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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]分析方法以及分析装置-CN202210235236.8在审
发明人：朝田祥一郎;木村考伸;田中政道;铃木健一郎 -专利权人：希森美康株式会社
申请日： 2022-03-11 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G01N15/10 文献下载
摘要：提供能够对具有多个细胞种类的特征的细胞进行更详细的分析的新的分析方法以及分析装置。在对包含细胞的检体进行分析的分析方法中，检测将光照射到从检体调制出的测定试样而从细胞产生的光(S12)，根据检测到的光，关于检体中包含的多个细胞的各个细胞，获取细胞的特征数据(S12)，通过使用人工智能算法来解析特征数据
分析方法以及装置

[发明专利]分析方法以及分析装置-CN202210235266.9在审
发明人：朝田祥一郎;木村考伸;田中政道;铃木健一郎 -专利权人：希森美康株式会社
申请日： 2022-03-11 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G01N15/10 文献下载
摘要：本发明提供对具有多个细胞种类的特征的细胞进行分析的新的分析方法以及分析装置。在对包含细胞的检体进行分析的分析方法中，检测将光照射到从检体调制出的测定试样而从细胞产生的光(S12)，根据检测到的光，关于检体中包含的多个细胞的各个细胞，获取细胞的特征数据(S12)，通过使用人工智能算法来解析特征数据
分析方法以及装置

[发明专利]分析装置及分析方法-CN202080072972.5在审
发明人：森田伸义 -专利权人：日立安斯泰莫株式会社
申请日： 2020-09-18 - 公布日： 2022-06-07 - 主分类号： H04L9/40 文献下载
摘要：本发明为一种分析装置，其由计算机构成，所述计算机具有执行规定运算处理的运算装置和能供所述运算装置访问的存储装置，该分析装置具备：通信部，其供所述运算装置接收设备中搭载的信息处理装置的日志；攻击进行分析部，其供所述运算装置根据接收到的所述日志来算出从对所述设备侵入的侵入部位起到保护资产为止的路径上的侵害地点；以及紧急度判定部，其供所述运算装置根据所述攻击进行分析部得到的分析结果来判定针对攻击的对策的紧急度
分析装置方法

[发明专利]分析装置和分析方法-CN202210431988.1在审
发明人：大庭隼人;广瀬健一郎 -专利权人：株式会社基恩士
申请日： 2022-04-22 - 公布日： 2022-11-18 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明提供了分析装置和分析方法。一种分析观察装置包括：分析单元；主存储装置，用于读取物质库，在该物质库中，物质的类型与多个特性相关联；以及处理器，用于基于该物质库执行处理。
分析装置方法

[发明专利]分析装置及分析方法-CN202180091761.0在审
发明人：大津晓彦;吉留正洋;河田幸寿;西塔亮 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2021-12-08 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明提供一种能够分析半导体基板的表面上的更微小的缺陷的分析装置及分析方法。分析装置具有：表面缺陷测定部，测定半导体基板的表面上的缺陷的有无，关于半导体基板的表面上的缺陷，得到半导体基板的表面上的位置信息；及分析部，根据缺陷在半导体基板的表面上的位置信息对半导体基板的表面上的缺陷照射激光，将通过照射而得到的分析试样利用载气回收并进行电感耦合等离子体质谱分析。
分析装置方法

[发明专利]分析装置以及分析方法-CN201010254418.7有效
发明人：水本徹;立谷洋大 -专利权人：希森美康株式会社
申请日： 2010-08-12 - 公布日： 2011-04-06 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明能够提供操作人员可以得知异常的征兆的自动分析装置。该自动分析装置包括：对检测体进行测定并取得测定数据的测定部；对由所述测定部取得的测定数据进行解析并取得检测体中包含的粒子成分的分析结果的控制部；以及输出部，其中，所述控制部对述输出部进行控制，以便基于取得包括与规定的粒子成分的异常相关的信息的分析结果的频度
分析装置以及方法

