专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]表面形状测量装置-CN201410013637.4有效
  • 横田政义 - 奥林巴斯株式会社
  • 2014-01-10 - 2018-01-26 - G01B11/24
  • 一种表面形状测量装置,其使用光切割法对被检物的表面形状进行测量,其特征在于,该表面形状测量装置包括投影部,其具有光源单元和筒状的外周部,该外周部具有光能够透过并且沿周向设置的狭缝,该光源单元具有发光元件并配置在外周部,投影部从狭缝对被检物投影预定厚度的光束(B);以及摄像部,其对被检物的投影有光束的表面进行摄像。
  • 表面形状测量装置
  • [发明专利]轮胎表面形状测定装置以及轮胎表面形状测定方法-CN201810965980.7有效
  • 山际敏幸 - 住友橡胶工业株式会社
  • 2018-08-23 - 2022-08-19 - G01B7/28
  • 本发明提供一中能够对涉及多个方面的尺寸的充气轮胎的表面高精度地进行自动测定的轮胎表面形状测定测定装置以及轮胎表面形状测定方法。该轮胎表面形状测定装置具备:轮胎固定单元,其将输送来的充气轮胎固定并载置于测定台;轮胎定心单元,其通过使用等角度配置的三根以上的棒型辊从外周侧向内周侧按压载置好的轮胎来进行定心;以及轮胎表面形状测定单元,其一边使定心好的轮胎旋转一边测定轮胎的表面形状,轮胎表面形状测定单元使用涡流传感器作为轮胎表面检测传感器,将该涡流传感器插入轮胎的腔部并按压于轮胎表面,一边变更上下角度一边对从轮胎的表面至钢帘线为止的距离进行测定,由此测定轮胎表面形状
  • 轮胎表面形状测定装置以及方法
  • [发明专利]表面形状可变片材和表面形状可变装置-CN202010927692.X在审
  • 河林毅 - 株式会社捷太格特
  • 2020-09-07 - 2021-03-09 - H01L41/047
  • 本发明提供表面形状可变片材和表面形状可变装置。表面形状可变片材包括:由具有介电性的弹性材料制成的片材本体;设置在片材本体的第一表面侧的第一表面侧电极;和设置在作为第一表面的背表面的第二表面侧的第二表面侧电极,第二表面侧电极被构造成使得在第二表面侧电极和第一表面侧电极之间施加电压第一表面侧电极包括:第一电极,经由片材本体面对第二表面侧电极的第一部分;和第二电极,经由片材本体面对第二表面侧电极的第二部分,第二电极在第一表面侧与第一电极电独立。
  • 表面形状可变装置
  • [发明专利]表面形状测定机及表面形状测定方法-CN202080080859.1有效
  • 关本伦裕 - 株式会社东京精密
  • 2020-11-05 - 2023-04-25 - G01B5/20
  • 本发明提供能够抑制在旋转工作台设置分度工作台来测定工件的表面形状时的测定精度的降低的表面形状测定机及表面形状测定方法。表面形状测定机具备:旋转工作台,其载置工件,并以旋转中心为中心旋转自如;以及检测器,其具有与载置于旋转工作台的工件接触的测头,并检测测头的位移,旋转工作台具有用于调节工件的中心与旋转中心的定心机构,表面形状测定机具备装卸自如地设置于旋转工作台之上的分度工作台,分度工作台构成为能够沿着与旋转中心正交的第一轴以及第二轴进行分度进给,表面形状测定机具备将伴随着分度工作台的分度进给产生的偏心载荷抵消的偏心载荷抵消单元。
  • 表面形状测定方法
  • [发明专利]表面形状测定方法及表面形状测定装置-CN201380028544.2有效
  • 梅垣嘉之;原园学 - 杰富意钢铁株式会社
  • 2013-05-22 - 2017-04-12 - G01B11/22
  • 本发明的表面形状测定方法的特征在于,包括如下步骤搜索对物体的表面进行扫描而取得的位移数据,来检测包含加工在物体表面上的槽的物体表面的概略范围的槽概略范围检测步骤(步骤STP2);算出包含在概略范围的槽的槽起点及槽终点的槽宽算出步骤(步骤STP3);算出从槽起点和槽终点的中央位置限定在槽宽的规定比例的宽度的范围的位移数据的最小值的最深位置检测步骤;算出在最深位置检测步骤中算出的所述位移数据的最小值与所述物体表面的高度之差作为加工在所述物体表面上的槽的深度的槽深算出步骤
  • 表面形状测定方法装置
  • [发明专利]表面形状的测量方法和表面形状测量装置-CN202310270893.0在审
  • 森裕美子;加藤庆显 - 株式会社三丰
  • 2023-03-20 - 2023-09-22 - G01B11/30
  • 提供了能够减少测量时间的表面形状的测量方法和表面形状测量装置。表面形状的测量方法使用用于获取由参考光和测量光之间的光路差生成的干涉条纹图像的干涉仪光学头,通过使干涉仪光学头针对测量对象表面在沿干涉仪光学头的光轴的Z轴方向上从起点到终点进行扫描来获取N个干涉条纹图像,并且基于干涉条纹图像来对测量对象表面表面形状进行测量。在该测量方法中,针对N个干涉条纹图像中的共同位置,关于由指示沿Z轴方向的干涉光强度的变化的N个点的值构成的干涉信号,来确定由预定分析波长的光产生的干涉条纹的相位,并且基于该相位来确定分析波长的范围的测量对象表面
