专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于透射阵的涡旋电磁波天线-CN202310021263.X在审
  • 王振;童美松;李潇雨 - 同济大学
  • 2023-01-06 - 2023-05-12 - H01Q1/50
  • 本发明提出一种基于透射阵的涡旋电磁波天线,包括馈源(1)、透射阵相位(2)和螺旋相位(3);所述透射阵相位(2)和螺旋相位(3)由发射‑接收型辐射谐振单元(4)组成。本发明的天线整体结构采用透射阵形式,没有复杂的功分馈电网络,且能实现天线高增益;也可通过PIN二极管的通断设置,来实现单元相位改变,从而实现螺旋相位面的改变,最终实现涡旋电磁波的模式可重构。
  • 基于透射涡旋电磁波天线
  • [实用新型]具有相位校正、波导和压缩的音频驱动器-CN201620154486.9有效
  • 陈坚强 - 惠州市国美电声有限公司
  • 2016-03-01 - 2016-06-29 - H04R9/06
  • 本实用新型公开了一种具有相位校正、波导和压缩的音频驱动器,包括T铁、盆架、振膜、内号角、外号角和相位塞,所述内号角与T铁连接,所述外号角设置在盆架上,所述相位塞设置在内号角、外号角以及振膜形成的空间内,所述内号角、外号角和相位塞均为环形回转体,所述相位塞包括压缩、内波导和外波导,所述内波导和外波导均与压缩连接,所述压缩面面向振膜设置;本实用新型能够明显改善音频的相位特性和频率特性,并能够改善声音辐射的波阵面
  • 具有相位校正波导压缩音频驱动器
  • [发明专利]光学膜及显示体-CN201780034268.9有效
  • 笼谷彰人 - 凸版印刷株式会社
  • 2017-05-30 - 2021-04-23 - G03H1/02
  • 本发明是具备记录(14)的光学膜(10)。记录(14)具有:计算要素分区(16),计算再现像的来自各再现点(22)的光的相位成分,1对1地与各再现点(22)对应;相位角记录区域(18),记录基于相位成分计算出的相位角;以及相位角非记录区域(20),不记录相位角。在计算要素分区(16)与相位角记录区域(18)重叠的重复区域中,记录基于相位成分计算出的相位角。
  • 光学显示
  • [实用新型]基于嵌入式数据的非干涉相位检出装置-CN202121730888.6有效
  • 林枭;谭小地;郝建颖;任宇红 - 福建盘盛信息光学有限公司
  • 2021-07-28 - 2022-05-10 - G01J9/00
  • 本实用新型属于全息数据存储技术领域,公开基于嵌入式数据的非干涉相位检出装置,包括依次设置的物、光学系统、透镜、傅里叶变换和迭代计算处理器;物用于上载原始相位数据;光学系统用于将原始相位数据记录在全息材料上、并进行信息读取以获得待检测相位数据;透镜用于产生待检测相位数据傅里叶变换的频谱强度分布;傅里叶变换用于接收获得待检测相位数据傅里叶变换的频谱强度分布;迭代计算处理器用于对待检测相位数据傅里叶变换的频谱强度分布进行迭代计算,以得到检出相位数据;其能使迭代次数缩短,提升相位检出精度,且能调整嵌入式数据的比例,控制迭代次数;能保证迭代快速收敛至最优解,缩短所需迭代次数,提高数据转换速度。
  • 基于嵌入式数据干涉相位检出装置
  • [发明专利]一种小重合视场多目相位偏折测量方法-CN202111649940.X有效
  • 房丰洲;王颖墨 - 天津大学
  • 2021-12-30 - 2023-03-31 - G01B11/245
  • 本申请提供一种小重合视场多目相位偏折测量装置及方法。前述装置,包括:相位物体、成像系统以及控制计算机;相位物体和成像系统分别通过数据链路与控制计算机连接;相位物体,用于投射第一相位信息;成像系统,用于采集相位物体显示的第二相位信息;控制计算机,用于标定相位物体和成像系统间的几何关系,控制相位物体和成像系统进行运行,获取第二相位信息,并基于几何关系和第二相位信息,生成相位物体中待测曲面的形。本申请提供的小重合视场多目相位偏折测量装置,可在不需要借助设计形的先验知识且在待测曲面设计形未知的情况下,可以借助多目成像系统重合视场以及多目成像系统视场分别对未知曲面进行单独测量或全视场测量。
  • 一种重合视场相位测量方法

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