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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

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B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]一种显示器残像等级的评价方法及其装置-CN201410277811.6有效
发明人：黎午升 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2014-06-20 - 公布日： 2014-10-08 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种显示器残像等级的评价方法及其装置，涉及显示技术领域，能够获取残像等级及其变化规律。包括显示器在第一帧显示第一图像，在第二帧显示第二图像，以对显示器进行残像测试的方法。还包括：在至少两个采集时间：第一采集时间、第二采集时间，显示器切换至第一图像，获得显示器显示残像的亮度变化因子和残像面积因子，以得出第一残像等级及第二残像等级。上述第一采集时间与第二采集时间之间间隔残像消退时间，以对显示器进行残像消退处理；当残像停止消退时，根据第一残像等级和第二残像等级得出在残像消退过程中，显示器残像等级的变化趋势。
一种显示器等级评价方法及其装置

[发明专利]残像补偿方法、装置、显示设备和计算机可读存储介质-CN202210603256.6在审
发明人：吴艳红;段然 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2022-05-30 - 公布日： 2022-08-12 - 主分类号： G09G3/34 文献下载
摘要：本公开实施例提供一种残像补偿方法、装置、显示设备和计算机可读存储介质。所述残像补偿方法，包括：获取目标图像，目标图像为用于在显示面板上显示的当前帧图像；当目标图像的画面内容在显示面板上的显示时长未超出预设时长时，判断显示面板是否存在残像；在显示面板存在残像的情况下，确定显示面板的残像区域，并根据显示面板的显示属性和残像区域所显示图像的图像信息，确定残像补偿参数；根据残像补偿参数，对待显示的下一帧图像进行残像补偿。
补偿方法装置显示设备计算机可读存储介质

[发明专利]一种确定显示器残像等级的方法及装置-CN201310078918.3有效
发明人：占玙娟 -专利权人：合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2013-03-12 - 公布日： 2013-06-19 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种确定显示器残像等级的方法及装置，用以解决现有技术中只能通过人眼观测确定显示器的残像等级，准确性较低的问题。本发明实施例提供的一种确定残像等级的方法，包括：确定进行残像测试后显示器显示的残像的亮度变化指数及所述残像的面积指数；根据确定的所述亮度变化指数及面积指数确定所述显示器的残像等级。由于残像的亮度变化指数与面积指数都是可以客观确定的，因而采用本发明实施例可以不必采用人眼观测的方式，而从客观上确定显示器的残像等级，提高了确定显示器残像等级的准确性。
一种确定显示器等级方法装置

[发明专利]一种电子图像的残像补正方法以及电子图像形成装置-CN201110056478.2有效
发明人：王新颜;杨传义 -专利权人：株式会社理光
申请日： 2011-02-28 - 公布日： 2012-08-29 - 主分类号： H04N1/413 文献下载
摘要：本发明提供一种电子图像的残像补正方法，用于具有感光体的电子图像形成装置，包括以下步骤：将需要形成图像的一页图像数据转换为一页数据位图；判断该一页图像数据中是否有引起残像发生的部分，如果有，则确定该引起残像发生的部分的起始位置，并根据该感光体的周长以及该引起残像发生的部分的该起始位置，计算得到与该引起残像发生的部分相对应的残像发生部分的起始位置；判断该残像发生部分的该起始位置是否在该一页的范围之内，如果是，则确定该引起残像发生的部分的大小，并确定该残像发生部分在该一页的范围之内的有效残像发生部分的大小；以及对该有效残像发生部分对应的数据位图进行补正，形成新的数据位图以抵消残像。
一种电子图像补正方法以及形成装置

[发明专利]一种推扫成像的优化处理方法及系统-CN202210291593.6在审
发明人：谢成荫;杜志贵;杨峰;任维佳 -专利权人：长沙天仪空间科技研究院有限公司
申请日： 2019-09-26 - 公布日： 2022-07-05 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种推扫成像的优化处理方法及系统，在传感器探元进行推扫成像时，计算终端分析基于传感器探元推扫成像所获取的像元阵列的信噪比和对比度，并获取所述像元阵列至少包括信噪比和对比度的校正参数。在基于校正参数对像元阵列内的像元进行分区处理后，剔除串扰区域以生成初始残像。基于初始残像进行去噪处理，并对每个像元的初始残像的高频进行放大生成增强残像，对增强残像的尺寸进行等比例放大和裁剪以替代初始残像，从而生成第一像元阵列以增强成像细节，基于第一像元阵列内每个探元的灰度值进行移位以优化成像效果
一种成像优化处理方法系统

