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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]验证制造过程的过程参数的方法-CN201180073881.4有效
发明人：米哈伊尔·亚历山德罗维奇·卡林金;伯恩哈德·朗;亚历山大·弗拉基米罗维奇·洛吉诺夫;亚力克西·谢尔盖耶维奇·米宁;丹尼斯·于列维奇·撒莱夫 -专利权人：普锐特冶金技术德国有限公司
申请日： 2011-09-29 - 公布日： 2016-10-19 - 主分类号： G05B19/418 文献下载
摘要：本发明描述了一种验证制造过程的过程参数以预测废弃物的方法，特别是钢带的热轧过程以预测卷裂。提供存储有多组已知的过程参数的数据库，其中每组包括关于废弃物发生的信息以及应该用于制造的新的过程参数组。对该新的过程参数组进行处理以从数据库中存储的多组过程参数中找到相似的过程参数组，使得新的过程参数组组和相似的过程参数组满足一个或多个预定要求。从相似的参数组对关于废弃物发生的信息进行评估。对该信息进行处理以对新的过程参数组进行废弃物预测。
验证制造过程参数方法

[发明专利]虚拟过程参数的确定-CN201980015857.1在审
发明人：马哈德万·巴拉苏布拉马尼亚姆;阿伦·卡尔提·苏布拉曼尼亚;希亚姆·西瓦拉马克里什南;法比奥·诺纳托德宝拉;舒莉亚·奥塔;李晨楠 -专利权人：威盖特技术美国有限合伙人公司
申请日： 2019-01-25 - 公布日： 2020-11-20 - 主分类号： G05D16/08 文献下载
摘要：一种方法可包括生成与集群中的多个井中的第一井相关联的第一预测模型，其中该第一井被配置为产生第一流体输出，并且该多个井中的第二井被配置为产生第二流体输出，该第一流体输出和该第二流体输出经由该集群中的管路的系统流至集群歧管。该方法包括接收表征该集群中一个或多个压力测量结果的数据，该一个或多个压力测量结果指示与该第一流体输出和该第二流体输出相关联的一个或多个压力值。该方法还可以包括基于压力测量结果中的一个或多个压力测量结果和与第一井相关联的历史数据来重新校准第一预测模型。还描述了相关设备、系统、制品和技术。
虚拟过程参数确定

[发明专利]测量涉及光刻术的制造过程的过程参数-CN201580009509.5有效
发明人： M·范德斯卡;A·J·登鲍埃夫;欧麦·A·O·亚当;黄得智;张幼平 -专利权人： ASML荷兰有限公司
申请日： 2015-01-28 - 公布日： 2019-06-07 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：公开了一种测量用于涉及光刻术的制造过程的过程参数的方法。在所公开的布置中，所述方法包括在衬底上的区域中进行对于重叠误差的第一测量和第二测量、以及基于对于重叠误差的第一测量和第二测量获得过程参数的量度。对于重叠误差的第一测量被设计成对所述过程参数的扰动的灵敏度比对于重叠误差的第二测量对所述过程参数的扰动的灵敏度高出一已知的量。
测量涉及光刻制造过程参数

[发明专利]用于确定过程参数的测量装置-CN201310374228.2在审
发明人： C·巴贝尔 -专利权人：克罗内分析学有限责任公司
申请日： 2013-06-26 - 公布日： 2014-01-15 - 主分类号： G01D11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于确定过程参数的测量装置(1)，其带有传感元件(2)和套筒(10)，其中，套筒(10)的内壁具有两个凹部(11、12)并且套筒(10)在两个凹部(11、12)的区域中包围一空间。
用于确定过程参数测量装置

[发明专利]用于确定过程参数的测量装置-CN201310374177.3在审
发明人： W·巴贝尔 -专利权人：克罗内分析学有限责任公司
申请日： 2013-06-26 - 公布日： 2014-01-15 - 主分类号： G01D21/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于确定过程参数的测量装置，尤其用于液体和／或气体分析，其带有用于测量过程参数的传感元件和带有电子部件，其中，传感元件经由至少一个电导体与电子部件相连接。
用于确定过程参数测量装置

[发明专利]基于过程参数的衬底标记方法-CN201980011358.5在审
发明人： V·巴斯塔尼;A·伊普玛;D·松塔格;E·C·摩斯;H·E·采克利;林晨希 -专利权人： ASML荷兰有限公司
申请日： 2019-01-22 - 公布日： 2020-09-15 - 主分类号： G06N5/00 文献下载
摘要：在过程步骤之前，基于与衬底相关联的预处理数据(404)来对待处理衬底(402)进行分割。所述决策树分析使用在处理前与所述训练衬底相关联的预处理数据(256、260)，以及在经受所述过程步骤之后与训练衬底相关联的后处理数据(262)。
基于过程参数衬底标记方法

[发明专利]轨道运行过程参数动态检测平台-CN201310734339.X有效
发明人：高飞;周顺;朱文立;阮麟杰 -专利权人：上海工程技术大学
申请日： 2013-12-27 - 公布日： 2018-11-06 - 主分类号： B61K9/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种轨道运行过程参数动态检测平台，包括机械安装与位置高度调节机构，图像采集单元、图像高速采集压缩处理单元和图像高精度处理单元；其中，机械安装与位置高度调节机构用于安装传感器和调节检测单元左右水平位置
轨道运行过程参数动态检测平台

