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[发明专利]大口径离轴非球面光学元件几何参数的测算方法-CN201310517036.2有效
发明人：郭玲玲;任建岳;张星祥;张立国;何斌;李亚鹏 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2013-10-28 - 公布日： 2014-02-19 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：大口径离轴非球面光学元件几何参数的测算方法，涉及光学检测领域，解决现有大口径离轴非球面光学元件几何参数难以准确测量的问题；调整补偿器、干涉仪与待检非球面元件三者共轴。使用激光跟踪仪分别测量补偿器外表面处的坐标以及待检非球面镜处的坐标。使用补偿器柱面处测得的坐标数据，拟合非球面元件的光轴方向。依据拟合的光轴方向将测量坐标系下待检非球面处的坐标测量点进行旋转，使得旋转后的测量点对应的光轴与测量坐标系Z轴平行。对旋转后的非球面镜接触处的角锥反射镜球心测量点坐标，依据曲面方程进行非线性最小二乘拟合，得到待检非球面光学元件的几何参数。本方法测量过程简单，适用于大口径离轴非球面元件几何参数的测算。
口径离轴非球面光学元件几何参数测算方法

[发明专利]用于纵隔病变的超声镜检系统-CN201310131263.1无效
发明人：谭筱江;张丽;张湘东;张睿翔 -专利权人：南方医科大学南方医院
申请日： 2013-04-16 - 公布日： 2014-10-22 - 主分类号： A61B8/12 文献下载
摘要：本发明属于医疗器械领域，具体涉及一种用于纵隔病变的超声镜检系统。该超声镜检系统包括：超声硬质支气管镜，由改良的硬质支气管镜、导管式超声探头、冷光源主机、摄像主机和超声主机组成；所述硬质支气管镜包括内镜主体与细长的操作端部，导管式超声探头安装在操作端部的头部；所述内镜主体通过光源接口连接光源；所述冷光源主机连接所述摄像主机；所述导管式超声探头连接所述超声主机；以及真空抽吸活检仪，由真空抽吸泵系统动力控制主机和穿刺活检针组成。本超声镜检系统使医生在诊治纵隔病变时操作更为简便，提高诊断的准确率，降低假阴性率，又能降低感染并发症的发生率并缩短手术时间，从而减轻患者的经济负担及痛苦。
用于纵隔病变超声系统

[实用新型]用于纵隔病变的超声镜检系统-CN201320190527.6有效
发明人：谭筱江;张丽;张湘东;张睿翔 -专利权人：南方医科大学南方医院
申请日： 2013-04-16 - 公布日： 2013-12-11 - 主分类号： A61B8/12 文献下载
摘要：本实用新型属于医疗器械领域，具体涉及一种用于纵隔病变的超声镜检系统。该超声镜检系统包括：超声硬质支气管镜，由改良的硬质支气管镜、导管式超声探头、冷光源主机、摄像主机和超声主机组成；所述硬质支气管镜包括内镜主体与细长的操作端部，导管式超声探头安装在操作端部的头部；所述内镜主体通过光源接口连接光源；所述冷光源主机连接所述摄像主机；所述导管式超声探头连接所述超声主机；以及真空抽吸活检仪，由真空抽吸泵系统动力控制主机和穿刺活检针组成。本超声镜检系统使医生在诊治纵隔病变时操作更为简便，提高诊断的准确率，降低假阴性率，又能降低感染并发症的发生率并缩短手术时间，从而减轻患者的经济负担及痛苦。
用于纵隔病变超声系统

