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[发明专利]荧光X射线分析装置-CN201680003309.3在审
发明人：山田康治郎;原真也;堂井真 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2016-07-01 - 公布日： 2017-08-18 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：测定线评价机构(23)根据针对薄膜而指定的组成和/或厚度，对于已指定的全部的测定线，通过理论计算而计算出推算测定强度，以规定量改变仅仅一个测定线的推算测定强度，针对每个变化的测定线，通过基本参数法，求出推算测定强度变化后的薄膜的组成和/或厚度的定量值，根据该定量值和已指定的组成和/或厚度，进行定量误差的推算和/或分析的可否的判断。
荧光射线分析装置

[发明专利]吲哚菁绿荧光乳剂-CN200980134613.1有效
发明人： M·古泰耶;F·纳瓦罗加尔恰;I·泰克希尔-诺盖斯 -专利权人：原子能及能源替代委员会
申请日： 2009-08-13 - 公布日： 2011-08-03 - 主分类号： A61K49/00 文献下载
摘要：本发明涉及纳米乳剂形式的吲哚菁绿制剂，其包含连续水相和至少一种分散的油相，其中油相包含吲哚菁绿、至少一种两亲脂质和至少一种增溶脂质。本发明还涉及所述制剂的制备方法和所述制剂的应用。
吲哚荧光乳剂

[发明专利]荧光体和发光装置-CN201280013746.5有效
发明人：碓井大地;白川康博;竹村博文 -专利权人：株式会社东芝;东芝高新材料公司
申请日： 2012-02-29 - 公布日： 2013-12-11 - 主分类号： C09K11/64 文献下载
摘要：本发明提供一种荧光体，其包含具有下式(1)所示的基本组成的铕活化的硅铝氧氮陶瓷晶体：[式1]式：(Sr1-x,Eux)αSiβAlγOδNω (1)(其中x是0荧光体通过紫外光
荧光发光装置

[发明专利]荧光体和发光装置-CN201080058464.8有效
发明人：佐佐木祥敬;大长久芳;青柳忍;泽博 -专利权人：株式会社小糸制作所
申请日： 2010-11-19 - 公布日： 2012-09-12 - 主分类号： C09K11/61 文献下载
摘要：荧光体由通式(M2x,M3y,M4z)mM1O3X(2/n)表示(这里，M1表示选自Si、Ge、Ti、Zr和Sn中的至少含有Si的1种以上的元素，M2表示选自Ca、Mg、Cd、Co和Zn中的至少含有Ca
荧光发光装置

[发明专利]荧光凹陷编码和鉴定-CN200980148907.X有效
发明人：纳比勒·M·拉万迪 -专利权人：光谱系统公司
申请日： 2009-12-07 - 公布日： 2011-11-16 - 主分类号： B32B19/00 文献下载
摘要：以荧光或磷光涂层、墨水和衬底形式的发射识别标志用于鉴定和防护诸如文件、货币以及用于烟草、奢侈品及药物的二次包装的物品。组合光谱重叠吸收和发射材料以提供通过扫描仪可检测的唯一光谱指纹。
荧光凹陷编码鉴定

[发明专利]荧光X射线分析装置-CN200580037929.0有效
发明人：的场吉毅;深井隆行;高桥正则;一宫丰 -专利权人：精工电子纳米科技有限公司
申请日： 2005-10-26 - 公布日： 2007-10-10 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：试样封入容器(8)具有由透射X射线的材质构成的多个壁面，X射线源(1)配置成对壁面(11)照射一次X射线，并且与被照射一次X射线的面不同的面(12)与X射线检测器(10)对置，而且，来自X射线源(1)的一次X射线能够照射与X射线检测器(10)对置的试样封入容器的壁面(12)。
荧光射线分析装置

[发明专利]无机荧光增白剂-CN200780014234.X有效
发明人： C·法比恩;B·塞德;H·赖彻特 -专利权人：西巴控股有限公司
申请日： 2007-04-10 - 公布日： 2009-05-06 - 主分类号： C09K11/80 文献下载
摘要：本发明涉及新颖的无机增白剂、它们的制备方法和它们用于增白基底的用途。更特别地，该新颖的无机增白剂是无机发光材料，其特征在于它们具有：(i)在350-375nm范围内的最大吸收；(ii)接近400nm的吸收带的急剧下降；(iii)至少0.8的磷光量子产率；和(iv)在415-445nm的最大磷光。
无机荧光增白剂

[发明专利]荧光X射线分析装置-CN200680054176.9有效
发明人：片冈由行;河野久征;山下升;堂井真 -专利权人：理学电机工业株式会社
申请日： 2006-11-24 - 公布日： 2009-04-22 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：一种分析试样中包含的硫磺的荧光X射线分析装置，其目的在于通过大幅度地减少来自X射线管的连续X射线的试样的散射X射线和比例计数管的氩气的逃逸峰值，提高极微量的硫磺的分析精度。一种荧光X射线分析装置(1)，其对试样(S)照射来自X射线管的一次X射线，通过分光元件，对从试样(S)产生的荧光X射线进行分光，通过X射线检测器进行检测，由此，对试样(S)进行分析，该装置包括X射线管(
荧光射线分析装置

