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- [发明专利]单平面照明显微镜-CN201780066447.0有效
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托马斯·卡尔克布莱纳;海尔穆特·里佩尔特;乔治·吉本摩尔根;拉尔夫·耐茨
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卡尔蔡司显微镜有限责任公司
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2017-10-20
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2022-05-31
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G02B21/00
- 本发明涉及一种单平面照明显微镜,该单平面照明显微镜包括用于照射位于介质中的样品载体(2)上的样品(1)的照明光学系统,样品载体(2)平行于平坦参考表面(3)延伸。经由照明光路由光片照射样品。单平面照明显微镜还包括具有检测光路的检测光学系统。照明光学系统和检测光学系统的光轴每一个都与参考表面(3)的法线一起限定不等于零度的角度。单平面照明显微镜还包括阻挡层系统,该阻挡层系统包括由具有给定厚度的给定材料形成的至少一层并且将介质与照明和检测光学系统分离,且阻挡层系统的基部区域与可以用于照明和检测活动的区域接触,所述基部区域平行于参考表面在照明光路和/或检测光路中的至少一个校正元件允许减少当待检测的光或用于照射样品(1)的光以一定角度穿过阻挡层系统的界面时产生的像差。这种类型的单平面照明显微镜包括一装置,所述装置与光片的产生无关,并用于在光片平面的大致点状区域中或在至少暂时包括所述光片平面的给定空间中通过至少一个操纵光路将光强度施加到样品(1)。
- 平面照明显微镜
- [发明专利]一种基于共角干涉的层析相位显微方法与装置-CN201710157823.9有效
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刘旭;刘秋兰;匡翠方;修鹏
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浙江大学
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2017-03-16
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2019-11-19
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G01N21/84
- 本发明公开一种基于共角干涉的层析相位显微装置和方法,包括依次布置的激光器、扫描振镜系统和第一分束器,由第一分束器将激光束分成参考光和样品光:设有沿样品光路依次布置的:照明物镜,用于使照明光变成平行光照明样品;成像物镜,用于接收样品反射的样品光;设有沿参考光路依次布置的:第一反射镜,通过周期性移动自身位置来改变参考光路光程;补偿器,用于补偿参考光路与样品光路间的光程差;第二分束器,用于将参考光和样品反射的样品光进行合束;和图像采集单元,用于记录参考光与样品光产生的干涉图像;还包括计算机,根据在第一反射镜每个周期内多次扫描样品记录得到多个干涉图像包,解出对应该周期内的样品三维折射率分布图。
- 一种基于干涉层析相位显微方法装置
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