否可以开机；一侦测模块，用于判断待测设备上的各部件是否能够正常工作；及一所述频率调整模块，用于判断测试频率是否超出频率测试区间，若否，则设置另一调整频率值传送给频率发生器以进行下一次测试。本发明还提供一种频率范围测试方法。本发明频率范围测试系统及方法可高效率地自动进行频率范围测试。
频率范围测试系统方法

[发明专利]扩大测试条的动态范围-CN201080026366.6无效
发明人： H·刘;R·K·迪纳洛;J·Z·张;G·H·谢拉;Z·叶;X·何;Z·吴 -专利权人：瑞莱诊断体系股份有限公司
申请日： 2010-04-14 - 公布日： 2012-07-11 - 主分类号： G01N30/92 文献下载
摘要：本发明提供具有扩大的动态范围的测试条用于进行试验以确定样品中分析物的存在或测量分析物的含量。还提供确定样品中分析物的存在或测量分析物含量的方法和检测前区样品的方法。
扩大测试动态范围

[发明专利]测试程式除错装置及半导体测试装置及测试程式除错方法及测试方法-CN200480028876.1无效
发明人：堀光男;多田秀树;片冈孝浩;关口宏之;梦川一男 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2004-10-05 - 公布日： 2006-11-15 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明提供一种测试程式除错装置、半导体测试装置、测试程式除错方法及测试方法。本发明的测试程式除错装置包括：被测试元件模拟设备及半导体测试装置模拟设备。半导体测试装置模拟设备具有验证范围获取部、指令简单化部与指令执行部。验证范围获取部是用于获取测试程式中应验证的指令的范围，亦即验证范围。指令简单化部是将设定指令以外的非设定指令加以简化，其中设定指令是用来对测试程式中的验证范围以外的范围(即非验证范围)中所包含的非验证范围的指令，进行被测试元件模拟设备的设定。指令执行部是用于执行验证范围中所包含的验证范围指令、设定指令以及被指令简单化部所简化的非设定指令。
测试程式除错装置半导体方法

[发明专利]用于测试模/数转换器的方法及其系统-CN201610471293.0在审
发明人：陈涛;金贤坤 -专利权人：飞思卡尔半导体公司
申请日： 2016-06-24 - 公布日： 2017-01-04 - 主分类号： H03M1/10 文献下载
摘要：本发明提供一种具有模/数转换器(ADC)的数据处理系统以及一种用于测试该ADC的方法。该数据处理系统还包括数/模转换器(DAC)和测试逻辑。该DAC具有第一电压范围、用于接收测试代码的输入端和输出端。该ADC具有比该第一电压范围更大的第二电压范围、耦合至该DAC的输出端的输入端，以及用于提供遍及该第二电压范围的一系列输出代码的输出端。该测试逻辑被耦合至该ADC并用于使用该DAC控制该ADC的测试。多个系列测试代码被提供给该DAC以用于测试从该ADC输出的第二电压范围的部分电压范围。开始的系列测试代码用于测试该第二电压范围的开始部分电压范围，并且后续的系列测试代码用于测试该第二电压范围的后续部分电压范围。该第二电压范围的后续部分电压范围被测试，直到达到该ADC的第二电压范围的最大电压。
用于测试转换器方法及其系统

[发明专利]确定回归测试范围的方法及装置-CN201410209145.2有效
发明人：望帆 -专利权人：北京金山网络科技有限公司
申请日： 2014-05-16 - 公布日： 2014-07-30 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种确定回归测试范围的方法及装置。该确定回归测试范围的方法包括：获取待测试的变更代码数据的路径信息；根据所述获取的路径信息到预先构建的数据库中查找与所述获取的路径信息匹配的回归测试范围参考信息；输出所述查找到的回归测试范围参考信息，以使测试人员根据所述回归测试范围参考信息确定回归测试范围通过本方案，可以达到提高测试效率，降低人工成本，且提高测试稳定性的目的。
确定回归测试范围方法装置

