专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]电容测量设备-CN202221129339.8有效
  • 黎良波 - 松下电子部品(江门)有限公司
  • 2022-05-11 - 2022-11-29 - G01R27/26
  • 本实用新型公开了一种电容测量设备,涉及电容测量技术领域。包括机架、第一电极、第二电极、显示装置、第一夹块和第二夹块。机架包括第一驱动装置;第一电极和第二电极均连接于机架且能与电容器电连接以测量电容器的电容量;显示装置与第一电极和第二电极电连接,用于显示电容器的电容量;第一夹块与第一驱动装置驱动连接,第二夹块连接于机架,第一驱动装置能驱动第一夹块与第二夹块配合夹紧电容器。采用本实用新型的电容测量设备,无需用户手持电容器进行测量电容,能提高测量的效率。
  • 电容测量设备
  • [发明专利]用于沉积法镀膜的设备及控制镀膜厚度的系统和方法-CN202010054387.4有效
  • 胥俊东 - 北京北方华创真空技术有限公司
  • 2020-01-17 - 2021-12-28 - C23C16/52
  • 本发明涉及测量系统技术领域,提供了用于沉积法镀膜的设备及控制镀膜厚度的系统和方法。该控制镀膜厚度的系统包括电容装置、电容测量模块、控制器和设于镀膜设备的沉积气阀门;电容装置设于镀膜设备内并与电容测量模块相连;电容测量模块与控制器相连,电容测量模块用于测量电容装置的电容值并将电容值发送给控制器,控制器用于将接收到的电容值与预设电容阈值比较,若接收到的电容值大于预设电容阈值,则控制沉积气阀门停止向镀膜槽内通入沉积气。由于在镀膜设备内设置了电容装置,在镀膜设备通入沉积气的过程中可以通过电容值来检测镀膜厚度,从而实现对镀膜厚度的控制。
  • 用于沉积镀膜设备控制厚度系统方法
  • [发明专利]电容测量系统及电容测量方法-CN201510078923.3在审
  • 范盛淳;曾建铭 - 宏达国际电子股份有限公司
  • 2015-02-13 - 2016-10-05 - G01R27/26
  • 一种电容测量系统及电容测量方法。该电容测量系统包括一三维移动设备、一触控头及一控制主机。触控头连接至三维移动设备。控制主机电性连接至三维移动设备及一触控面板。控制主机藉由控制三维移动设备来移动触控头,以依照触控面板的整面上以矩阵方式排列的多个测量点的位置来触碰触控面板,并读取触控面板的各测量点被触控头触碰时的测量电容值。控制主机依照这些测量点的这些测量电容值产生一彩色图像,以表现触控面板整面的测量电容值的分布。
  • 电容测量系统测量方法
  • [发明专利]一种电容电流的确定方法及设备-CN201410771785.2有效
  • 王犇;周献飞 - 国家电网公司;国网北京市电力公司
  • 2014-12-12 - 2015-04-08 - G01R19/00
  • 本发明公开了一种电容电流的确定方法及设备。其中,该方法包括:中央处理设备接收输入的测量参数和测量得到的电容电流,其中,所述测量参数用于测量所述电力线路上的所述电容电流;所述中央处理设备使用所述测量参数和所述电容电流对预设的用于确定待测电容电流的计算公式进行更新,得到更新后的计算公式;所述中央处理设备接收在用户界面中选择的用于确定所述待测电容电流的输入参数;所述中央处理设备根据选择的所述输入参数和所述更新后的计算公式确定所述待测电容电流;所述中央处理设备显示确定出的所述待测电容电流本发明解决了现有技术中电容电流的确定不够准确的技术问题。
  • 一种电容电流确定方法设备
  • [发明专利]用于湿度探测的液体测量设备测量设备-CN201710453436.X有效
  • R·库贝 - 大众汽车股份公司
  • 2017-06-15 - 2020-05-26 - G01N27/22