[发明专利]具有荧光物质的LED-CN200680000111.6有效
发明人：大场康夫 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2006-03-07 - 公布日： 2007-04-04 - 主分类号： H01L33/00 文献下载
摘要：一种发光器件，包括：透明衬底(1)，其具有第一表面和第二表面；半导体层(2－6)，其设置在所述第一表面上；第一光发射层(11)，其设置在所述半导体层(2－6)上方，并发射包括与大于所述半导体层的半导体的禁带宽度的能量对应的波长的第一紫外光；第二光发射层(8)，其设置在所述第一光发射层(11)和所述半导体层(2－6)之间，吸收从所述第一光发射层(11)发射的所述第一紫外光，并发射包括与小于所述半导体层(2－6)的半导体的禁带宽度的能量对应的波长的第二紫外光；以及第一(18)和第二(19)电极，其为对所述第一光发射层(11)施加电力而设置。
具有荧光物质 led

[发明专利]荧光X射线分析装置-CN200480023453.0有效
发明人：住居弘咨;青柳光一 -专利权人：理学电机工业株式会社
申请日： 2004-03-31 - 公布日： 2006-09-20 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明的课题在于提供一种荧光X射线分析装置，该荧光X射线分析装置对处于惰性气体气氛中的试样进行分析，分光室不由惰性气体置换即可，同时不与试样室连通，并且可获得足够的强度的2次X射线，另外，隔壁的寿命延长
荧光射线分析装置

[发明专利]荧光X射线分析装置-CN200480002206.2有效
发明人：迫幸雄 -专利权人：理学电机工业株式会社
申请日： 2004-03-11 - 公布日： 2006-02-22 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明的课题在于提供一种进行氦置换的荧光X射线分析装置，容易更换试样室和照射室之间的隔壁膜，在分析时，试样室的空气不流入照射室。
荧光射线分析装置

[发明专利]荧光X射线分析装置-CN201680049794.8有效
发明人：原真也;松尾尚;山田康治郎;本间寿;片冈由行 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2016-08-26 - 公布日： 2018-12-21 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明的荧光X射线分析装置所具有的定量分析条件设定机构(13)针对多个标准试样(14)进行定性分析，根据其结果，设定在定量分析条件下的分析对象试样(1)的测定线的峰测定角度，并且将经过定性分析的多个标准试样
荧光射线分析装置

[发明专利]陶瓷用荧光赋予剂-CN201280063787.5无效
发明人：真盐刚;苅谷周司 -专利权人：株式会社GC
申请日： 2012-12-20 - 公布日： 2014-10-01 - 主分类号： C09K11/08 文献下载
摘要：本发明提供一种在制造期间无需使用酸溶液的陶瓷用荧光赋予剂。所述陶瓷用荧光赋予剂为水溶液，所述水溶液包含5～90重量％的甘油和0.01～10重量％的选自如下的一种或多种铋化合物：溴化铋(BiBr₃)、溴酸铋(Bi(BrO₃
陶瓷荧光赋予

[发明专利]荧光体及其制造方法-CN200980109380.X无效
发明人：户田健司;上松和义;佐藤峰夫;梅田铁;伊藤丰 -专利权人：国立大学法人新泻大学;住友化学株式会社
申请日： 2009-03-18 - 公布日： 2011-02-16 - 主分类号： C09K11/79 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供可获得能够进一步改善以演色性为主的发光特性的发光装置的荧光体。本发明是一种荧光体，其为下式(1)所示化合物中的M2的至少一部分被M4(M4表示3价阳离子元素)取代、该化合物中的O的一部分被M5(M5表示3价阴离子元素)取代、该化合物的M1和/或M2的一部分被活化元素取代而成
荧光及其制造方法

[发明专利]基于荧光的移液器仪器-CN200880117757.1无效
发明人： H·E·埃里夫;C·S·金 -专利权人： EI频谱有限责任公司
申请日： 2008-11-21 - 公布日： 2010-10-27 - 主分类号： B01L3/02 文献下载
摘要：一种改进的移液器吸头(276)，包括在近端(277)和远端之间延伸的细长本体。该本体通常包括多个薄膜层(如154，156，102，158，202)，这些薄膜层被配置和布置为提供从远端朝向近端(277)延伸的流体路径。该改进的移液器吸头(276)包括一个探询区，在该探询区中探询沿流体路径流动的流体。一个可操作的探询布置，整体表示为(100)，包括一个被配置成允许探测由斯托克斯频移产生的辐射的结构。可选地，传感器部件可包括一个或多个电极(如248，250)，所述电极排布在流体路径中以接触其中的流体，用于电探询。移液器吸头(276)可用于：粒子计数，验证样本完整性(例如没有气泡)，监测样本流率，确认吸入体积，以及其他用途。
基于荧光移液器仪器