[发明专利]一种测试范围度量及测试覆盖检查的方法及系统-CN202110460546.5在审
发明人：李昌;王钢 -专利权人：上海安畅网络科技股份有限公司
申请日： 2021-04-27 - 公布日： 2021-07-30 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请提供了一种测试范围度量及测试覆盖检查的方法及系统，包括：获取待发布版本和当前已发布版本；通过文件对比工具，对比待发布版本和当前已发布版本的差异，生成改动范围文件；根据当前已发布版本的链路拓扑，确定待发布版本的待测链路；根据改动范围文件和待测链路，生成待发布版本的待测试范围；根据待测试范围，确定对应于待测试范围的测试用例，利用测试用例对待测试范围进行测试。旨在对待发布版本的快速、准确的测试；并通过链路拓扑检查、待测文件覆盖检查、代码覆盖率检查，完成待测版本质量检查，综合以上方法措施，缩小了测试范围、保障软件版本测试质量，节省大量时间和人力成本。
一种测试范围度量覆盖检查方法系统

[发明专利]一种基于异常场景的测试方法及装置-CN202210591019.2在审
发明人：王学文;柯星宇;马祥峰;袁帅国;单楚杰;程琳旋;庄滨滨;杨彦生;郑凯帆;刘圣海;张珊珊 -专利权人：中国银行股份有限公司
申请日： 2022-05-27 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请公开了一种基于异常场景的测试方法及装置，可应用于分布式领域或金融领域。该方法包括：确定待测试异常场景的待测试范围；基于待测试范围，从多个不同的预设测试范围分别对应的异常配置信息中确定出待测试范围对应的异常配置信息作为待测试配置信息；待测试范围为多个不同的预设测试范围之一；调用与待测试配置信息匹配的异常场景执行方法，得到测试结果。如此，便可基于不同的测试范围调用不同的异常场景执行方法，实现对不同异常场景的模拟，从而提高测试结果的准确性，便于后续建立可用性较高的异常处理机制。
一种基于异常场景测试方法装置

[发明专利]功能必测业务范围保鲜方法和系统、电子设备、存储介质-CN202211647271.7在审
发明人：方琳;麦富花 -专利权人：中国建设银行股份有限公司
申请日： 2022-12-21 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供一种功能必测业务范围保鲜方法和系统、电子设备、存储介质，该方法包括：获取重要业务活动、业务建模资产、需求管理资产；依据重要业务活动、业务建模资产、需求管理资产对业务范围基线进行更新；对业务范围基线进行统计分析，更新测试范围、案例；业务范围基线作为测试范围及其案例梳理的依据，通过统计分析出测试范围对业务范围的覆盖情况；形成业务范围的基线，便于业务范围进行更新和维护等管理工作；支持统计分析，业务范围作为测试范围及案例梳理的依据，通过统计分析出测试范围对业务范围的覆盖情况；更新化繁为简、提高比对后业务范围的及时性、正确性、覆盖性，为后续的测试范围、测试案例的梳理及更新提供最新的依据。
功能业务范围保鲜方法系统电子设备存储介质

[发明专利]一种代码测试方法及装置-CN202211467283.1在审
发明人：王松 -专利权人：平安银行股份有限公司
申请日： 2022-11-22 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请提供一种代码测试方法及装置，该方法包括：获取研发端提交的研发代码；分析研发代码的增量代码影响接口范围；根据增量代码影响接口范围判断接口文件是否需要更新；如果否，根据增量代码影响接口范围获取接口影响范围数据；将接口影响范围数据反馈至测试用例运行端，以使测试用例运行端根据接口影响范围数据对研发代码进行测试，得到测试数据。可见，实施这种实施方式，能够实现测试端和研发端之间的信息及时互通，从而能够使得测试端及时准确进行测试判断，有利于提升测试效率。
一种代码测试方法装置

