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- [发明专利]一种微位移测试系统用微处理器外围电路-CN201510829864.9有效
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李荣正;戴国银;李慧妍
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上海工程技术大学
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2015-11-25
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2019-02-22
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G06F11/26
- 本发明公开了一种微位移测试系统用微处理器外围电路,用于连接微处理器,包括晶振电路和复位电路;所述晶振电路包括:与所述微处理器XTAL1接口和XTAL2接口连接的无源晶振,连接在所述微处理器的XTAL1接口和接地端之间的电容C19,连接在所述微处理器的XTAL2接口和接地端之间的电容C20;所述复位电路包括连接在所述微处理器的RST接口与+5V电源之间的极性电容E17,以及连接在所述微处理器的RST接口和接地端之间的电阻R9;其中所述极性电容E17的正极连接+5V电源,负极连接所述微处理器的RST接口。其技术效果是:其能够保证微处理器输出稳定的方波信号,同时防止微处理器发出错误的指令或执行错误操作,提高微处理器的电磁兼容性能。
- 一种位移测试系统微处理器外围电路
- [实用新型]电池保护装置-CN202020521181.3有效
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李斐;赵柏丞;高雄
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李斐;赵柏丞;高雄
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2020-04-10
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2020-09-11
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H01M10/42
- 所述保护装置包括微处理器模块,电压数据采集模块与所述微处理器模块的信号输入端连接;电流采集模块与所述微处理模块的信号输入端连接;中控锁开关状态采集模块与所述微处理器的信号输入端连接;温度采集模块与所述微处理器的信号输入端连接;数据传输模块与所述微处理器双向连接;启动模块与所述微处理器模块的信号输出端连接;控制输出模块与所述微处理器模块的信号输出端连接,用于根据微处理器模块输出的控制命令控制相应的模块进行动作。
- 电池保护装置
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