专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]堆叠式存储器装置及其操作方法、存储器系统-CN201910192696.5有效
  • 崔颜 - 三星电子株式会社
  • 2019-03-14 - 2023-09-05 - G11C29/18
  • 所述堆叠式存储器装置包括:缓冲器裸、堆叠在缓冲器裸的多个存储器裸和多个硅通孔(TSV)。缓冲器裸与外部装置通信。TSV延伸通过所述多个存储器裸以连接到缓冲器裸。每个存储器裸包括存储器单元阵列,存储器单元阵列包括结合到多条字线和多条位线的多个动态存储器单元。缓冲器裸包括测试电路,在测试模式下,测试电路对与所述多个存储器裸片中的一个存储器裸相应的目标存储器裸的动态存储器单元执行测试,并将包括至少一个缺陷单元的存储器单元行的地址存储在除了目标存储器裸之外的其他存储器裸的至少一个列解码器中
  • 堆叠存储器装置及其操作方法系统
  • [实用新型]一种芯片加热冷却测试治具-CN202222281657.2有效
  • 徐伟;魏善磊;徐欢夏;唐朝阳 - 江苏联康信息股份有限公司
  • 2022-08-30 - 2023-01-24 - G01N25/00
  • 本实用新型公开一种芯片加热冷却测试治具,包含下底板和铝框,所述下底板还设有驱动所述铝框实现上下运动的导向组件,所述底板还设有可以在所述下底板滑动的下模组件,下模组件用于固定、加热和冷却被测主板,所述铝框上设有用于检测主板的线路板测试模块。本实用新型的有益效果是:通过半导体制冷来加热或冷却电路板内层来使芯片或元件达到不同的温度,半导体制冷利用接触电路板表层焊盘和裸铜或屏蔽金属盖,补强金属等连接到电路板,相比传统的整体对电路板进行加热本装置的加热效率更高,且可以精准控制被测主板的芯片或元件的被加热温度。
  • 一种芯片加热冷却测试
  • [发明专利]一种OGS功能测试装置-CN201410405182.0有效
  • 陈奇奇 - 东莞市宏凯光电有限公司
  • 2014-08-15 - 2017-04-26 - G01R31/00
  • 本发明公开了一种OGS功能测试装置,其包括箱体,所述箱体设置有透明盖板,所述盖板设置有支架,所述支架上设置有假压机构,所述盖板设置有用于固定柔性电路板的可移动滑台,所述滑台连接设置于盖板的调节机构,对应柔性电路板的设置位置于所述盖板设置有两道用于固定OGS功能的限位块,所述箱体内对应滑台上设置柔性电路板的位置设置有摄像头,配合摄像头于所述箱体内设置有照明装置,且所述盖板于所述支架的一侧设置有与摄像头通信连接的显示器,所述箱体内设置电源和电路板。上述OGS功能测试装置能够对单层多点OGS功能进行有效检测,将来料不良检测出来,提高产品良率,也方便了后期对不良产品进行分析。
  • 一种ogs功能测试装置
  • [实用新型]一种OGS功能测试装置-CN201420464685.0有效
  • 吴国峰 - 无锡宇宁光电科技有限公司
  • 2014-08-15 - 2015-02-11 - G01R31/00
  • 本实用新型公开了一种OGS功能测试装置,其包括箱体,所述箱体设置有透明盖板,所述盖板设置有支架,所述支架上设置有假压机构,所述盖板设置有用于固定柔性电路板的可移动滑台,所述滑台连接设置于盖板的调节机构,对应柔性电路板的设置位置于所述盖板设置有两道用于固定OGS功能的限位块,所述箱体内对应滑台上设置柔性电路板的位置设置有摄像头,配合摄像头于所述箱体内设置有照明装置,且所述盖板于所述支架的一侧设置有与摄像头通信连接的显示器,所述箱体内设置电源和电路板。上述OGS功能测试装置能够对单层多点OGS功能进行有效检测,将来料不良检测出来,提高产品良率,也方便了后期对不良产品进行分析。
  • 一种ogs功能测试装置
  • [发明专利]一种电路测试控制方法及装置-CN201210513748.2有效
  • 滕虓宇;张炜;马文波;于立波 - 北京华大信安科技有限公司
  • 2012-12-05 - 2013-04-03 - G01R31/28
  • 本发明实施例公开了一种电路测试控制方法及装置,包括,在进入测试模式后,接收第一测试口令,以及与所述第一测试口令对应的第一测试模式信号,将所述第一测试口令与预设口令进行匹配,如果匹配成功,将所述第一测试模式信号输入系统SOC芯片,以便于对所述SOC芯片所述第一测试模式信号对应的第一测试项进行测试。相应的,本发明实施例还公开了一种电路测试控制装置。本发明实施例所提供的电路测试控制方法及装置,利用测试口令,控制测试模式信号进入SOC芯片,增加了启动SOC芯片测试项的条件,提高了SOC芯片的安全性,同时,通过输入相应的测试口令和测试模式信号,可以直接实现测试项的转换,使得测试过程更简洁。
  • 一种电路测试控制方法装置
  • [发明专利]射频测试-CN201480079388.7有效
  • 黄涛 - 华为技术有限公司
  • 2014-12-26 - 2020-03-31 - G01R31/28
  • 本发明实施例提供一种射频测试座,包括:绝缘材料形成的内腔、测试孔,位于内腔中的接触、第一引脚和第二引脚,其中,所述第一引脚和所述第二引脚分别与单板电路电连接,所述第一引脚与所述接触固定连接,所述第二引脚与所述与所述接触接触连接,所述内腔和所述测试孔互相连通,测试状态下测试探针从所述测试孔伸入至所述内腔,并与所述接触接触,形成电连接,所述射频测试座的所述内腔设置有可打开的隔离,用于防止外界异物进入所述内腔。
  • 射频测试

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