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[发明专利]基于动态神经网络的闪存可靠性等级在线预测方法和装置-CN202110066133.9在审
发明人：齐明阳;潘玉茜;张浩明;刘政林 -专利权人：置富科技（深圳）股份有限公司
申请日： 2021-01-19 - 公布日： 2021-05-18 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于动态神经网络的闪存可靠性等级在线预测方法、装置、存储介质及计算机设备。，建构待预测闪存芯片的数据集合；将待预测闪存芯片的数据集合中的第一子集作为动态神经网络的输入，运行动态神经网络，得到第一闪存可靠性等级预测模型，并通过第一闪存可靠性等级预测模型得到初始可靠性等级预测结果；根据初始可靠性等级预测结果和待预测闪存芯片的实际可靠性等级测试结果，优化第一闪存可靠性等级预测模型的模型参数，得到第二闪存可靠性等级预测模型；将待预测闪存芯片数据集合中的第二子集输入到第二闪存可靠性等级预测模型中，得到待预测闪存芯片的可靠性等级的预测结果。上述方法可以提高闪存芯片可靠性等级的预测准确度和灵活度。
基于动态神经网络闪存可靠性等级在线预测方法装置

[发明专利]一种基于闪存制程差异的数据布局方法-CN201710601039.2在审
发明人：石亮;李乔;薛春 -专利权人：重庆大学
申请日： 2017-07-21 - 公布日： 2017-11-21 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于闪存制程差异的数据布局方法，主要包括以下步骤判断闪存中数据的读热度，将频繁读的热读数据分配或者移动到闪存中可靠性较高的闪存块；当可靠性高的闪存块中没有更多的空间分配给热读数据时，在可靠性高的闪存块中以闪存块为单位判断冷读数据，并将整个闪存块中的数据移动到可靠性低的闪存块中；完成移动后擦除闪存块，将热读数据移动到该块中。本发明具有如下的优点由于闪存读操作需要的时间与待读数据的可靠性直接相关，将热读数据布局在可靠性高的闪存块中，有利于闪存整体读性能的改善。
一种基于闪存差异数据布局方法

[发明专利]闪存芯片可靠性等级预测方法、装置及存储介质-CN202110066138.1在审
发明人：陈卓;张浩明;潘玉茜;刘政林 -专利权人：置富科技（深圳）股份有限公司
申请日： 2021-01-19 - 公布日： 2021-05-18 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种闪存芯片可靠性等级预测方法、装置及存储介质。其中方法包括：对待预测闪存芯片进行闪存操作，并在闪存操作过程中采集待预测闪存芯片的至少一种特征量；对待预测闪存芯片的至少一种特征量进行运算操作，得到待预测闪存芯片的特征运算值，依据待预测闪存芯片的特征量和待预测闪存芯片的特征运算值，建构待预测闪存芯片的数据集合；将待预测闪存芯片的数据集合中的第一子集输入到第一闪存可靠性等级预测模型的优化程序中，并对第一闪存可靠性等级预测模型进行参数调整，得到第二闪存可靠性等级预测模型；将待预测闪存芯片数据集合中的第二子集输入到第二闪存可靠性等级预测模型中，得到待预测闪存芯片的可靠性等级的第一预测结果。上述方法可以提高闪存芯片可靠性等级的预测准确度。
闪存芯片可靠性等级预测方法装置存储介质

[发明专利]闪存的可靠性测试方法及计算机可读存储介质-CN202111150386.0在审
发明人：陈宏 -专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请日： 2021-09-29 - 公布日： 2021-12-24 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明提供了一种闪存的可靠性测试方法及计算机可读存储介质，所述闪存的可靠性测试方法包括：对闪存单元执行第一擦除测试，第一擦除测试合格的闪存单元为第一闪存单元；对第一闪存单元执行写入测试，写入测试合格的第一闪存单元为第二闪存单元，写入测试不良的第一闪存单元为第三闪存单元；对第二闪存单元及第三闪存单元执行第二擦除测试，第二擦除测试不良的第三闪存单元为可靠性不良单元。通过将第三闪存单元继续后续的测试，并利用后续的第二擦除测试从第三闪存单元中筛选出其中的第二擦除测试不良，并将其判定为可靠性不良单元，由此将可靠性不良单元有效区分于普通不良单元，从而达到从可靠性测试中有效筛出可靠性不良单元的目的
闪存可靠性测试方法计算机可读存储介质