[发明专利]分析装置以及分析方法-CN201510760854.4有效
发明人：福元信行;大泽则寿 -专利权人：长濑微电子科技有限公司
申请日： 2015-11-10 - 公布日： 2020-01-31 - 主分类号： G01N27/06 文献下载
摘要：本发明提供一种分析装置(100)，所述分析装置(100)包括：气泡分离器(10)，其将流入的液体分离为气泡的量相对较少的第一液以及气泡的量相对较多的第二液；分析器(20)，其对在气泡分离器(10)中分离出的第一液进行分析；滴定器(30)，其滴下在气泡分离器(10)中分离出的第二液；以及合流部(40)，其使从分析器(20)排出的第一液以及从滴定器(30)排出的第二液合流。
分析装置以及方法

[发明专利]分析装置以及分析方法-CN201510811813.3有效
发明人：千叶亨 -专利权人： HOYA株式会社
申请日： 2015-11-20 - 公布日： 2021-03-26 - 主分类号： A61B5/1455 文献下载
摘要：一种分析装置以及分析方法，其中分析装置包括：光源装置；摄像装置，所述摄像装置通过摄取所述光源装置发射的光照射到的生物组织而生成图像数据；以及指数计算单元，所述指数计算单元被配置成基于图像数据计算表示在生物组织中包含的第一生物物质与第二生物物质之间的摩尔比的指数，其中：所述光源装置在所述第一生物物质和所述第二生物物质吸收的第一照射波长范围的光与处于所述第一照射波长范围内的第二照射波长范围的光之间切换；并且所述指数计算单元基于通过摄取所述第一照射波长范围的所述光照射下的所述生物组织而获得的第一图像数据以及通过摄取所述第二照射波长范围的所述光照射下的所述生物组织而获得的第二图像数据计算所述指数
分析装置以及方法

[发明专利]分析方法以及分析装置-CN201780026892.4有效
发明人：小野雅之;系长诚;长谷川祐一;辻田公二;岩间茂彦 -专利权人： JVC建伍株式会社
申请日： 2017-04-28 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G01N33/543 文献下载
摘要：分析方法对由树脂材料形成的分析用基板(1)照射激光，所述分析用基板具有捕捉有检测对象物质(11)和微粒子(20)的反应区域(10)，所述微粒子(20)是用于标识检测对象物质(11)的金属化合物(步骤S2分析方法提取接受来自分析用基板(1)的反射光生成的信号电平作为基板信号电平(DL)(步骤S4)。分析方法接受来自反应区域(10)的反射光并生成受光电平信号(JS)(步骤S6)。分析方法提取反应区域(10)中比来自分析用基板(1)的反射光的受光电平高的信号电平的受光电平信号(JS)作为微粒子检测信号(KS)(步骤S7)。分析方法基于提取的微粒子检测信号(KS)来检测微粒子(20)(步骤S8)。
分析方法以及装置

[发明专利]分析芯片以及分析装置-CN201310298456.6有效
发明人：中山雄介;杉山幸司 -专利权人：爱科来株式会社
申请日： 2008-04-23 - 公布日： 2014-01-01 - 主分类号： G01N27/447 文献下载
摘要：本发明提供一种分析芯片以及分析装置，其在糖化血红蛋白和葡萄糖两者的分析中，能够使装置小型化、分析简略化以及能够缩短分析时间、且能够高精度地分析糖化血红蛋白和葡萄糖两者。所述芯片包括上基板（4）、下基板（1）、第1导入槽（2a）、第1回收槽（2b）以及试样分析用的毛细管流路（3x），在前述下基板（1）上形成有前述第1导入槽（2a）和前述第1回收槽（2b），前述第1导入槽（2a）与前述第1回收槽（2b）通过前述试样分析用的毛细管流路（3x）被连通。
分析芯片以及装置

