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[实用新型]头戴显示设备-CN202222222518.2有效
发明人：吴渊元;周亚峰 -专利权人：闪耀现实（无锡）科技有限公司
申请日： 2022-08-23 - 公布日： 2023-02-21 - 主分类号： G02B27/01 文献下载
摘要：本公开实施例提供一种头戴显示设备，包括：光学组件，用于显示虚拟图像；光学传感模块，位于光学组件附近；调光组件，设置在光学组件背离用户眼部的一侧；调光组件包括：透过率可调区域以及透过率不可调区域；透过率可调区域用于调节射入光学组件的环境光的透过率；透过率不可调区域的位置与光学传感模块的安装位置对应，用于使射入光学传感模块的环境光的透过率保持不变。利用本公开的头戴显示设备，由于其所包括的调光组件具有透过率不可调区域，透过率不可调区域可使射入的环境光线的透过率不发生改变，从而保证调光组件遮盖区域内对应位置的光学传感模块可正常工作。
显示设备

[发明专利]一种透过率测量准确性标定方法-CN201910338867.0在审
发明人：刘卫静;廖志杰;何毅;林妩媚;邢廷文 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2019-04-25 - 公布日： 2019-07-19 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种透过率测量准确性标定方法，该方法用于光学元件透过率测量装置的透过率测量准确性标定中。根据光学元件基片透过率稳定的特点，测量光学元件单片及多片组合的透过率，通过比较多个基片的透过率测量值和单个基片测量结果计算得到多个基片透过率计算值，得到透过率测量的准确性。
透过率测量标定透过率测量光学元件光学元件基片单个基片多片组合光学元件单片

[发明专利]一种用于光学元件反射率/透过率测量的综合测量装置-CN201610973144.4在审
发明人：李斌成;崔浩;王静 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2016-11-04 - 公布日： 2017-02-22 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于光学元件反射率/透过率测量的综合测量装置，其中：激光光源分束成两束激光，一束激光耦合进入到稳定的光学谐振腔，采用光腔衰荡技术测量高反射光学元件(反射率大于99％)的反射率或高透射光学元件(透过率大于99％)的透过率；另一束激光进入分光光度法测量光路，利用比率法测量反射/透射光学元件(反射率/透过率小于99％)的反射率/透过率。本发明方法能测量反射/透射光学元件任意的反射率/透过率，并对高反射率/透过率测量的测量精度比传统分光光度技术高至少2个数量级。
一种用于光学元件反射率透过测量综合装置

[发明专利]一种薄膜偏振光学元件偏振比测量方法-CN202010748247.7有效
发明人：李斌成;王静 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2020-07-30 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01J4/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种薄膜偏振光学元件偏振比测量方法，薄膜偏振光学元件的s光透过率Ts采用光腔衰荡方法测量，p光透过率Tp采用分光光度方法测量，偏振比由公式PR＝Tp/Ts计算得到。本方法利用薄膜偏振光学元件对s光的反射率高、透过率低的特性，采用光腔衰荡方法测量高反射光学元件的低透过率，提高了透过率测量精度，从而大大提高了薄膜偏振光学元件偏振比测量的精度。
一种薄膜偏振光学元件测量方法

[实用新型]一种能产生波长为228nm深紫外全固态激光装置-CN201821319451.1有效
发明人：李再金;李林;赵志斌;曾丽娜;曲轶;彭鸿雁 -专利权人：海南师范大学
申请日： 2018-08-16 - 公布日： 2019-04-19 - 主分类号： H01S3/0941 文献下载
摘要：99%、808.5nm、1064nm和1342nm处透过率大于95%的光学膜，后表面镀有914nm处透过率大于99%、1064nm和1342nm处透过率大于95%的光学膜的Nd:YVO₄激光晶体；前表面镀有914nm、1064nm和1342nm处透过率大于99%的光学膜，后表面镀有457nm处高反射率大于99%、914nm、1064nm和1342nm处透过率大于99%的光学膜的平面镜M1；前后表面镀有914nm和457nm处透过率大于99%光学膜的LBO倍频晶体；前表面镀有914nm处高反射率大于99%、457nm、1064nm和1342nm处透过率大于99%的光学膜，后表面镀有457nm、1064nm和1342nm处透过率大于99%、228nm处高反射率大于98%光学膜的平面镜M2；前后表面镀有457nm和228nm处透过率大于99%光学膜的BBO倍频晶体；凹面表面镀有457nm处高反射率大于99%、228nm处透过率大于95%的光学膜，平面表面镀有228nm处透过率大于99%的凹平面镜M3；中心波长228nm±5nm、半高全宽35nm±10nm和峰值透过率大于30%、截止带为350nm到1150nm
透过率光学膜高反射率表面镀后表面平面镜前表面全固态激光装置波长半导体激光二极管本实用新型凹面表面激光晶体平面表面中心波长装置实现聚焦镜滤光片全固态激光截止输出

