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- [发明专利]气固两相管流静电测量装置及测量方法-CN201210059280.4无效
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姚军;李宁
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厦门大学
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2012-03-07
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2012-07-18
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G01R29/12
- 气固两相管流静电测量装置及测量方法,涉及到一种管流静电测量装置。测量装置从内至外依次设有内屏蔽金属层、第1绝缘层、金属层、第2绝缘层和外屏蔽金属层;内屏蔽金属层上设有电极并接地;金属层上设有测量电极,测量电极外接静电测量仪;外屏蔽金属层与地连接。将被测管道插入内屏蔽金属层中,内屏蔽金属层紧贴在被测管道外壁;开启电脑和静电测量仪,进入电脑中控制静电测量仪的程序窗口,启动静电测量仪的数据记录程序;开启气固两相管流静电测量装置,在气力输送下颗粒在被测管道中运动,测量颗粒碰撞管道壁面产生的静电;测量结束关闭气固两相管流静电测量装置,停止气力输送,关闭电脑测量的控制窗口,关闭静电测量仪,完成测量过程。
- 两相静电测量装置测量方法
- [发明专利]一种再生塑料造粒机静电清除器-CN201510294415.9在审
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刘磊
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刘磊
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2015-06-02
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2015-08-26
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H05F3/00
- 本发明公开了一种再生塑料造粒机静电清除器,包含一清除器本体,在所述的清除器本体的一端设有一静电测量窗口,在所述的静电测量窗口的周围设有若干静电清除孔,在所述的清除器本体上还设有一第一数据线和一第二数据线,所述的静电清除孔的数量不少于5个,所述的静电测量窗口上设有防护玻璃。由于本发明的再生塑料造粒机静电清除器在本体上设置了一个用于测量环境静电含量的测量窗口,在窗口的附件设置了多个静电清除孔用于清除静电,静电清除孔的工作功率取决于测量窗口测量到的静电含量,从而大大提高了再生塑料造粒机静电清除器的静电清除效果
- 一种再生塑料造粒机静电清除
- [实用新型]一种静电场测量仪校准装置-CN202223042839.0有效
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冯社雄
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广东省世通仪器检测服务有限公司
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2022-11-16
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2023-03-28
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G01R35/00
- 本实用新型公开了一种静电场测量仪校准装置,包括电压调节器、静电板和支撑杆,静电板的正面中心位置固定安装有连接头,连接头和电压调节器的测试端口通过导线相连接,通过设置电压调节器和静电板,利用测量仪通过导线与静电板连接,并由测量仪对静电板输送一个额定高压,从而由静电板产生一个静电场环境,再通过静电场测量仪对该静电场环境进行检测,从而由静电场测量仪检测的高压数值与电压调节器输出的高压数值是否相等,以此对静电场测量仪的数据是否精准,进行判断,从而是否需要对静电场测量仪进行校准,而该装置结构简单,各零器件体积不大,因此便于携带和外出使用。
- 一种静电场测量仪校准装置
- [发明专利]静电测量设备及静电测量方法-CN202010054522.5有效
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袁增艺;龙吟;王恺
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上海华力集成电路制造有限公司
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2020-01-17
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2022-11-29
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G01R31/26
- 本发明公开了一种用于半导体晶圆表面静电测量的静电测量设备,包括:支撑部顶部设有多个第一电性测量件,各第一电性测量件第一端分别与半导体晶圆各晶粒测试触点电性连接;第二电性测量件卡固在半导体晶圆周侧并形成电性连接;测量单元第一端电性连接各第一电性测量件第二端,其第二端电性连接第二电性测量件,其用于测量第一电性测量件和第二电性测量件之间电流。本发明还公开了一种用于半导体晶圆表面静电测量的静电测量方法。通过本发明提供的静电测量设备/测量方法能够在半导体生产中及时发现晶圆静电,并能够通过本发明提供的静电测量设备将晶圆静电接地导出,避免晶圆静电造成后续工艺缺陷,进而提高半导体产品的良品率,提高生产效率。
- 静电测量设备测量方法
- [发明专利]静电可视化装置-CN202210935523.X在审
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吴埈昊;金光燮;金宰弘;张径熏;朴永镐;李锺民;宋延彻;河相民;柳志勳;林名俊
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细美事有限公司
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2022-08-04
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2023-07-11
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G06T11/00
- 本发明提供能够视觉上确认所测量的静电的水平的静电可视化装置。静电可视化装置包括:拍摄部,在第一模式下生成在离测量对象第一距离的位置处拍摄所述测量对象的第一拍摄影像,并且在第二模式下生成在离所述测量对象第二距离的位置处拍摄所述测量对象的第二拍摄影像;静电传感器,在离所述测量对象所述第二距离的位置处测量所述测量对象的静电水平;处理器,将所述第二拍摄影像匹配到所述第一拍摄影像;以及输出部,输出在所述第一拍摄影像上对由所述静电传感器测量的静电水平进行视觉化的静电视觉化影像,其中,所述静电视觉化影像在所述第一拍摄影像上的与所述第二拍摄影像匹配的位置处包括与由所述静电传感器测量的所述测量对象的静电水平对应的颜色
- 静电可视化装置
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