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[发明专利]离子辐照试样辐照损伤区域的电阻率和电导率的测试方法-CN201610998805.9有效
发明人：束国刚;李承亮;徐贲;陈骏;冯楠;刘飞华;刘伟;段远刚 -专利权人：中广核工程有限公司;清华大学;中国广核集团有限公司
申请日： 2016-11-14 - 公布日： 2018-12-04 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种离子辐照试样辐照损伤区域的电阻率和电导率的测试方法。电阻率测试方法包括以下步骤：1)提供包括辐照损伤层和离子辐照未损伤的基体层的离子辐照试样，测量离子辐照试样的总的电阻R₀、离子辐照未损伤的基体层的厚度H₂、离子辐照试样纯离子辐照损伤层10的厚度H₁，离子辐照试样的长度L和宽度B；2)对离子辐照试样减薄，测量减薄后离子辐照试样的电阻R和减薄层的厚度H；以及3)根据以下数学计算公式计算离子辐照试样辐照损伤区域的电阻率本发明通过试验和计算推导相结合的方法获得离子辐照试样表层离子辐照损伤区域的电阻率和电导率，计算结果精确，测试方法简单易行，成本低廉。
离子辐照辐照损伤电导率电阻率减薄基体层测试电阻损伤数学计算公式电阻率测试试验和计算测量离子辐照试样试样表层损伤区域损伤层推导测量

[发明专利]离子荧光超分辨成像方法-CN201710777331.X有效
发明人：杜广华;郭金龙;毛光博 -专利权人：中国科学院近代物理研究所
申请日： 2017-09-01 - 公布日： 2020-04-14 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明涉及一种离子荧光超分辨成像方法，该方法包括以下步骤：⑴制作待辐照样品；⑵将待辐照样品固定于样品台上，并在待辐照样品后方紧贴该待辐照样品放置荧光靶；⑶将离子束流辐照样品兴趣区随机位置；⑷单个离子入射后依次透射待辐照样品和荧光靶，在所述荧光靶中产生离子激发荧光，荧光经过高倍物镜后由成像设备收集，产生单离子荧光显微图像；⑸将单离子荧光显微图像与同时段获得的状态变化信号关联映射，输出并存储；⑹保持待辐照样品处于离子辐照下，使离子辐照遍历所述样品兴趣区达到成像数据量要求；⑺获得单离子辐照高精度位置坐标，以单离子高精度坐标和状态变化信号关联映射绘图即可。
离子荧光分辨成像方法

[发明专利]一种重离子微孔滤膜的辐照方法-CN201310509331.3有效
发明人：陈大年;安孟稼;刘泽超;易蓉 -专利权人：北京南洋慧通新技术有限公司
申请日： 2013-10-25 - 公布日： 2014-01-22 - 主分类号： B01D67/00 文献下载
摘要：一种重离子微孔滤膜的辐照方法，在辐照装置的窗口前将用于辐照的薄膜横向间隔划分为辐照区和非辐照区，在所述非辐照区设置阻挡重离子通过的辐照阻隔器；用重离子加速器加速的重离子或核反应堆产生的裂变碎片对所述薄膜进行辐照；将辐照好的所述薄膜进行紫外增敏照射；将增敏照射后的所述薄膜进行化学蚀刻，形成带有无孔窄条的重离子微孔滤膜；将化学蚀刻完成的所述薄膜放入去离子水清洗设备中进行清洗；将清洗后的所述薄膜放入烘干设备中进行烘干本发明在重离子微孔滤膜制作过程中适当增加未辐照区域，可以显著增强重离子微孔滤膜的强度，提高产品合格率和生产效率，同时也能得到更大孔隙率的重离子微孔滤膜。
一种离子微孔滤膜辐照方法

[发明专利]用重离子辐照提高GdBaCuO高温超导体性能的方法-CN200910242000.1无效
发明人：焦玉磊;肖玲;郑明辉 -专利权人：北京有色金属研究总院
申请日： 2009-12-18 - 公布日： 2010-06-23 - 主分类号： C04B41/80 文献下载
摘要：本发明提供了一种利用重离子辐照提高GdBaCuO高温超导体性能的方法，该方法能大幅提高高温超导材料的磁化强度。该方法包括使用重离子辐照装置对熔融织构单畴GdBaCuO高温超导材料进行重离子辐照，辐照所用离子的能量为40～1000Mev，辐照剂量为1×1011～5×1012ions/cm2。
离子辐照提高 gdbacuo 高温超导体性能方法