[发明专利]相同过程多个参数的监控-CN89104275.X无效
发明人：詹姆斯·C·比洛 -专利权人：西屋电气公司
申请日： 1989-06-22 - 公布日： 1990-02-14 - 主分类号： G06F15/46 文献下载
摘要：一种用于监控对于至少一个过程参数来说是相同的多个过程的方法及装置，其采用了多个传感器，每个传感器都用于监控各自一个过程的那一个过程参数，从传输器响应中获取一系列响应取样，每个响应取样都从各自传感器获得，对由每个取样表示的传感器响应的预定特征进行评价，监控步骤在一处理路径中完成，路径的输入是串行施加的所有取样，其输出用以提供对每个取样评价结果的指示；其后解释每个取样的评价结果的指示，以获得对每个过程状态的指示
相同过程参数监控

[发明专利]过程参数的输入和显示设备-CN200610088622.X无效
发明人： J·M·科普利 -专利权人：西门子瑞士有限公司
申请日： 2006-05-31 - 公布日： 2006-12-06 - 主分类号： G05D23/00 文献下载
摘要：用于建筑技术设备、尤其是HLK设备的过程参数的输入和显示设备具有正面，该正面在操作者侧封闭该输入和显示设备的壳体，并且操作者可以在该正面上输入和读取过程参数。
过程参数输入显示设备

[实用新型]无线灌浆过程参数报警仪-CN201320027961.2有效
发明人：罗熠;魏永新;王文学;张宽富;康伦恺;黄跃文;郭亮;徐彪;余仁勇;白静雯;张慧;王路;韦昌邱 -专利权人：武汉长江仪器自动化研究所有限公司
申请日： 2013-01-18 - 公布日： 2013-07-10 - 主分类号： G08B21/00 文献下载
摘要：本实用新型提供一种无线灌浆过程参数报警仪，包括嵌入式处理器，与嵌入式处理器连接的声光报警器、人机界面、无线采集器、数据存储器，无线采集器包括手机卡和与手机卡连接的无线发射接收模块，无线发射接收模块与嵌入式处理器连接本实用新型将施工现场的分散的灌浆过程数据进行收集，对异常的过程数据及时报警提示并记录。便捷、高效、实时的帮助工程管理者了解现场灌浆情况，满足了现场管理的需求，它通过无线网络将灌浆记录仪的过程数据收集与分析，并显示在人机界面上，现场的工程管理者可以了解实时的工程施工情况以及一段时间内的历史施工情况
无线灌浆过程参数报警

[发明专利]一种凝血过程参数检测系统-CN201610575553.9在审
发明人：张桂春 -专利权人：张桂春
申请日： 2016-07-20 - 公布日： 2018-01-30 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：为实现对血凝仪凝血过程所用时间及其吸光率的快速检测，发明一种凝血过程参数检测系统。
一种凝血过程参数检测系统

[发明专利]狭缝涂布生产过程参数预测方法-CN202211507663.3在审
发明人：刘丁;黄伟超;杨郝楠 -专利权人：西安理工大学
申请日： 2022-11-29 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： G06F30/27 文献下载
摘要：本发明公开了一种狭缝涂布生产过程参数预测方法，首先通过实验的方法，逐步寻找到临界薄膜的最小厚度和基板最大移动速度，并且采集狭缝涂布过程中的各类参数；然后获取狭缝涂布的狭缝喷涂速度、涂头距离基板高度、基板移动速度本发明解决了现有技术中存在的只能通过生产经验进行狭缝涂布参数的预测，若工艺参数设置不合理，极有可能会导致薄膜出现缺陷的问题。
狭缝生产过程参数预测方法

[发明专利]优化增材制造中的过程参数-CN202180046518.7在审
发明人：闫莉娜;傅盈西;何志明;J·H·孔 -专利权人：新加坡国立大学;加利福尼亚大学董事会
申请日： 2021-05-10 - 公布日： 2023-03-10 - 主分类号： B29C64/386 文献下载
摘要：一种确定用于打印零件的一个或多个过程参数的最优值的方法，包括获得针对一个或多个过程参数的多组测试值。使增材制造系统根据设计和多组测试值至少部分生成多个测试样本。将测试数据拟合至一个或多个过程参数的二阶函数，以确定一个或多个过程参数的系数。基于二阶函数和系数，确定针对一个或多个过程参数的最优值，该最优值导致至少一种特性的全局最优。
优化制造中的过程参数

[发明专利]潜在过程参数挖掘方法及装置-CN201710770966.7有效
发明人：萧伟;刘雪松;凌娅;陈勇;王振中;姜晓红;毕宇安;李页瑞;包乐伟;章晨峰;王磊;陈永杰 -专利权人：江苏康缘药业股份有限公司;浙江大学
申请日： 2017-08-31 - 公布日： 2018-11-06 - 主分类号： G06N5/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种潜在过程参数挖掘方法及装置，所述挖掘方法包括：接收潜在过程参数挖掘请求，所述请求包括设计空间对应的工段条件信息；根据所述工段条件信息，获取与工段对应的关键质量属性及拟定潜在过程参数集合；对拟定的潜在过程参数进行第一测试，得到多个过程参数；对所述过程参数进行第二测试，得到待验证潜在过程参数；对待验证潜在过程参数进行验证，得到潜在过程参数。本发明通过对潜在过程参数进行测试，筛选出与关键质量属性相关的待验证潜在过程参数，并利用待验证潜在过程参数更新优化设计空间，为参数放行提供一种有效、可靠的解决方案。
潜在过程参数挖掘方法装置

[发明专利]确定过程的性能参数的方法-CN201880043171.9有效
发明人： G·R·圣圭内蒂;M·博兹库尔特;M·范德斯卡;A·J·登鲍埃夫 -专利权人： ASML荷兰有限公司
申请日： 2018-05-29 - 公布日： 2022-01-14 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：光刻过程的重叠误差是使用多个目标结构测量的，每个目标结构具有已知的重叠偏差。检测系统获取表示在多个不同的获取条件(λ1、λ2)下由所述目标结构衍射的辐射的选定部分的多个图像(740)。
确定过程性能参数方法

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