  • 表面形状测量方法测量装置
  • [发明专利]表面形状的测量方法和表面形状测量装置-CN202310270895.X在审
  • 森裕美子;加藤庆显 - 株式会社三丰
  • 2023-03-20 - 2023-09-22 - G01B11/30
  • 提供能减少测量时间的表面形状的测量方法和表面形状测量装置。,根据通过对由指示干涉光强度沿Z轴方向的变化的N个点的值构成的干涉信号的平方值或绝对值进行积分而获得的、由N个点的值构成的积分曲线来确定:起点侧噪声部直线,其近似起点侧噪声部,起点侧噪声部位于测量对象表面的起点侧并且对应于斜率小于测量对象表面附近的斜率的范围;终点侧噪声部直线,其近似终点侧噪声部,终点侧噪声部位于所述测量对象表面的终点侧并且对应于斜率小于测量对象表面附近的斜率的范围;以及表面邻近直线,其近似与测量对象表面附近相对应的表面邻近部。
  • 表面形状测量方法测量装置
  • [发明专利]表面形状测量装置-CN200610126498.1有效
  • 松宫贞行;伊贺崎史朗;山县正意 - 株式会社三丰
  • 2006-09-01 - 2007-03-07 - G01B21/00
  • 本发明提供一种表面形状测量装置,包括:测量部(210),由具有检测作用于接触部(212)的测量力的测量力检测电路(219)的振荡式接触探头构成;移动单元(三维驱动机构(300)、上下驱动机构(220)),使测量部(210)相对于被测量物表面(S)进行移动;以及驱动控制部(400),根据从测量力检测电路(219)输出的测量力的大小控制移动单元。驱动控制部(400),包括:仿形测量控制部(410),使接触部沿着被测量物表面(S)进行仿形移动,使得测量力成为仿形指定测量力;和触碰测量控制部(420),连续地进行触碰测量被测量物表面(S)的动作,以使接触部(212)以触碰检测测量力断续地接触被测量物表面(S)。
  • 表面形状测量装置
  • [发明专利]表面形状测量设备-CN201110034607.8无效
  • 闵钟求;金承佑;刘俊浩;金煐植;张玄俊 - 三星电机株式会社;韩国科学技术院
  • 2011-01-30 - 2012-05-23 - G01B11/24
  • 在此公开了一种表面形状测量设备,该设备包括:光源,该光源将光发射至样品;空间光调制器,该空间光调制器安装于所述光源与所述样品之间的光路上,用于以像素为单位,对从所述光源发射至所述样品的光量进行空间控制;,该控制器通过控制穿过所述空间光调制器(SLM)的光量以及反射自所述样品的待检测光,控制发射自所述光源的光发射至所述样品,藉此由空间光调制器以像素为单位,对发射至所述样品的光量进行空间控制,从而可改善表面形状测量性能
  • 表面形状测量设备
  • [发明专利]表面形状的测量-CN96199794.X无效
  • P·瑟顿;M·米尔斯;P·J·斯科特;R·G·怀特;D·R·怀特勒 - 泰勒·霍布森有限公司
  • 1996-12-06 - 1999-02-10 - G01B21/04
  • 通过触针(9)检测工件(10)的名义上的柱面表面(10a),触针(9)相对于确定参考基准(B)的支柱(5)沿该表面的轴动轴(A)的径向可以移动,从而触针(9)可以在沿表面的一个指定高度跟踪柱面表面。实现工件(10)和触针(9)绕表面(10a)的转动轴(A)的相对转动,并且使用触针(9)的位移来确定有关在该高度的表面的径向形状的信息。在不同高度沿表面重复这些测量113确定它的柱面形状。测量触针和工件转动180°的前、后触针(9)在每一高度自表面上的一个指定点的位移,用最终的测量值来补偿参考基准的任何误差和偏差。
  • 表面形状测量
  • [实用新型]表面形状测量系统-CN99257603.2无效
  • 邱大明 - 北京中联发机电技术有限责任公司
  • 1999-12-22 - 2001-01-10 - G01N21/45
  • 本实用新型属于光学测量领域,特别涉及物体表面形状测量系统。本实用新型由投影云纹干涉仪、载物台及计算机图像处理系统三部分组成,全部安装在一个工作台面上。测量时,将被测物体安装在载物台,利用云纹干涉技术获取表面型面特征信息,由摄像机接收并由计算机将信息处理以形成物体表面各点X、Y、Z坐标,全部测量在1—5分钟完成。本实用新型测量系统具有非接触、快捷和全场测量的优点,特别适用于机器制造领域的叶片制造业及其他高科技制造领域的物体表面形状测量。
  • 表面形状测量系统

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