[发明专利]一种卫星遥感成像的优化处理方法及系统-CN202210308576.9在审
发明人：谢成荫;杜志贵;杨峰;任维佳 -专利权人：长沙天仪空间科技研究院有限公司
申请日： 2019-09-26 - 公布日： 2022-07-05 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：在卫星平台沿传感器探元排列方向采用90°偏航的方式进行推扫成像的情况下，计算终端基于传感器探元推扫成像获取的像元阵列进行质量评估，并获取像元阵列至少包括信噪比和对比度的校正参数。在基于校正参数对所述像元阵列内的像元进行分区处理后，剔除串扰区域以生成初始残像。基于初始残像进行去噪处理，并对每个像元的初始残像的高频进行放大生成增强残像；对增强残像的尺寸进行等比例放大和裁剪以替代初始残像，从而增强同一场景单元成像的像元构成的直线的细节。
一种卫星遥感成像优化处理方法系统

[发明专利]残像测试、消除方法和残像测试、消除装置-CN201510450701.X有效
发明人：张浩;孙伟;时凌云;孙海威 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司
申请日： 2015-07-28 - 公布日： 2019-06-14 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种残像测试、消除方法和残像测试、消除装置，涉及显示领域，能够解决现有残像评定不准确，无法进行准确修正的问题。本发明的残像测试方法，包括：显示面板播放残像测试画面；向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号；通过数据线获取所述像素电极上的电位信息。
测试消除方法装置

[发明专利]一种残像消除方法、驱动系统和显示装置-CN201510591014.X有效
发明人：闫龙 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司
申请日： 2015-09-16 - 公布日： 2018-09-04 - 主分类号： G09G3/36 文献下载
摘要：本发明提供一种残像消除方法、驱动系统和显示装置。该残像消除方法包括：预设灰度等级参考电压和/或公共电压、或者灰阶电压的抖动控制参数；灰度等级参考电压和/或公共电压、或者灰阶电压根据预设的抖动控制参数进行电压升高和/或降低抖动，以消除液晶显示器显示中的残像该残像消除方法能使灰度等级参考电压和/或公共电压、或者灰阶电压的抖动控制更加精确，从而不仅能消除液晶显示器显示中的残像，而且能使残像的消除效果更好，该残像消除方法还不会影响液晶显示器的正常显示。
一种消除方法驱动系统显示装置

[发明专利]一种显示器的残像等级评定装置及方法-CN201310007925.4有效
发明人：谢畅;柳在健 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2013-01-09 - 公布日： 2013-04-17 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明提供一种显示器的残像等级评定装置及方法，其中装置包括：用于获得显示器的测试画面的测试区域在一灰阶水平下，残像测试前的第一亮度的第一获得单元；用于获得测试区域在灰阶水平下，残像测试后的第二亮度的第二获得单元；用于获得第一亮度和第二亮度的亮度差值的第三获得单元；用于获得所述测试区域的残像等级和残像区域系数的第四获得单元；用于获得所述测试画面的残像等级的第五获得单元。本发明可以更加准确和全面给出显示器的残像等级。
一种显示器等级评定装置方法

[发明专利]一种平板探测器、射线成像设备及其驱动方法-CN202110436025.6在审
发明人：吴俊宇;徐帅;赵斌;许彬彬;陈超 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;北京京东方传感技术有限公司
申请日： 2021-04-22 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： G01T1/16 文献下载
摘要：本公开提供的一种平板探测器、射线成像设备及其驱动方法，包括：阵列排布的多个探测像素单元、栅极驱动电路、残像采集电路、系统电路和读取电路；其中，栅极驱动电路与各行探测像素单元分别电连接；残像采集电路与各行探测像素单元分别电连接，残像采集电路被配置为读取探测像素单元的残像信号；系统电路与残像采集电路、读取电路分别电连接，系统电路被配置为根据探测像素单元的残像信号控制读取电路是否读取探测像素单元的图像信号。
一种平板探测器射线成像设备及其驱动方法