[发明专利]一种模拟离子推力器在轨太阳辐照的试验装置-CN201611139883.X有效
发明人：孙明明;顾左;张天平;龙建飞;王亮;黄永杰 -专利权人：兰州空间技术物理研究所
申请日： 2016-12-12 - 公布日： 2020-01-10 - 主分类号： B64G7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种模拟离子推力器在轨太阳辐照的试验装置，能够进行推力器在轨工作条件下的太阳辐照模拟试验，而且试验效率较高，能够模拟多种工况。该装置中n个辐照源均匀布置在一个圆环上，形成环形辐照结构；离子推力器位于所述圆环的中心位置；环形辐照结构与离子推力器之间可以相对转动，转动轴线为推力器轴线；辐射计贴装于离子推力器外表面；工控机可根据推力器在轨运行位置以及不同的太阳辐照角度，关闭或开启相应的辐照源，并控制环形辐照结构与离子推力器之间的相对角度，以模拟推力器在轨运行状态下的太阳辐照接收；工控机还用于根据辐射计测量的辐照源辐照剂量，调节辐照源工作参数，以模拟推力器在轨时接收到的辐照剂量
离子推力器推力器太阳辐照辐照源环形辐照辐照剂量在轨运行工控机圆环辐射计辐射计测量工作参数均匀布置模拟试验试验效率试验装置转动轴线贴装

[发明专利]一种重离子微孔膜辐照生产装置-CN202111097051.7在审
发明人：李运杰;莫丹;胡正国;夏佳文;徐瑚珊;段敬来;姚会军;刘杰;王玥;杨胜利;杨雅清;殷学军;蒙俊;杜衡;谢文君 -专利权人：中国科学院近代物理研究所
申请日： 2021-09-18 - 公布日： 2021-12-10 - 主分类号： B01D61/14 文献下载
摘要：本发明涉及一种重离子微孔膜辐照生产装置，其特征在于，包括辐照终端；所述辐照终端用于使得处于真空环境的辐照原膜在重离子束流轰击下形成重离子微孔膜；所述辐照终端包括至少一个真空腔体和卷膜装置；每一所述真空腔体内均设置有对应所述卷膜装置，每一所述卷膜装置上卷设有辐照原膜，本发明可以实现重离子微孔膜的高密度辐照生产，可以广泛应用于重离子微孔膜生产领域中。
一种离子微孔辐照生产装置

[发明专利]一种高能碳离子束辐照猕猴桃枝条的嫁接方法-CN201811273337.4在审
发明人：杨爱红;周利斌;刘腾云;胡淼;刘淑娟;李彦强;骆善伟;余发新 -专利权人：江西省科学院生物资源研究所;中国科学院近代物理研究所
申请日： 2018-10-30 - 公布日： 2019-01-01 - 主分类号： A01H1/06 文献下载
摘要：本发明提供了一种高能碳离子束辐照猕猴桃枝条的嫁接方法，涉及植物诱变技术领域。本发明所述方法，包括以下步骤：1)以高能碳离子束对猕猴桃枝条进行辐照，得辐照接穗；所述辐照的辐射剂量为10～40Gy；2)将步骤1)得到的所述辐照接穗嫁接于猕猴桃砧木上，包扎后得辐照猕猴桃嫁接苗。本发明先将猕猴桃枝条进行高能碳离子束辐照，再进行多个芽头的嫁接，使辐照后猕猴桃枝条的嫁接成活率维持在40％～80％左右。利用本发明的方法解决了辐照诱变处理后猕猴桃枝条成活率低的问题。高能碳离子束辐照处理猕猴桃幼芽并结合嫁接，为猕猴桃高能碳离子束辐照诱变的生物学研究及猕猴桃新品种的快速选育提供了材料基础。
猕猴桃辐照碳离子枝条嫁接接穗辐照诱变成活率砧木生物学研究材料基础辐射剂量辐照处理植物诱变嫁接苗包扎芽头幼芽新品种

