专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]试样分析-CN200910129177.0有效
  • 池田穣 - 希森美康株式会社
  • 2009-03-27 - 2009-09-30 - G01N15/00
  • 提供一种可以用共同的分析程序分析各种试样的试样分析仪。试样分析仪包括:量子化信息获取部件,用于获取表示所述试样中粒子特征的、量子化为一定位数的量子化信息;第一生成部件,从所述量子化信息获取部件获取的所述量子化信息生成用于将所述试样中的粒子分类为多类粒子的第一分类数据;第二生成部件,从所述量子化信息获取部件获取的所述量子化信息生成用于将所述试样中的粒子分类为多类粒子的、不同于第一分类数据的第二分类数据;存储设备,储存用于将所述试样中粒子分为多类粒子的分类条件;及分类部件,根据所述第一分类数据和所述第二分类数据其中之一及所述分类条件,将所述试样中的粒子分成多类的粒子
  • 试样分析
  • [发明专利]粒子的光学检测及分析-CN201280038391.5有效
  • R.J.G.卡尔;J.P.霍尔;J.B.K.史密斯 - 纳米观测有限公司
  • 2012-08-06 - 2014-06-25 - G01N15/02
  • 本发明提供了一种分析包括次微米粒子的样本的方法,该方法包括:通过纳米粒子跟踪分析在该样本中确定关于粒子大小及粒子数量的第一信息;通过动态光散射在该样本中确定关于粒子的平均粒子大小的第二信息;从该第一信息中确定代表所检测粒子对于可通过动态光散射获得的结果的理论影响的第三信息;并且使用该第三信息调整该第二信息以产生代表关于平均粒子大小的所调整信息的第四信息。
  • 粒子光学检测分析
  • [发明专利]操作粒子束装置的方法和执行该方法的粒子束装置-CN202010458432.2在审
  • L.汉;M.埃德尔曼;J.比伯格 - 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
  • 2020-05-26 - 2020-12-15 - G01Q30/02
  • 本文描述的发明涉及一种用于操作对物体进行成像、分析、和/或处理的粒子束装置的方法。而且,本文描述的发明涉及一种用于执行该方法的粒子束装置。该方法包括:识别该物体上的至少一个兴趣区域;定义:(i)用于分析该物体的分析序列,(ii)用于通过变形来处理该物体的处理序列,以及(iii)用于取决于该处理序列和/或该分析序列来调整该至少一个兴趣区域的调整序列;根据该处理序列通过变形来处理该物体和/或根据该分析序列来分析该物体;根据该调整序列来调整该至少一个兴趣区域;以及在调整该至少一个兴趣区域之后或之时,使用该粒子束装置的粒子束发生器产生的一次粒子束来对该至少一个兴趣区域进行成像和/或分析
  • 操作粒子束装置方法执行
  • [发明专利]试样分析仪和试样分析方法-CN200910178921.6无效
  • 楠泽英夫 - 希森美康株式会社
  • 2009-09-29 - 2010-05-26 - G01N15/14
  • 本发明公开一种能鲜明拍摄红细胞等粒子轮廓的试样分析仪。此试样分析仪包括:形成试样流的流动室、通过拍摄流动室中的试样流所含粒子而取得粒子图像的成像系统。成像系统包括向流动室中的试样流照射近紫外光的光源及拍摄被光源用近紫外光照射的试样流中所含粒子的相机。本发明还公开了一种分析试样的方法。
  • 试样分析方法

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