[发明专利]残像等级评定方法及装置-CN200810118781.9无效
发明人：张培林 -专利权人：北京京东方光电科技有限公司
申请日： 2008-08-22 - 公布日： 2010-02-24 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种残像等级评定方法及装置，涉及显示技术领域，解决了现在人眼对显示器残像等级评定不准确的问题。本发明实施例通过获取到残像实验前后显示器显示参照图案的初始亮度和目标亮度，并计算目标亮度和初始亮度的差值，通过这个差值准确评定显示器的残像等级。本实施例主要用于对显示器的残像进行等级评定，如：液晶显示器、等离子显示器的残像等级评定等等。
等级评定方法装置

[发明专利]一种液晶显示面板的残像判断方法-CN201710912965.1有效
发明人：熊源 -专利权人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
申请日： 2017-09-29 - 公布日： 2020-03-31 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明了一种液晶显示面板的残像判断方法，该方法包括：控制液晶显示面板的显示画面以预设的间隔时间在残像检测画面与第一灰阶画面之间进行切换，观察液晶显示面板上是否存在正向残像；若存在，则将显示画面切换成第二灰阶画面，同时调节公共电压值，并在调节过程中观察液晶显示面板上是否存在反向残像；若不存在，则判定所述液晶显示面板存在短期残像。通过上述方式，本发明能够快速判断出液晶显示面板上的残像是否为短期残像。
一种液晶显示面板判断方法

[发明专利]一种显示面板的残像检测方法及装置、显示设备-CN202011045293.7在审
发明人：戴佳峰;李荣华 -专利权人：厦门天马微电子有限公司
申请日： 2020-09-28 - 公布日： 2020-12-25 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种显示面板的残像检测方法及装置、显示设备。所述显示面板的残像检测方法包括控制显示面板显示预设时长的棋盘格画面，控制显示面板显示具有第三灰阶的纯色画面，纯色画面包括多个子纯色画面，子纯色画面包括中间区和围绕中间区的多个边缘区；检测纯色画面中各边缘区的亮度；根据各边缘区的亮度以及边缘区残像量化值计算公式，计算获得各边缘区的残像量化值，根据各边缘区的残像量化值，确定显示面板的残像量化值。本发明实施例提供的技术方案，提高了显示面板残像量化值的准确性。
一种显示面板检测方法装置设备

[发明专利]一种显示面板的残像判别方法、装置、显示设备-CN201910527572.8有效
发明人：韦晓龙;孟松;曹春;谢恩明 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司
申请日： 2019-06-18 - 公布日： 2022-09-09 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明公开一种显示面板的残像判别方法、装置、显示设备，涉及显示技术领域，为确定显示面板产生残像的原因。所述显示面板的残像判别方法包括：对显示面板包括的各像素电路中的驱动晶体管进行特性参数补偿，并获取补偿后各驱动晶体管产生的驱动信号；获取补偿后的显示面板的显示亮度信息；根据补偿后各驱动晶体管产生的驱动信号和所述显示亮度信息，判断所述显示面板产生残像的原因。本发明提供的显示面板的残像判别方法用于判别显示面板产生残像的原因。
一种显示面板判别方法装置设备

[发明专利]具有画面残像消除功能的图像显示设备及其方法-CN200410021482.5无效
发明人：申在允 -专利权人：乐金电子(沈阳)有限公司
申请日： 2004-03-26 - 公布日： 2005-09-28 - 主分类号： H04N5/14 文献下载
摘要：具有画面残像消除功能的图像显示设备及其方法，包括设备中为各阶段所备的器件设置，其特征在于画面残像消除方法由如下的几个阶段构成：为了消除画面残像而设置一系列连续的操作模式的阶段；输入一个执行消除画面残指令的阶段；切断输入的图像信号从存储部被输出的阶段；依次去执行已设置的连续操作模式，从而执行消除画面残像的阶段；如果结束已设置的连续操作模式，那么将去显示正常输入的图像的阶段。通过本发明的画面残像消除方法，将可以防止在画面残像消除期间的产品发热现象和耗电上升的问题。
具有画面消除功能图像显示设备及其方法

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