[发明专利]一种高低温温控离子辐照靶设计-CN202110623932.1在审
发明人：徐驰;关浩浩;王兴平;薛文斌;杜建成 -专利权人：北京师范大学
申请日： 2021-06-04 - 公布日： 2021-08-06 - 主分类号： G21K5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种高低温温控的离子辐照靶设计。涉及离子束辐照实验领域。该离子辐照靶由加热台、冷却管道、法兰盘基座、屏蔽圆筒、热屏蔽罩、承载试样台、接线系统、电脑控制器组成。其特别之处在于，拥有双热电偶控温体系，能否实现从液氮温度到高温温度连续精确控温的离子辐照实验；并包括特别设计的试样台能防止样品虚接而导致的温度偏差；同时还能够对辐照剂量进行实时精确监控。本发明能够较好的满足使用高能离子束模拟核能系统中高能中子辐照产生的辐照损伤的实验需求。
一种低温温控离子辐照设计

[实用新型]离子辐照样品的夹持装置-CN202222916677.2有效
发明人：贾文清;刘向兵;李远飞;徐超亮;钱王洁;金晓;全琪玮;尹建;范敏郁 -专利权人：苏州热工研究院有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司
申请日： 2022-11-02 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G21K5/08 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种离子辐照样品的夹持装置，包括支撑杆、设置于所述支撑杆上方的支撑底座和设置于所述支撑底座上方的辐照背板，所述支撑杆用于插入辐照终端的圆形孔槽内，所述支撑底座用于固定所述辐照背板，所述辐照背板上设置有多个贯穿其厚度方向的通孔，所述通孔用于供紧固装置穿过，所述紧固装置用于固定和夹持离子辐照样品。本实用新型的离子辐照样品的夹持装置，能够稳定地固定离子辐照样品，避免样品掉落，使试样均匀接受离子辐照；便于即时调整，能够适用于不同尺寸和形状的试样；采用纯物理方式，能够避免传统固定方法中导电银胶的使用，
离子辐照样品夹持装置

[发明专利]一种辐照在线内耗原位测量装置-CN202110159064.6在审
发明人：范平;庄重;袁大庆;马海亮;张乔丽;王先平;李可;税圣杰 -专利权人：中国原子能科学研究院
申请日： 2021-02-05 - 公布日： 2021-06-25 - 主分类号： G01N23/00 文献下载
摘要：本发明属于辐照测量技术领域，具体涉及一种辐照在线内耗原位测量装置。包括设有重离子束流管道(9)的密封的真空腔室(1)，真空腔室(1)内部用于设置辐照样品(12)并能够对辐照样品(12)进行加热，加速后的重离子束能够通过重离子束流管道(9)照射到辐照样品(12)内部，还包括用于测量辐照样品该装置实现了高温环境下的重离子辐照实验中材料的力学性能的在线原位测量，可以在辐照过程中通过对内耗谱的测量，直观获得材料的力学性能变化，并且得到材料辐照过程中产生的辐照缺陷的种类、浓度以及动力学扩散过程，获得温度、辐照剂量等辐照条件等对材料辐照脆化、缺陷演化等方面的信息。
一种辐照在线内耗原位测量装置

[发明专利]金属材料离子辐照后腐蚀增重的计算方法-CN202211363328.0在审
发明人：全琪炜;刘向兵;张晏玮;徐超亮;李远飞;钱王洁;贾文清;尹建 -专利权人：苏州热工研究院有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司
申请日： 2022-11-02 - 公布日： 2023-02-24 - 主分类号： G01N17/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种金属材料离子辐照后腐蚀增重的计算方法，包括如下步骤：将金属材料制备成样品，并测量样品的几何参数；将部分样品进行单面离子辐照，并对需要进行腐蚀的样品进行称重；将未辐照样品和经过离子辐照后的辐照样品进行腐蚀试验，并在腐蚀试验结束之后将样品取出并称重；根据未辐照样品的增重和表面积计算单位面积下的腐蚀增重；根据辐照样品的增重和相应腐蚀时间下未辐照样品单位面积下的腐蚀增重，计算得到辐照样品的辐照面在相应腐蚀时间下单位面积的腐蚀增重本发明的计算方法，通过设计离子辐照金属材料样品的腐蚀实验计算辐照面的腐蚀增重，能更有效地表征辐照效应对金属材料高温高压腐蚀的影响，并提供理论方法依据。
金属材料离子辐照腐蚀增重计算方法