[发明专利]聚乙烯醇系光学膜及其制备方法-CN201710393368.2在审
发明人：吕惠霞;张军华;黎园;胡腊梅 -专利权人：中国石油化工集团公司;中国石化集团四川维尼纶厂
申请日： 2017-05-27 - 公布日： 2017-09-15 - 主分类号： G02B5/30 文献下载
摘要：本发明申请公开了一种聚乙烯醇系光学膜及其制备方法，制备原料包含聚乙烯醇、增塑剂、表面活性剂和抗氧剂，光学膜上任意区域的膜片，在400‑1000nm的波长范围测试光学膜的光学透过率，光学透过率为90±3%，其光学透过性优良。本发明的光学膜在400‑1000纳米的波长范围内，光学膜具有优良的光学透过性。
聚乙烯醇光学及其制备方法

[发明专利]一种同时测量高反射/高透射光学元件的反射率、透过率、散射损耗和吸收损耗的方法-CN201710332425.6有效
发明人：李斌成;崔浩;王静;高椿明 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2017-05-12 - 公布日： 2020-09-22 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种同时测量高反射/高透射光学元件的反射、透过、散射和吸收的方法，该方法基于光腔衰荡技术，先测量初始光学谐振腔的衰荡时间τ0，然后加入待测高反射/高透射光学元件，测量测试光学谐振腔的衰荡时间τ1，经计算得到高反射/高透射光学元件的反射率/透过率；同时测量高反射/高透射光学元件的透射/反射光强信号和散射光强信号与输出腔镜的透射光强信号的比值，通过定标得到高反射/高透射光学元件的反射率、透过率和散射损耗；光学元件的吸收损耗通过反射率、透过率和散射损耗求得。该测量方法不仅可测量高反射/高透射光学元件的反射率、透过率、散射损耗和吸收损耗，而且可对其分布实现高分辨率二维成像。
一种同时测量反射透射光学元件反射率透过散射损耗吸收方法

[外观设计]光学透过率测试仪-CN202030270361.4有效
发明人：张庸夫 -专利权人：深圳市林上科技有限公司
申请日： 2020-06-02 - 公布日： 2020-09-29 - 主分类号： 10-04 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：光学透过率测试仪。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于测量玻璃、亚克力、薄膜，塑料以及透明及半透明物体的透光率。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。
光学透过测试仪

[发明专利]一种基于光腔衰荡技术同时测量高反射/高透射光学元件的反射率和透过率的方法-CN201610972470.3有效
发明人：李斌成;崔浩;王静 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2016-11-04 - 公布日： 2019-04-02 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于光腔衰荡技术同时测量高反射/高透射光学元件的反射率和透过率的方法，步骤为：采用光腔衰荡技术，先测量初始光腔的衰荡信号并拟合得到初始光腔的衰荡时间。然后加入待测高反射/高透射光学元件形成稳定测试光腔，分别测量从待测光学元件输出和输出腔镜输出的衰荡信号并拟合得到测试光腔的衰荡时间，经计算得到高反射光学元件的反射率或高透射光学元件的透过率；同时将待测光学元件输出的光腔衰荡信号幅值与输出腔镜输出的光腔衰荡信号幅值进行比值计算，通过定标得到高反射光学元件的透过率或高透射光学元件的反射率。该测量方法不仅可测量高反射/高透射光学元件的反射率和透过率，而且可对其反射率和透过率分布实现高分辨率二维成像。
一种基于光腔衰荡技术同时测量反射透射光学元件反射率透过方法

[发明专利]天文光学望远镜光电效率计算及实测验证方法-CN202110482419.5有效
发明人：刘伟 -专利权人：中国科学院紫金山天文台
申请日： 2021-04-30 - 公布日： 2022-08-02 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本是发明公开了天文光学望远镜光电效率计算方法及实测验证方法，其中天文光学望远镜光电效率计算方法包括以下步骤：步骤一、统计天文光学望远镜各透光元器件在不同波段的透过率数据，根据数据，绘制成各透光元器件透过率‑波长曲线；步骤二、采用matlab进行编程，先加载这些透过率‑波长曲线的数据，再对各透过率‑波长曲线进行插值提取出各透光元器件在该插值处的透过率的值，将这些值进行相乘，得到插值处的总体效率，最后将总体效率拟合成透光元器件综合透过率曲线本发明在完成望远镜的设计与镀膜之后对望远镜的整体的透过率进行计算，得到透光元器件综合透过率曲线，进而获得天文光学望远镜各波长处的整体光电效率，方法简单实用。
天文光学望远镜光电效率计算实测验证方法