[发明专利]一种基于数学模型的闪存分类方法及装置-CN202110170491.4有效
发明人：刘政林;林羽盛;潘玉茜;张浩明 -专利权人：置富科技（深圳）股份有限公司
申请日： 2021-02-08 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G11C16/14 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于数学模型的闪存分类方法及装置，该方法包括：获取目标闪存Tm次编程/擦除操作后的特征量；对所述特征量进行运算，得到特征量运算数据集合；基于特征量运算数据或所述特征量和特征量运算数据的组合构建表征闪存可靠性的数学模型；获取待分类闪存的特征量；将所述待分类闪存的特征量输入所述数学模型，得到所述待分类闪存的闪存可靠性数据，根据所述闪存可靠性数据来判断闪存可靠性等级，从而根据所述闪存可靠性等级来对所述待分类闪存进行分类。本发明能够根据闪存的可靠性等级对闪存进行分类，可以帮助使用者提前了解闪存的耗损程度，能够根据不同的使用场景选取相应等级的闪存，进而及时调整闪存的存储策略。
一种基于数学模型闪存分类方法装置

[发明专利]一种闪存的可靠性测试方法及可靠性测试装置-CN202211339013.2在审
发明人：袁伟 -专利权人：合肥大唐存储科技有限公司
申请日： 2022-10-28 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本文公开一种闪存的可靠性测试方法及可靠性测试装置，包括：对Nand闪存中包含的每一个块分别进行测试操作；根据测试操作获得的Nand闪存的所有块的测试操作结果，确定Nand闪存的可靠性信息；其中，测试操作包括本发明实施例通过对Nand闪存中包含的块进行测试操作的测试操作结果，实现了闪存的可靠性测试，在降低可靠性测试运算量的同时，提升了可靠性测试的稳定性。
一种闪存可靠性测试方法装置

[发明专利]一种基于操作时间或电流判断闪存芯片可靠性的方法及测试装置-CN201810502719.3有效
发明人：潘玉茜;李四林 -专利权人：武汉忆数存储技术有限公司
申请日： 2018-05-23 - 公布日： 2021-04-27 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明属于闪存芯片可靠性测试技术，尤其是涉及一种通过操作时间或电流判断闪存芯片可靠性的方法及测试装置。本发明首先通过测试装置采集样本闪存芯片的操作时间或电流，然后对数据进行分析处理，建立数据与闪存芯片可靠性的对应关系，再由测试装置收集待测闪存芯片的操作时间和电流，最后结合可靠性的对应关系判断待测芯片的可靠性本发明中提出的判断闪存芯片可靠性方法与一般方法相比，不易受到闪存中存储数据取值的干扰，同时克服了一般方法无法有效防止闪存突然失效而造成数据损失的缺点。
一种基于操作时间电流判断闪存芯片可靠性方法测试装置

[发明专利]存储成品的可靠性评价方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310147769.5在审
发明人：潘玉茜;张浩明;蔡康伟;周全元;肖军 -专利权人：武汉置富半导体技术有限公司
申请日： 2023-02-21 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本申请公开了一种存储成品的可靠性评价方法、装置、电子设备及存储介质，涉及闪存技术领域，解决了目前存在重复的编程和擦除操作使得闪存芯片氧化层变薄以及阈值电压偏移，造成固态硬盘的可靠性难以评价的问题。该方法包括：响应于闪存测试请求，生成闪存测试指令文件，将闪存测试指令文件发送至闪存测试请求指示的存储成品；接收测试数据集，采用预设筛选模型对测试数据集进行处理，得到可靠性数据；获取多个可靠性评价，将可靠性数据与每个可靠性评价对应的数值区间进行比对，确定目标可靠性评价并输出。
存储成品可靠性评价方法装置电子设备介质

[发明专利]一种面向长时间存储的闪存可靠性测试、预测方法-CN202310182421.X在审
发明人：刘政林;潘玉茜;于润泽;汪钊旭 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2023-02-28 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种面向长时间存储的闪存可靠性测试、预测方法。本发明提供的面向长时间存储的闪存可靠性测试方法，基于3D NAND闪存可靠性机制设计能够更好地模拟闪存芯片在长时间存储场景下的可靠性下降过程，考虑自修复效应与阈值电压抖动对测试结果的影响，由于闪存芯片在短时间内错误数的波动较大，因此将其静置预设时间，从而提高测试结果的精度，使测试结果更贴近芯片的实际可靠性。本发明提供的面向长时间存储的闪存可靠性预测方法，以相同制造工艺为基准，在制造工艺相同的多个不同型号芯片测试数据的基础上建立可靠性预测模型，模型具有更好的泛化能力，从而实现对相同制造工艺下的闪存芯片的可靠性预测
一种面向长时间存储闪存可靠性测试预测方法