[发明专利]原位分析离子辐照损伤光学特征深度分布的装置及方法-CN201910605492.X在审
发明人：仇猛淋;王广甫 -专利权人：北京师范大学
申请日： 2019-07-05 - 公布日： 2019-10-11 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明公开了一种原位分析离子辐照损伤光学特征深度分布的装置及方法，其中装置包括：光阑、静电透镜、样品控制台、光学透镜和光谱仪，离子束依次经过光阑、静电透镜后聚焦在设置于样品控制台上的样品表面，样品经离子束辐照激发出的光经光学透镜射入至光谱仪本发明避免了传统研究方案样品辐照后辐照损伤的恢复以及二次测量对辐照损伤的破坏，实现离子辐照损伤光学特征的深度分布的原位表征。
光学特征离子辐照光谱仪损伤辐照损伤光学透镜静电透镜原位分析光阑控制台离子束辐照辐照传统研究二次测量方案样品样品表面样品控制原位表征离子束射入聚焦激发恢复

[发明专利]直线加速器重离子微孔膜辐照装置-CN202111097055.5有效
发明人：夏佳文;莫丹;杨雅清;殷学军;杨胜利;胡正国;李运杰;武军霞;曹云;姚庆高;高大庆;许哲;李忠汕 -专利权人：中国科学院近代物理研究所
申请日： 2021-09-18 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G21K1/10 文献下载
摘要：本发明涉及一种直线加速器重离子微孔膜辐照装置，包括直线加速器装置、束流散射装置、真空差分装置和重离子微孔膜真空辐照终端；直线加速器装置，被配置为产生重离子束流；束流散射装置，被配置为使重离子束流在束流管道传输中扩散及空间分布均匀；真空差分装置，被配置为逐级降低束流管道的真空度；重离子微孔膜真空辐照终端，密封连接真空差分装置被配置为使得处于真空环境的辐照原膜在重离子束流轰击下形成重离子微孔膜。本发明可以实现重离子微孔膜的高密度辐照生产。
直线加速器重离子微孔辐照装置

[实用新型]一种负离子发生器-CN201822155846.9有效
发明人：林伟华;徐冬 -专利权人：汉能移动能源控股集团有限公司
申请日： 2018-12-21 - 公布日： 2019-12-10 - 主分类号： H01T23/00 文献下载
摘要：本实用新型实施例公开了一种负离子发生器，包括：外壳；设置于外壳内的负离子释放装置，设置为产生并释放负离子；设置于外壳的内壁上的辐照装置，设置为向负离子释放装置辐射光源；该光源包括：红外线光源和/或紫外线光源；控制装置，与负离子释放装置和辐照装置相连，设置为对负离子释放装置和辐照装置进行控制。该实施例方案通过辐照装置的设置，增加了负离子释放量和/或杀菌消毒。
负离子释放装置辐照装置负离子发生器负离子释放量本实用新型红外线光源释放负离子紫外线光源辐射光源控制装置杀菌消毒内壁光源

[发明专利]快速检测LED老化寿命的快重离子辐照方法-CN202110928544.4在审
发明人：缑洁;张崇宏;宋银;杨义涛;杨华;段利敏;谭继廉;王柱生 -专利权人：中国科学院近代物理研究所
申请日： 2021-08-13 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了快速检测LED老化寿命的快重离子辐照方法。本发明快速检测LED老化寿命的快重离子辐照方法，包括如下步骤：(1)用不同辐照剂量的快重离子辐照LED芯片使其内部形成不同程度的损伤；(2)对辐照后的LED芯片进行封装，检测不同辐照剂量的LED芯片在同一激发电流下的发光强度；(3)对发光强度与辐照剂量或发光强度与辐照损伤程度的关系进行拟合，得到拟合曲线和/或拟合方程；根据所述拟合曲线和/或拟合方程预测LED器件的老化寿命；所述辐照损伤程度为原子的平均离位次数。本发明采用快重离子辐照技术，在发光活性层只沉积能量且损伤程度可控，可在几分钟之内完成LED的老化实验，克服了传统应力老化试验耗时长、能耗高及实验过程复杂的缺点。
快速检测 led 老化寿命离子辐照方法

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