[发明专利]一种水平准线陪检器i角测量方法-CN202111665528.7在审
发明人：刘海波;张鑫;马娟娟;何浩鹏;汪洋舰;胡俊杰;郭若成;宋潇;洪卫 -专利权人：湖北省地震局（中国地震局地震研究所）;武汉地震计量检定与测量工程研究院有限公司
申请日： 2021-12-31 - 公布日： 2022-04-29 - 主分类号： G01C25/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种水平准线陪检器i角测量方法，包括S1：在工作台上放置两台自准直仪，使两台自准直仪相对且间隔设置；S2：两自准直仪的检测部分别对准被测陪检器的摆镜，同步测量分别记录两台自准直仪分别测量得到的第一示值；S3：保持两台自准直仪不动，将被测陪检器移出两台自准直仪之间，由各自准直仪分别照准另一台自准直仪所在方向，分别记录两台自准直仪测量得到的第二示值；S4：将两台自准直仪绕着各自的中心轴线旋转180°，再次将被测陪检器放置在两台自准直仪之间，重复步骤S2和S3，分别记录两台自准直仪分别测量得到的第三示值；S5：根据上述测量获得的各组垂直向示值，计算陪检器的i角。
一种水平准线陪检器测量方法

[发明专利]基于硅光电池的无法拉第调制器的自动旋光仪-CN201610554828.0在审
发明人：孙流星;邵懿芳 -专利权人：上海仪电物理光学仪器有限公司
申请日： 2016-07-14 - 公布日： 2016-11-16 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：一种基于硅光电池的无法拉第调制器的自动旋光仪，其特征在于:它包括光源(1)，所述光源(1)的射出光路上安装有消色差聚光透镜(2)，光线经消色差聚光透镜(2)出射后射入起偏镜(3)，样品管(4)装在起偏镜(3)的出射光路上，样品管(4)的入射端安装有干涉滤光片(5)，光线通过样品管(4)内的样品后射入检偏镜组件(6)，硅光电池组件(7)装在检偏镜组件(6)的出射光路上；本发明采用硅光电池探测，实现旋光仪的小型化
基于光电池法拉第调制器自动旋光仪

[实用新型]基于硅光电池的无法拉第调制器的自动旋光仪光学系统-CN201620742311.X有效
发明人：孙流星;邵懿芳 -专利权人：上海仪电物理光学仪器有限公司
申请日： 2016-07-14 - 公布日： 2017-02-08 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：一种基于硅光电池的无法拉第调制器的自动旋光仪光学系统，其特征在于它包括光源(1)，所述光源(1)的射出光路上安装有消色差聚光透镜(2)，光线经消色差聚光透镜(2)出射后射入起偏镜(3)，样品管(4)装在起偏镜(3)的出射光路上，样品管(4)的入射端安装有干涉滤光片(5)，光线通过样品管(4)内的样品后射入检偏镜组件(6)，硅光电池组件(7)装在检偏镜组件(6)的出射光路上；本实用新型采用硅光电池探测，实现旋光仪的小型化
基于光电池法拉第调制器自动旋光仪光学系统

[实用新型]基于光电倍增管的无法拉第调制器的旋光仪光学系统-CN201620742333.6有效
发明人：孙流星;邵懿芳 -专利权人：上海仪电物理光学仪器有限公司
申请日： 2016-07-14 - 公布日： 2017-04-12 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：基于光电倍增管的无法拉第调制器的旋光仪光学系统，其特征在于它包括光源(1)，所述光源(1)的射出光路上安装有消色差聚光透镜(2)，光线经消色差聚光透镜(2)出射后射入起偏镜(3)，样品管(4)装在起偏镜(3)的出射光路上，样品管(4)的入射端安装有干涉滤光片(5)，光线通过样品管(4)内的样品后射入检偏镜组件(6)，光电倍增管组件(7)装在检偏镜组件(6)的出射光路上；本实用新型提供的一种基于光电倍增管的无法拉第调制器的旋光仪，采用光电倍增管探测，实现旋光仪的小型化，并使仪器结构简单，可靠性提高，成本降低。
基于光电倍增管法拉第调制器旋光仪光学系统