[发明专利]闪存的异常检测方法、装置、计算机设备及存储介质-CN202110159245.9有效
发明人：刘政林;汪钊旭;陈卓;张浩明 -专利权人：置富科技（深圳）股份有限公司
申请日： 2021-02-05 - 公布日： 2022-01-18 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种闪存的异常检测方法、装置、计算机设备及存储介质，涉及信息技术领域，主要在于能够根据闪存对应的可靠性等级对闪存进行异常检测，从而能够避免由于闪存异常导致的数据存储错误。其中方法包括：获取闪存芯片中待检测闪存块对应的属性特征；将所述属性特征输入至预设可靠性预测模型进行低频可靠性预测，得到所述待检测闪存块对应的低频预测结果；若所述低频预测结果不满足预设可靠性等级要求，则将所述属性特征输入至所述预设可靠性等级模型进行高频可靠性预测，得到所述待检测闪存块对应的高频预测结果；根据所述高频预测结果，判定所述待检测闪存块是否存在异常。本发明适用于闪存的异常检测。
闪存异常检测方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]基于智能体的闪存可靠性动态侦测方法、系统及电子设备-CN202210061216.3在审
发明人：刘政林;潘玉茜;张婵婵;张浩明 -专利权人：武汉置富半导体技术有限公司
申请日： 2022-01-19 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：本申请公开了一种基于智能体的闪存可靠性侦测方法、系统及电子设备，其方法包括：获取目标闪存存储单元的状态，根据状态为目标闪存存储单元分配目标智能体；由目标智能体确定目标闪存存储单元的实际可执行动作，将目标闪存存储单元执行实际可执行动作后的可靠性作为实际可靠性结果；由目标智能体基于状态‑动作映射权值确定目标闪存存储单元的侦测执行动作，将目标闪存存储单元执行侦测执行动作后的可靠性作为侦测可靠性结果；根据实际可靠性结果与侦测可靠性结果，确定相符程度的评估结果；将评估结果发送至目标智能体以使目标智能体更新并保存状态本申请动态优化智能体可靠性侦测策略，适用不同存储介质，保障数据存储完整性。
基于智能闪存可靠性动态侦测方法系统电子设备

[发明专利]闪存的可靠性测试方法-CN201310032785.6有效
发明人：钱亮 -专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请日： 2013-01-28 - 公布日： 2016-11-16 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明公开了一种闪存的可靠性测试方法，该方法通过两次测试步骤来对闪存进行筛选，第一次测试步骤直接筛选出不良品，将不能判定为不良品的闪存作为待确认良品，以便在第二次测试步骤中对该待确认良品进行进一步的测试，经过两次测试之后才筛选出真正的良品，提高了可靠性测试方法的准确度。另外，两次测试步骤中均对闪存施加电压应力，正确模拟了闪存在25℃（室温）条件下使用10年时所承受的正常应力条件，因而能够利用电压应力来激发闪存在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效，进而能够利用该可靠性测试方法来对失效反应活化能较低的闪存进行筛选
闪存可靠性测试方法

[实用新型]可靠性闪存存储装置-CN200820215149.1有效
发明人：庄志青;黄明 -专利权人：苏州亮智科技有限公司
申请日： 2008-12-12 - 公布日： 2010-07-14 - 主分类号： G11C7/10 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种闪存存储装置，包括通过内部总线(130)连接的至少一个微处理器(110)、至少一个主机接口(160)和主机接口控制器(161)、至少一个内部缓存(120)、16位数据总线的闪存控制器组成的阵列(140)、8位数据总线的闪存芯片构成的闪存存储单元阵列(150)。闪存控制器的控制总线同时和同一闪存单元0芯片及1芯片连接，其16位数据总线中8位连接0芯片，其余8位连接1芯片，闪存控制器当中有一个数据重复逻辑单元。本实用新型可以提高存储数据的安全性和可靠性。
可靠性闪存存储装置

[发明专利]提高闪存可靠性的缓存管理方法、装置、设备和储存介质-CN202211341478.1有效
发明人：曾令仿;毛波;吴素贞;杜春锋;陈光;李勇;朱世强 -专利权人：之江实验室
申请日： 2022-10-31 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本发明公开了提高闪存可靠性的缓存管理方法、装置、设备和储存介质，该装置包括主控模块、缓存管理模块和可靠性记录表，该方法是通过主控模块进行闪存的控制和管理，缓存管理模块管理读缓存和写缓存，可靠性记录表记录数据块在缓存中的驻留时间此方法减轻闪存块由于接近擦除极限而导致的数据丢失问题，从而在保证闪存存储性能的同时提高了闪存存储的可靠性。
提高闪存可靠性缓存管理方法装置设备储存介质

[发明专利]提高固态硬盘可靠性方法和装置-CN201310744083.0在审
发明人：黎燕;周建华;王斐 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2013-12-30 - 公布日： 2014-04-09 - 主分类号： G06F11/14 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种提高固态硬盘可靠性方法和装置。本发明提高固态硬盘可靠性方法，包括：判断固态硬盘的第一闪存颗粒是否即将失效，若确定第一闪存颗粒即将失效，则禁止向第一闪存颗粒写入数据，将第一闪存颗粒上的数据迁移到固态硬盘上的第二闪存颗粒上，第二闪存颗粒为固态硬盘的有效颗粒从而解决了在固态硬盘的闪存颗粒失效后，整个固态硬盘可靠性不能保证甚至不能使用的问题，提高了固态硬盘的可靠性。
提高固态硬盘可靠性方法装置

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