[发明专利]分析芯片以及分析装置-CN201310298421.2有效
发明人：中山雄介;杉山幸司 -专利权人：爱科来株式会社
申请日： 2008-04-23 - 公布日： 2014-01-01 - 主分类号： G01N27/447 文献下载
摘要：本发明提供一种分析芯片以及分析装置，其在糖化血红蛋白和葡萄糖两者的分析中，能够使装置小型化、分析简略化以及能够缩短分析时间、且能够高精度地分析糖化血红蛋白和葡萄糖两者。所述芯片包括上基板（4）、下基板（1）、第1导入槽（2a）、第1回收槽（2b）以及试样分析用的毛细管流路（3x），在前述下基板（1）上形成有前述第1导入槽（2a）和前述第1回收槽（2b），前述第1导入槽（2a）与前述第1回收槽（2b）通过前述试样分析用的毛细管流路（3x）被连通。
分析芯片以及装置

[发明专利]分析装置和分析方法-CN201310433831.3有效
发明人：王浩 -专利权人：杭州美盛红外光电技术有限公司
申请日： 2013-09-22 - 公布日： 2021-03-23 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本发明的一种分析装置和分析方法，涉及热像装置，以及红外热成像检测的应用领域。现有技术的热像装置，拍摄时需依靠使用者的主观经验来设置针对被摄体热像的分析区域和分析模式，操作繁琐，影响热像状态评估的效果。本发明提供的分析装置和分析方法，在红外热像中重叠显示体现了被摄体预定形态特征的基准图像，以该基准图像作为拍摄被摄体热像的视觉参照，并通过分析区域和按照规定的分析模式对被摄体热像进行分析，获得分析结果，由此
分析装置方法

[发明专利]分析装置以及分析方法-CN201210109286.8有效
发明人：松本茂树 -专利权人：优志旺电机株式会社
申请日： 2012-04-13 - 公布日： 2012-12-26 - 主分类号： G01N33/558 文献下载
摘要：提供一种能够以高可靠性进行例如利用免疫层析法的被检物质的检测或者其定量的分析装置以及分析方法。该分析方法通过将具有根据检体中所包含的规定的被检物质产生显色反应的反应区域的试验片中的反应区域以及背景区域至少包含在视场区域内的拍摄部，获取反应区域和背景区域分别的图像数据，通过分析部进行根据反应区域的图像数据计算上述被检物质的浓度的浓度计算处理分析装置执行上述分析方法。
分析装置以及方法

[发明专利]分析装置及分析方法-CN201210080753.9有效
发明人：白木裕章;松本大辅;中山雄介;安达玄纪 -专利权人：爱科来株式会社
申请日： 2012-03-23 - 公布日： 2012-09-26 - 主分类号： G01N27/453 文献下载
摘要：本发明涉及一种分析装置及分析方法。分析装置(10)是使用设置有流路的微芯片(30)进行电泳的装置，分析装置(10)具有：冷却部(电子冷却元件(12)及驱动电路(13))，冷却微芯片(30)；电压施加部(电极(14a、14b)、电源电路(15))，向填充到微芯片(30)的流路(32)的缓冲液施加电压；光学分析部(光源(16)、受光元件(17)、分析部(18))，通过微芯片(30)，对导入到流路(32)的试料进行光学分析；控制部(20)，控制冷却部、电压施加部及光学分析部，控制部(20)使冷却部开始微芯片(30)的冷却，在微芯片(30)冷却后，使电压施加部及光学分析部工作。
分析装置方法

[发明专利]分析装置及分析方法-CN201110290147.5有效
发明人：水本徹;井上二三夫 -专利权人：希森美康株式会社
申请日： 2011-09-28 - 公布日： 2012-07-04 - 主分类号： G01N35/02 文献下载
摘要：本发明提供一种分析装置，该分析装置使用与被分析物同时使用的消耗品，以此分析被分析物，其包括：自动读取机构，通过消耗品或装消耗品的容器上的识别符读取有关该消耗品的第一产品信息；及控制部件，当所述自动读取机构通过识别符读取的信息是适当的第一产品信息时，允许进行分析作业，当所述自动读取机构未读取识别符时、或通过识别符读取的信息不是适当的第一产品信息时，促使操作人员手动输入包括用于确定消耗品制造商或销售商的信息在内的第二产品信息，在操作人员输入第二产品信息后，存储所输入的第二产品信息，允许进行分析作业。另外，本发明还提供一种用分析装置分析被分析物的方法。
分析装置方法

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