专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]粒子复合分析装置的校正方法以及粒子复合分析装置-CN201610140820.X在审
  • 长谷川祥树;小泉和裕;浅野贵正;武田直希 - 富士电机株式会社
  • 2016-03-11 - 2017-01-04 - G01N15/02
  • 提供一种粒子复合分析装置的校正方法以及粒子复合分析装置,在适于多方面地分析测定对象粒子粒子复合分析装置中能简便且准确地进行为了维持、提高装置的可靠度而需定期进行的装置的校正操作。在该粒子复合分析装置中,具备粒子测量装置和粒子成分分析装置,向粒子测量装置和粒子成分分析装置导入至少已知数量、大小及成分的校正粒子来进行分析,基于由粒子测量装置测定出的校正粒子的数量和大小对粒子测量装置的灵敏度进行校正,基于由粒子成分分析装置测定出的校正粒子的成分量对粒子成分分析装置的灵敏度进行校正。另外,基于粒子成分分析装置的捕捉体上的校正粒子的捕捉状态对导入到粒子成分分析装置的粒子相对于捕捉体的照射轴进行校正。
  • 粒子复合分析装置校正方法以及
  • [发明专利]粒子分析装置和粒子分析方法-CN201480040303.4有效
  • 田原克俊 - 索尼公司
  • 2014-06-06 - 2020-08-14 - G01N15/14
  • 提供一种粒子分析装置和一种粒子分析方法,其能够获得具有高可靠性的检测数据,而不执行高频叠加。一种粒子分析装置被配置成包括:光照射单元,所述光照射单元用激光照射在流径内流动的粒子;光检测单元,所述光检测单元检测荧光或散射光或者荧光和散射光两者,从用激光照射的粒子发出荧光和散射光;以及信号处理单元
  • 粒子分析装置方法
  • [发明专利]粒子分析装置-CN97104583.6无效
  • 久保田文雄;楠泽英夫 - 希森美康株式会社
  • 1997-04-02 - 2004-08-11 - G01N15/14
  • 粒子分析装置,它包括将含有粒子的试样变换为试样流的包被流槽、以连续光照明试样流的第一光源、将检测出的来自为第一光源所照明的粒子的光变换为表示粒子特征的粒子信号的光探测元件、以瞬时光照明试样流的第二光源、对第二光源照明的粒子摄像以获得粒子图像的摄像机、将粒子信号和粒子图像作为粒子分析用数据进行粒子分析分析部,后者设有禁止部,能使第二光源发光时求得的光探测元件的粒子信号不作为粒子分析用数据。
  • 粒子分析装置
  • [发明专利]生物粒子分析方法和生物粒子分析系统-CN202180047246.2在审
  • 松本真宽 - 索尼集团公司
  • 2021-06-17 - 2023-03-07 - C12M1/00
  • 本发明的目的是提高使用条形码方法的单细胞分析分析效率。本发明提供了一种生物粒子分析方法,包括:捕获步骤,用于在经由接头固定有包括生物粒子捕获部、条形码序列和可裂解接头的分子的表面上经由生物粒子捕获部捕获生物粒子;裂解步骤,用于裂解接头以使生物粒子从表面释放;以及隔离步骤,用于将生物粒子隔离在微小空间中。本发明还提供了一种用于实施所述生物粒子分析方法的生物粒子分析系统。
  • 生物粒子分析方法系统
  • [发明专利]一种粒子分析仪及粒子分析方法-CN200710124529.4有效
  • 楚建军;郭文恒 - 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司
  • 2007-11-12 - 2009-05-20 - G01N15/14
  • 本发明公开了一种粒子分析仪及粒子分析方法,分析仪包括用于供含有粒子的样本液流过的流动室、用于驱动样本液流过流动室的驱动单元和用于向流动室内的粒子发射特定光谱的光照射单元,放大成像单元和特征提取分析单元,放大成像单元采集粒子在特定光谱下形成的图像放大后输出至特征提取分析单元,特征提取分析单元对图像进行特征提取并根据特征对粒子进行识别和分类。分析方法包括如下步骤:驱动含有粒子的样本液流过流动室,并向流动室内的粒子发射特定光谱;采集粒子在特定光谱下形成的图像并进行放大;对图像进行特征提取并根据特征对粒子进行识别和分类。通过本发明可以对临床上那些需要依靠图像来进行分析的疾病做出准确的判断。
  • 一种粒子分析方法
  • [发明专利]粒子成分分析装置及其使用方法以及粒子复合分析装置-CN201710176345.6在审
  • 长谷川祥树;武田直希;小泉和裕;浅野贵正 - 富士电机株式会社
  • 2017-03-23 - 2017-10-20 - G01N1/22
  • 本发明提供粒子成分分析装置、粒子复合分析装置及粒子成分分析装置的使用方法。通过对捕获体照射能量线,使捕获体的温度上升。由此,粒子从捕获体脱离。在对从捕获体脱离的粒子进行分析时,在不控制捕获体的温度的情况下,捕获体的温度发生变化而难以将测定条件保持为恒定。粒子成分分析装置具有捕获体,其捕获成为测定对象的气溶胶中的粒子;能量线照射部,其向被捕获体捕获的粒子照射能量线;分析器,其基于通过能量线的照射而从捕获体脱离的粒子的脱离成分对粒子的成分和每种成分的量中的至少一项进行分析,捕获体具有温度测定部,粒子成分分析装置还具备控制部,控制部基于通过温度测定部测得的捕获体的温度对能量线照射部的输出进行控制。
  • 粒子成分分析装置及其使用方法以及复合
  • [发明专利]粒子分析仪用参照物-CN200610098740.9有效
