专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种超快激光成丝对大气组分的远程实时探测系统-CN202011512316.0在审
  • 宋海英;汪鹏;刘世炳;张泽亮;李亚超 - 北京工业大学
  • 2020-12-19 - 2021-05-14 - G01N21/73
  • 本发明公开了一种超快激光成丝对大气组分的远程实时探测装置,包括激光光源,传输光路系统,光电信号采集与发射系统和光电信号接收与光谱分析系统。激光光源产生飞秒脉冲激光,经过传输光路系统聚焦之后,脉冲光束由于束腰处能量密度高于空气分子电离阈值,空气分子电离后电子回到母核发出荧光,利用无人机携带荧光高光谱相机对激光成丝位置光谱数据进行采集并实时传回光电信号接收与光谱分析系统,光电信号接收与光谱分析系统利用不同空气分子电离荧光光谱信号的差异实时计算并显示空气组分与浓度,由此实现超快激光成丝对大气组分的远程实时探测。
  • 一种激光大气组分远程实时探测系统
  • [发明专利]一种基于SSA和RBF神经网络模型的电离层预测方法-CN202010681113.8有效
  • 汤俊;高鑫 - 华东交通大学
  • 2020-07-15 - 2022-05-17 - G06F30/27
  • 本发明公开了一种基于SSA和RBF神经网络模型的电离层预测方法,涉及电离层TEC预测技术领域,所述方法包括:获取目标区域中的TEC原始序列;通过奇异谱分析法对电离层TEC原始序列进行去噪分析;将去噪后的TEC数据序列作为输入对RBF神经网络模型进行训练;用训练好的RBF神经网络模型进行电离层TEC序列的预测,并输出预测值。在本发明通过将奇异谱分析法对TEC序列中主要特征分量及多余噪声信息进行提取分析,为进一步进行建模处理提供高精度数据源,另外还通过RBF神经网络模型对TEC序列进行预测研究,并且以IGS中心发布的参考值作为实验对比值,使得本发明的方法在电离层TEC预测上精度更高。
  • 一种基于ssarbf神经网络模型电离层预测方法
  • [实用新型]微型双电离源飞行时间质谱仪-CN201320418330.3有效
  • 陈国仁 - 大连华扬科技有限公司
  • 2013-07-15 - 2013-12-18 - H01J49/40
  • 微型双电离源飞行时间质谱仪,包括电离室、质量分析器和加速室,电离室连接质量分析器,质量分析器连接加速室,电离室内设有离子源,质量分析器内设有接收器,质量分析器外部连接数据系统,电离室和质量分析器连接供电系统本实用新型的微型双电离源飞行时间质谱仪,将离子源直接镶嵌在电离室中,电离产物可直接进入飞行时间质谱分析器中,减少样品电离产生的自由基及中间产物的损失。电离方式可采用电子轰击电离或紫外光电离两种方式,可有效的分析离子组成和样品结构。采用微型化飞行时间质量分析器,可用于便携快速检测。
  • 微型电离飞行时间质谱仪
  • [发明专利]谱分析方法及谱分析装置-CN201880088758.1在审
  • 高桥秀典 - 株式会社岛津制作所
  • 2018-11-21 - 2020-09-18 - G01N27/62
  • 由源自具有烃链的试样成分的前体离子生成产物离子并进行谱分析谱分析装置(1)中,具备:反应室(2),其用于导入前体离子;自由基生成部(51)、(52)、(53),其用于生成具有氧化能力的自由基、或/和具有还原能力的氢自由基以外的自由基;自由基照射部(54),其用于将生成的自由基照射到反应室(2)的内部;分离检测部(3),其用于将通过与自由基的反应而由前体离子生成的产物离子根据荷比进行分离并检测;结构推断部(14),其用于基于所检测的产物离子的荷比以及与前述结构或结构候选相关的信息来推断试样成分的结构。
  • 谱分析方法装置
  • [发明专利]谱分析装置及谱分析方法-CN201680084525.5有效
  • 池田笃重;盐浜徹 - 株式会社岛津制作所
  • 2016-04-11 - 2020-11-10 - G01N27/62
  • 当受理标准试样的设定且受理分析范围的设定时,标准值选定部(64)从与所设定的标准试样相对应的标准试样数据(51)中选定预先决定的余量中包含的标准值。数据获取部(63)在对所设定的分析范围加上余量所得到的数据获取范围获取谱数据。数据校正部(65)基于选定的标准值及数据获取范围内的标准试样的实测值,来校正谱数据。另一方面,在余量的范围中包含的标准值不存在的情况下,标准值选定部(64)选定在分析范围外的与余量的范围最靠近的标准值。数据获取部(63)在将余量扩大至包含该选定的标准值的范围所得到的数据获取范围获取谱数据。数据校正部(65)基于选定的标准值及数据获取范围内的标准值的实测值,来校正谱数据。
  • 谱分析装置方法
  • [发明专利]谱分析装置以及谱分析方法-CN201780095658.7有效
  • 北野理基;河村和广 - 株式会社岛津制作所
  • 2017-10-25 - 2022-08-09 - H01J49/06
  • 一种谱分析方法,将由离子源(2)生成的离子经由具有多个离子透镜(31、32、33)的离子光学系统(3)输送到质量分离部(4)来进行质量分离并进行检测,针对作为所述多个离子透镜(31、32、33)中的一个离子透镜的第一离子透镜(33)调整施加电压,以使规定荷比的离子的检测灵敏度满足预先决定的必要条件,针对作为所述多个离子透镜(31、32、33)中的除所述第一离子透镜(33)以外的一个离子透镜的第二离子透镜(32),施加使离子的检测灵敏度相对于对该第二离子透镜
  • 谱分析装置以及方法

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