[发明专利]一种交换机的测试方法、装置及电子设备-CN202310228811.6在审
发明人：施仁哲;陈翔 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2023-03-10 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： H04L43/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种交换机测试方法、装置及电子设备，属于交换机领域，所述方法包括：根据待测试的测试项，确定目标测试范围；生成多个待测试的测试用例，其中，每个测试用例覆盖的测试范围的大小为所述目标测试范围，不同测试用例组合而得到的多个组合覆盖所有测试范围；通过测试线程逐一执行所述多个测试用例。通过本发明提供的方法应用于交换机的测试中，不仅可以通过不同测试用例组合覆盖该交换机所能实现功能的所有测试范围，保证测试例的丰富度，还可以通过创建测试线程，自动对多个测试用例进行执行，尽可能的在问题验证阶段排除人工可能出现的各种问题
一种交换机测试方法装置电子设备

[发明专利]错误覆盖分析法-CN200610168648.5无效
发明人：张延生;刘东昱 -专利权人：力晶半导体股份有限公司
申请日： 2006-12-20 - 公布日： 2008-06-25 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：一种错误覆盖分析方法，适用于分析一产品的多个晶片测试项目，以决定该产品的一测试模块。此方法包括：依序对该产品的多个测试标的物进行所述晶片测试项目，其中，根据每一测试项目产生相对应的一测试涵盖范围。于一数据库中，根据所述晶片测试项目相对应储存所述测试涵盖范围。根据该数据库中的每一所述晶片测试项目的相对应所述测试涵盖范围，选择部份所述晶片测试项目组成一测试模块，其中该测试模块的一错误覆盖范围是组成该测试模块的部份所述晶片测试项目的相对应所述测试涵盖范围的一联集
错误覆盖分析

[发明专利]内存测试方法、装置及电子设备-CN202111448794.4在审
发明人：卢双堂;许志豪 -专利权人：新华三技术有限公司合肥分公司
申请日： 2021-11-30 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明涉及内存测试技术领域，具体涉及内存测试方法、装置及电子设备，所述方法包括获取目标内存的故障物理地址以及预设地址偏移量；基于所述故障物理地址以及所述预设地址偏移量，确定故障物理地址范围；将所述故障物理地址范围内所有物理地址的属性设置为锁定；将所述故障物理地址范围转换为虚拟地址范围；基于所述虚拟地址范围对所述目标内存进行内存测试。通过利用故障物理地址对目标内存中的测试对象进行筛选，仅针对故障物理地址范围进行测试而不需要整体测试，缩小内存测试范围，且内存故障耦合和多重写入故障表现使得内存故障发生在相邻行列范围，因此针对故障物理地址范围进行测试可以保证测试结果的可靠性
内存测试方法装置电子设备

[发明专利]一种基于缺陷收敛性的自动化测试方法-CN201710508375.2在审
发明人：汪彩云;朱凌燕;陈浩 -专利权人：中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院
申请日： 2017-06-28 - 公布日： 2019-01-04 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：公开了一种基于缺陷收敛性的自动化测试方法。该方法包括以下步骤：1)确定测试范围，在所述测试范围内基于测试单元生成脚本；2)确定各个脚本之间的依赖关系；3)执行主脚本以对各个脚本进行调用，生成运行结果；4)判断运行结果中的缺陷收敛性；5)基于步骤4)所确定的缺陷收敛性确定下一轮回归测试范围。本发明通过编写和录制自动化测试脚本，在对测试出来的缺陷进行修改后进行脚本的自动执行回放，实现回归测试的自动化；通过分析缺陷的影响范围和收敛性，确定回归测试范围和用例的执行范围，减少回归测试规模，从而提高测试效率并缩短测试周期
收敛性脚本回归测试自动化测试运行结果测试自动化测试脚本测试单元测试效率测试周期依赖关系自动执行回放调用录制自动化分析

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