  • 川手康德 - 希森美康株式会社
  • 2006-07-12 - 2006-12-20 - G01N15/14
  • 本发明提供一种可以检测出以往参照物无法检测出的粒子分析仪故障的参照物。上述参照物是粒子分析仪用参照物,该粒子分析仪对生物试样中所含被测粒子用一定的色素进行荧光染色处理,再对经荧光染色的被测粒子进行分析。参照物由经上述荧光染色处理的第一标准粒子和预先经染色制备的、可以显示一定荧光强度的第二标准粒子组成。本发明还提供用参照物推断粒子分析仪的异常部位的方法和装置。
  • 粒子分析参照物
  • [发明专利]一种测量真空冷喷涂粒子速度的方法-CN201410696792.0有效
  • 毋涛;潘晓慧;张卫军;汪子涵;张帆;何科训 - 西安工程大学
  • 2014-11-26 - 2015-02-04 - G01P5/26
  • 本发明公开了一种测量真空冷喷涂粒子速度的方法,其首先通过硬件采集卡采集真空冷喷涂粒子飞行时产生的电压信号,然后通过内存映射的方式将采集到的粒子电压信号存储到计算机中,最后计算机分析计算真空冷喷涂粒子的速度:首先对粒子电压信号进行滤波,然后通过矩形函数截取有效粒子波形,通过最小二乘法拟合粒子波形,最后由分析拟合后的波形计算得到真空冷喷涂粒子的飞行速度。本发明的测量真空冷喷涂粒子速度的方法集参数采集和数据分析为一体,实时采集、实时显示并分析粒子波形数据,提高了研究人员的工作效率和使粒子参数采集具有连续性;另外,实时分析粒子信号数据时可以滤除粒子信号中的杂波,提高了对粒子速度检测的准确性。
  • 一种测量真空喷涂粒子速度方法
  • [发明专利]一种粒子分析仪及其检测装置-CN202111590780.6在审
  • 谭玉华;梁铁柱;秦军芳 - 深圳市帝迈生物技术有限公司
  • 2021-12-23 - 2023-06-27 - G01N15/10
  • 本申请公开了一种粒子分析仪及其检测装置,所述检测装置包括:壳体,设有一开口;盖板,设置于所述开口,与所述壳体形成一容置空间;检测组件,设置于所述容置空间,用于产生模拟信号,以向所述粒子分析仪提供所述模拟信号;所述模拟信号用于所述粒子分析仪进行模拟检测分析,以得到检测数据。通过上述方式,检测组件用于向粒子分析仪提供模拟信号,粒子分析仪基于模拟信号进行模拟检测分析,实现对粒子分析仪的调试或者测试,无需浪费试剂盒和试剂,降低成本;此外,检测装置的结构简单,易于实现。
  • 一种粒子分析及其检测装置
  • [发明专利]粒子分析装置的制造方法和粒子分析装置-CN202080063793.5在审
  • 吉富匠;室田雄辉;藤泽直广 - NOK株式会社
  • 2020-08-28 - 2022-04-15 - G01N23/2273
  • 本发明提供一种粒子分析装置的制造方法,其中,所述粒子分析装置可抑制在作为测定对象的粒子的测定过程中其测定功能降低。一种粒子分析装置的制造方法,其中,所述粒子分析装置具有:第一贮留室(21),其贮留第一液体;第二贮留室(22),其贮留含有作为分析对象的粒子的第二液体;以及流路(40),其连接第一贮留室(21)和第二贮留室(22)并进行流体流通,所述粒子分析装置的制造方法具有:表面改性工序,其对构成上述流路(40)的表面照射紫外线,从而对上述流路(40)的所述表面进行改性。
  • 粒子分析装置制造方法
  • [发明专利]气体中微小颗粒物的分析方法及仪器-CN200810054056.X有效
  • 张帆;姚凤兰;冷云平 - 天津信达北方科技有限公司
  • 2008-08-04 - 2008-12-24 - G01N15/02
  • 本发明涉及一种气体中微小颗粒物的分析方法及仪器。解决10微米以下微小粒子分级计数分析的精确度不高问题。本发明气体中微小颗粒物分析仪器包括宽带光源、干涉仪、气体扫描、空间滤波系统(小孔光阑或光纤)、光电检测、差频滤波放大电路和分析计算系统。本发明采用低相干光干涉仪原理对气体中粒子进行数据采集,通过分析记录的每个粒子的干涉条纹包络(包络数量代表粒子的个数)特性,精确计算出每个粒子的特征,可有效监测分析粒径小于10μm的微小粒子。本发明方法和仪器适用于PM10、PM5、PM2.5和PM1等微小粒子分析和监测。
  • 气体微小颗粒分析方法仪器
  • [发明专利]粒子分析装置-CN201611062425.0在审
  • 长谷川祥树;武田直希;小泉和裕;浅野贵正 - 富士电机株式会社
  • 2016-11-28 - 2017-08-04 - G01N15/06
  • 本发明提供一种搭载粒子测量部和成分分析部的粒子分析装置,可在防止检测灵敏度降低的同时,扩大测量范围。该粒子分析装置包括粒子测量部,其基于试样气体中粒子所散射的激光,测量所述试样气体中的粒子的数量或者浓度;成分分析部,其测量试样气体中不同成分的粒子的含量;流路,其一端和试样气体源连接,在另一端侧的分支点,分为第1流路和第2流路,第1流路将试样气体导入粒子测量部,第2流路将试样气体导入成分分析部;第1调整部,其设置在所述第1流路,利用稀释气体稀释试样气体,通过将稀释后的试样气体导入粒子测量部,来调整粒子测量部的测量范围;以及第2调整部,其设置在第2流路,对将试样气体导入成分分析部的导入时间进行调整。
  • 粒子分析装置

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