[发明专利]一种用于多生理参数检测仪器校准的装置-CN202211630121.5在审
发明人：刘鹏;刘志豪;申书伟;孙明斋;徐晓嵘 -专利权人：中国科学技术大学苏州高等研究院
申请日： 2022-12-19 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： A61B5/0205 文献下载
摘要：该装置包括：滤光模块、控制模块、光学透过率调制模块以及反光模块；反光模块上开设有前后对应的进光孔和出光孔；滤光模块、光学透过率调制模块安装在反光模块中；控制模块与光学透过率调制模块相连；滤光模块用于过滤发光管发出的光线，控制模块根据输入的生理参数控制光学透过率调制模块实现连续的透射率的任意变化。该装置利用光学手段结合可编程光学透过率调制模块，实现对人体多参数的数字化模拟，可辅助基于生物组织对光的衰减效应的生理参数检测仪器的校准，帮助提升检测仪器的开发效率和性能。
一种用于生理参数检测仪器校准装置

[发明专利]于光学镀膜时通过透过式光控计算镀膜材料折射率的方法-CN202310088820.X在审
发明人：周荣铿 -专利权人：贵州铜仁旭晶光电科技有限公司
申请日： 2023-02-09 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： G16C60/00 文献下载
摘要：本发明公开一种于光学镀膜时通过透过式光控计算镀膜材料折射率的方法，其包括获取未镀膜平面监控片于真空状态下的透过率T0；计算未镀膜平面监控片于所述真空状态下的单面反射率系数R0和折射率Ns；获取镀膜过程中的镀膜材料的最值透过率T；计算镀膜材料的最值透过系数Te和于光学镀膜状态下的镀膜材料折射率Nf。本发明提供的于光学镀膜时通过透过式光控计算镀膜材料折射率的方法，基于透射式光控原理，实现获得于光学镀膜过程中镀膜材料的精确折射率的计算过程和公式，该方法对于光学镀膜透过式监控的平面玻璃监控片监控具有普适性
光学镀膜通过透过光控计算材料折射率方法

[发明专利]材料放气对光学透过率影响分析试验系统-CN201410515653.3有效
发明人：于钱;臧卫国;杨东升;院小雪;田东波;姜海富;周晶晶 -专利权人：北京卫星环境工程研究所
申请日： 2014-09-29 - 公布日： 2014-12-24 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本发明公开了一种材料放气组分沉积污染物对光学透过率影响的分析试验系统，包括真空环境单元、材料放气单元、污染沉积量测试单元及光学透过率取样分析单元。本发明的材料放气组分沉积污染物对光学透过率影响的分析试验系统，能够快速建立空间真空环境，针对各类非金属材料，开展不同放气温度环境、不同沉积温度环境及不同污染物量级污染物对光学表面透过率影响的测试分析。
材料放气光学透过影响分析试验系统

[发明专利]一种高透过率触摸屏透明导电玻璃及其制备方法-CN201010258327.0无效
发明人：陈奇;许沭华;张兵;李林;罗雷;夏大映;朱磊 -专利权人：芜湖长信科技股份有限公司
申请日： 2010-08-17 - 公布日： 2010-12-22 - 主分类号： C23C14/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种高透过率触摸屏透明导电玻璃及其制备方法，高透过率触摸屏透明导电玻璃包括玻璃基板(1)，以及在玻璃基板(1)的至少一个表面依次沉积一组光学增透膜和ITO膜层(4)，光学增透膜包括TiO2薄膜层该种高透过率触摸屏透明导电玻璃的技术在于光学增透膜技术和真空镀膜技术，这包括光学增透膜系的设计、多层光学薄膜的真空磁控溅射沉积技术和膜层均匀性保证技术等，光学增透膜是通过高、低折射率介质膜材料及不同λ/4倍数的膜厚叠加产生一定的光学干涉特性，从而实现了透过率的提高，得到透过率高、均匀性好的ITO透明导电玻璃。
一种透过触摸屏透明导电玻璃及其制备方法

[实用新型]一种高透过率触摸屏透明导电玻璃-CN201020297263.0无效
发明人：陈奇;许沭华;张兵;李林;罗雷;夏大映;朱磊 -专利权人：芜湖长信科技股份有限公司
申请日： 2010-08-17 - 公布日： 2011-04-13 - 主分类号： C03C17/245 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种高透过率触摸屏透明导电玻璃，高透过率触摸屏透明导电玻璃包括玻璃基板(1)，以及在玻璃基板(1)的至少一个表面依次沉积一组光学增透膜和ITO膜层(4)，光学增透膜包括TiO2薄膜层(2该种高透过率触摸屏透明导电玻璃的技术在于光学增透膜技术和真空镀膜技术，这包括光学增透膜系的设计、多层光学薄膜的真空磁控溅射沉积技术和膜层均匀性保证技术等，光学增透膜是通过高、低折射率介质膜材料及不同λ/4倍数的膜厚叠加产生一定的光学干涉特性，从而实现了透过率的提高，得到透过率高、均匀性好的ITO透明导电玻璃。
一种透过触摸屏透明导电玻璃

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