  • 一种液体测量设备和一种测量设备,其中,液体测量设备包括:具有测量头的测量设备测量头包括至少两个电极和两个测量头触点;和具有两个接头触点的测量电路,测量电路包括使测量头通电的脉冲电源,测量电路包括输出电路和分析利用电路,输出电路具有至少一个测量电容器,分析利用电路求取测量电容器的充电状态信息,在测量头中构造有附加电路,附加电路确定在测量头触点之间的基础电容和基础电阻特性,基础电容和基础电阻特性相应于在测量头触点之间的下述电容和电阻特性:在不存在附加电路的情况下,在利用至少两个电极的预给定部分润湿、借助具有预给定电导率的导电流体触点接通的情况下,出现所述电容和电阻特性。
  • 用于湿度探测液体测量设备
  • [发明专利]一种多功能的钽电容测量工装-CN202011643616.2在审
  • 刘英秀;王浩成;白红 - 贵州中航聚电科技有限公司
  • 2020-12-30 - 2021-05-18 - G01G17/00
  • 本发明公开了一种多功能的钽电容测量工装,包括底座,所述底座的顶部固定有测量设备本体,且测量设备本体的顶部固定有承载台,并且承载台的顶部固定有重量传感片,而且重量传感片的底部固定有数据线。该多功能的钽电容测量工装,设置有重量传感片可对钽电容的质量进行感应,并通过数据线将重量信息传递给测量设备本体,红外感测装置可对红外灯发出的信号进行感知,准确得出推块相对于挡块的距离即钽电容的长度信息,该钽电容测量工装同时具备长度和质量测量功能,不再需要利用两个测量装置分别对钽电容的长度和重量进行测量,省时省力,测量工作效率较高,可以自动对钽电容的长度和重量信息进行统计,给钽电容测量工作带来较多便利。
  • 一种多功能钽电容测量工装
  • [发明专利]在片电容测量系统和测量方法-CN202110989553.4在审
  • 丁晨;刘岩;吴爱华;乔玉娥;翟玉卫;任宇龙;丁立强 - 中国电子科技集团公司第十三研究所
  • 2021-08-26 - 2021-12-31 - G01R27/26
  • 本发明提供一种在片电容测量系统和测量方法。其中。在片电容测量系统包括:电容测试设备;探针测试系统,包括探针座,对称分布在探针座两侧的第一组探针和第二组探针,以及设置在探针座上的第一组连接线和第二组连接线,第一组连接线与第一组探针连接,第二组连接线与第二组探针连接;标准电容、开路器和在片直通线,用于与电容测试设备和探针测试系统连接;通过电容测试设备、探针测试系统、标准电容、开路器和在片直通线测试待测在片电容电容值。本发明提供的在片电容测量系统,可实现待测在片电容参数到标准电容的溯源,从而保证待测在片电容测量结果与现有溯源体系下的标准电容结果之间的可比性,从而实现在片电容的准确测量
  • 电容测量系统测量方法
  • [发明专利]自动校准每个通道的电容的装置和方法-CN202010313908.3在审
  • 徐英镇;许荣健 - 现代单片机有限公司
  • 2020-04-20 - 2020-11-24 - G06F3/041
  • 本文公开了一种用于自动校准每个通道的电容的装置和方法,用于测量当电路被设计时由于每个电容感测通道的布线的长度的差异而导致的各自通道的寄生电容值,并且添加每个通道的唯一校准电容值以使得所有通道具有预设的相同参考电容值具体而言,用于自动校准每个通道的电容的装置包括触摸感测设备电容测量和校准设备,该触摸感测设备包括多个触摸感测区域,并且电容测量和校准设备用于分别测量连接到多个触摸感测区域的通道的寄生电容,并且在每个通道连接到寄生电容时将每个通道的唯一校准电容添加到相应的通道以获取预设的参考电容
  • 自动校准每个通道电容装置方法

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