[实用新型]一种带激光对点器的全站仪检校平台-CN201922454833.6有效
发明人：刘宗林;郭红兵;张本平;王新奇 -专利权人：陕西交通职业技术学院
申请日： 2019-12-31 - 公布日： 2020-08-07 - 主分类号： G01C25/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种带激光对点器的全站仪检校平台，包括安装基础平台，安装基础平台的升降工作台中设置有对激光对点器对中辅助检校的激光对点器辅助对中模块，安装基础平台的旁侧设置有辅助物，辅助物朝向安装基础平台的一侧面为绘制有十字校正点的竖直面，激光对点器辅助对中模块包括反射镜和直角棱镜，直角棱镜的一个直角面与反射镜贴合。本实用新型设置激光对点器辅助对中模块，实现在安装基础平台上对激光对点器任意激光束发射距离的对中校正，满足激光对点器检校精度，且带激光对点器的全站仪一次性安装在安装基础平台上，无需其他设备辅助检校，提高了带激光对点器的全站仪的检校效率
一种激光全站仪检校平台

[发明专利]一种检测仪及其使用方法-CN202111195354.2在审
发明人：刘书虎;谢作善;刘立柱;李双发;蔡志海 -专利权人：广州市微米生物科技有限公司
申请日： 2021-10-18 - 公布日： 2022-01-25 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明涉及检测设备技术领域，具体公开了一种检测仪及其使用方法。该检测仪包括支撑平台、荧光显微镜本体、平行发光装置、水平移动机构和XY移动滑台，其中，荧光显微镜本体、平行发光装置以及水平移动机构均设置在支撑平台上；荧光显微镜本体上设置有竖直驱动装置，且竖直驱动装置的驱动端设置有物镜本发明中检测仪能够通过水平移动机构自动更换不同的滤光片，并实现对待测样本的自动镜检，镜检效率高，且检测结果准确，避免了人工手动更换滤光片后所造成的检测误差。
一种检测及其使用方法

[实用新型]一种带有人工镜检的尿沉渣检测仪器-CN202121682202.0有效
发明人：陈明峰 -专利权人：深圳国赛优瑞医疗科技有限公司
申请日： 2021-07-22 - 公布日： 2022-03-11 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本实用新型公开一种带有人工镜检的尿沉渣检测仪器，其中，一种带有人工镜检的尿沉渣检测仪器包括：机检装置，人工镜检装置和传送组件；所述机检装置开设有机检腔；所述人工镜检装置设于所述机检装置的一侧，所述人工镜检装置开设有镜检腔，所述镜检腔与所述机检腔相互连通；传送组件跨设于所述机检腔和所述镜检腔，所述传输组件设有机检位和镜检位；所述机检位对应所述机检装置设置，以供所述机检装置对所述样本进行检测；所述镜检位对应所述人工镜检装置设置，以供所述人工镜检装置对所述样本进行检测。
一种带有人工沉渣检测仪器

[发明专利]一种便携式微型文检仪-CN202010229249.5在审
发明人：陈培华 -专利权人：大连恒锐物证司法鉴定所
申请日： 2020-03-27 - 公布日： 2020-06-12 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本发明公开了一种便携式微型文检仪，包括盒盖内壁嵌有显示屏，盒体内的中部托板上设有大齿轮盘，所述大齿轮盘上设有不同波段的吸收滤光片，其中一个吸收滤光片对准中部托板上的检测窗口，所述大齿轮盘与调节机构啮合连接，在顶板底部固定有相机和暗箱壳体，所述暗箱壳体底面设有进光口，该进光口位于检测窗口上方，所述暗箱壳体侧面设有出光口，在暗箱壳体内固定有倾斜设置的反光镜A和反光镜B，最终形成反光镜A与相机水平90度折射，反光镜B垂直90度反转折射的检材成像光路；所述中部托板底部设有分布在检测窗口周围的多个不同波长的激发光源。该结构文检仪不受检材大小、薄厚的影响；其能够对文字的添加、掩盖、涂改、消褪等进行鉴定。
一种便携式微型文检仪

[实用新型]一种便携式微型文检仪-CN202020416917.0有效
发明人：陈培华 -专利权人：大连恒锐物证司法鉴定所
申请日： 2020-03-27 - 公布日： 2020-11-06 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种便携式微型文检仪，包括盒盖内壁嵌有显示屏，盒体内的中部托板上设有大齿轮盘，所述大齿轮盘上设有不同波段的吸收滤光片，其中一个吸收滤光片对准中部托板上的检测窗口，所述大齿轮盘与调节机构啮合连接，在顶板底部固定有相机和暗箱壳体，所述暗箱壳体底面设有进光口，该进光口位于检测窗口上方，所述暗箱壳体侧面设有出光口，在暗箱壳体内固定有倾斜设置的反光镜A和反光镜B，最终形成反光镜A与相机水平90度折射，反光镜B垂直90度反转折射的检材成像光路；所述中部托板底部设有分布在检测窗口周围的多个不同波长的激发光源。该结构文检仪不受检材大小、薄厚的影响；其能够对文字的添加、掩盖、涂改、消褪等进行鉴定。
一种便携式微型文检仪

[发明专利]基于仪器传递函数的光学元件拼接检测方法-CN202310862186.0有效
发明人：王孝坤;蔡梦雪;胡海翔;张志宇;李凌众;张学军 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2023-07-14 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本发明涉及光学元件拼接检测技术领域，尤其涉及一种基于仪器传递函数的光学元件拼接检测方法，包括如下步骤：S1、基于待检镜的面形参数设计并制作球面测试板；S2、对球面测试板与待检镜进行子孔径规划；S3、对球面测试板的面形进行检测，并对检测的面形进行数据处理；S4、对干涉仪的仪器传递函数的标定；S5、对待检镜进行子孔径拼接检测，并基于仪器传递函数的标定结果，对子孔径拼接的重叠区域的权重进行调整。本发明采用球面测试板对干涉仪的仪器传递函数进行标定，并根据标定结果对子孔径拼接的重叠区域的权重进行调整，实现面形的精确检测。
基于仪器传递函数光学元件拼接检测方法

[实用新型]一种显微应力仪-CN201320634271.3有效
发明人：张洪光;杨双临 -专利权人：上海索光光电技术有限公司
申请日： 2013-10-14 - 公布日： 2014-04-16 - 主分类号： G01N21/23 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种测试双折射干涉条纹，以分析热应力大小的显微应力仪。本实用新型是一种显微应力仪，包括内部置有光源的工作台；工作台的上部、光源的正上方设有一安装孔，该安装孔内设有起偏振镜和磨砂玻璃板，所述起偏振镜和磨砂玻璃板之间留有间隙。还包括显微镜主体和调焦支架，调焦支架固定在工作台上，与显微镜主体固连。显微镜主体由检测镜筒和至少一个显微放大光路装置组成，显微放大光路装置位于检测镜筒的上方，与检测镜筒固连。检测镜筒内，自下而上设有全波片和检偏振镜，全波片和检偏振镜之间留有间隙。本实用新型可测试微小物体的热应力，使用便捷且寿命长，并能与摄像机或照相机联接。
一种显微应力

[发明专利]一种光学玻璃的材料均匀性检测方法及装置-CN201510962393.9有效
发明人：苗亮;张文龙;刘钰;马冬梅;金春水 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2015-12-21 - 公布日： 2019-01-29 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提出一种光学玻璃的材料均匀性检测方法，将被检镜划分为至少三个子孔径区域，分别对每个子孔径区域计算材料均匀性，再利用子孔径拼接算法计算得到被检镜的材料均匀性，另外，被检镜的倾斜姿态由监视干涉仪和侧面的平面反射镜监视和校正，因此不同子孔径的均匀性测试结果的倾斜状态完全一致，而由均匀性中的离焦和像散在子孔径干涉检测结果中引入的“倾斜”量可以被真实地保留，从而避免了被检镜全口径均匀性中出现不连续的拼接痕迹。本发明提出的方法在利用小口径移相干涉仪实现大口径光学玻璃材料均匀性的检测过程中，不仅可以实现材料均匀性的全部波像差绝对检测，而且可以消除不连续的拼接痕迹造成的检测误差。
一种光学玻璃材料均匀检测方法装置