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[发明专利]一种多通道直流高压微安表-CN201510908984.8在审
发明人：姜杏辉;马亚欣;黄凡;严思敏;盛霞 -专利权人：苏州华电电气股份有限公司
申请日： 2015-12-10 - 公布日： 2016-02-03 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：一种多通道直流高压微安表，包括至少两个用于分别测量电流的测量模块、用于集中显示测量出的电流大小的显示模块、用于读取测量模块的测量数据并将测量数据处理后传送给显示模块的处理器，每个测量模块分别与处理器形成一个通信通道，所述处理器通过通信通道与对应的测量模块进行数据通信。将多个测量模块整合在一起与处理器通信，处理器集中处理测量数据并将测量数据显示在一个显示模块上。本发明方便用户对测量到的电流数据的观察记录以及集中处理分析，能够满足复杂试验的需求，提高电流大小测量的进度。
一种通道直流高压微安

[实用新型]一种多通道直流高压微安表-CN201521020632.0有效
发明人：姜杏辉;马亚欣;黄凡;严思敏;盛霞 -专利权人：苏州华电电气股份有限公司
申请日： 2015-12-10 - 公布日： 2016-04-13 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：一种多通道直流高压微安表，包括至少两个用于分别测量电流的测量模块、用于集中显示测量出的电流大小的显示模块、用于读取测量模块的测量数据并将测量数据处理后传送给显示模块的处理器，每个测量模块分别与处理器形成一个通信通道，所述处理器通过通信通道与对应的测量模块进行数据通信。将多个测量模块整合在一起与处理器通信，处理器集中处理测量数据并将测量数据显示在一个显示模块上。本实用新型方便用户对测量到的电流数据的观察记录以及集中处理分析，能够满足复杂试验的需求，提高电流大小测量的进度。
一种通道直流高压微安

[实用新型]一种汽车零件平行度量测系统-CN201922033161.1有效
发明人：郑火明 -专利权人：福州新密机电有限公司
申请日： 2019-11-22 - 公布日： 2020-05-22 - 主分类号： G01B21/22 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种汽车零件平行度量测系统，包括处理器以及测量装置；所述处理器与所述测量装置电连接，所述测量装置用于放置待测工件；所述测量装置用于测量所述待测工件的平面数据，所述测量装置将采集的所述待测工件的平面数据发送至所述处理器，所述处理器对采集的所述待测工件的平面数据分析处理。区别于现有技术，上述技术方案设置测量装置和处理器，通过测量装置将待测工件的平面测量数据发送给处理器，由处理器对接收的待测工件的平面测量数据进行分析。测量过程中，待测工件的测量数据由人工测量转换成了机器自动测量，提高了测量的效率和精准度。
一种汽车零件平行度量系统

[发明专利]半导体装置以及测量处理系统-CN202110192040.0在审
发明人：赤堀博次 -专利权人：拉碧斯半导体株式会社
申请日： 2021-02-20 - 公布日： 2021-09-17 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供半导体装置以及测量处理系统。该半导体装置以及测量处理系统具备对多个测量值进行平均处理来计算平均测量值的结构，与软件处理的情况相比，能够在更短时间内获取更正确的平均测量值。该半导体装置以及测量处理系统包含：平均处理部，计算平均测量值，该平均测量值是关于从切换部输出的多个测量对象中的每个测量对象的多个观测值的平均值，其中，上述切换部切换并输出从多个测量对象中的每个测量对象获取的测量值；计时器，生成计时器信号，该计时器信号是预先决定的间隔的定时信号；以及控制部，根据计时器信号和测量序列来控制切换部和平均处理部，以计算每个测量对象的平均测量值，其中，上述测量序列是设定针对多个测量对象的测量顺序和测量次数的序列
半导体装置以及测量处理系统

[发明专利]用于测量装置启动的方法-CN201110413478.3有效
发明人：蒂洛·特拉普;托尔斯滕·佩希施泰因 -专利权人：恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司
申请日： 2011-12-13 - 公布日： 2012-07-18 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：一种用于测量装置启动的方法，所述方法包括通过至少一个与处理容器，特别是一次性容器的内部相接触的测量换能器来监测包含在处理容器中的介质的被测量变量，其中为了推断测量值，根据预定的特征曲线，测量换能器的至少一个测量信号被映射到被测量变量的测量值，其中所述方法包括：将处理介质引入到处理容器中；使测量换能器与处理介质接触；以及根据通过测量换能器在处理介质中记录的测量信号或根据从中基于特征曲线推导出的测量值，执行测量装置的单点校准。
用于测量装置启动方法

[发明专利]用于处理机动车中的测量信号的信号处理设备-CN201580047405.3有效
发明人： S.布吕格曼;J.艾克里奇;U.施特林 -专利权人：大陆－特韦斯股份有限公司
申请日： 2015-09-22 - 公布日： 2020-05-19 - 主分类号： G01D5/244 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于处理机动车中的测量信号的信号处理设备（100），其中所述测量信号涉及具有连续的测量值的随时间可变的测量变量，所述信号处理设备（100）具有：第一信号处理装置（101），用于根据所述测量信号计算所述随时间可变的测量变量；第二信号处理装置（103），用于处理所述随时间可变的测量变量，以便获得经处理的测量变量；第三信号处理装置（105），用于计算所述随时间可变的测量变量的变化率，其中所述第三信号处理装置（105）构造为，输出表明所述变化率的附加测量信号；和通信接口（107），该通信接口（107）构造为将所述经处理的测量变量和所述附加测量信号合并成经组合的发送信号并且发出所述经组合的发送信号。
用于处理机动车中的测量信号设备

[发明专利]一种测量控制方法-CN200510103317.9有效
发明人：赵春华 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2005-09-16 - 公布日： 2006-10-25 - 主分类号： H04L1/16 文献下载
摘要：本发明公开了一种测量控制方法，用以解决现有技术中测量控制消息的处理过程复杂、处理能力较低及处理过程中资源占用较多的问题。UTRAN向UE发送测量控制消息，UE如果能正确处理测量控制消息则返回测量控制完成消息，若UTRAN在预定时间内收到UE反馈的测量控制完成消息，则判定UE处理测量控制消息成功，否则，判定UE处理测量控制消息失败本发明在现有技术的测量控制流程中增加了测量控制完成消息，使UTRAN只需对测量控制消息的反馈消息进行处理，从而简化了测量控制消息的处理流程，减少了在等待定时器超时过程中对系统资源的占用，提高了UTRAN对测量控制消息的处理能力。
一种测量控制方法

[发明专利]测量处理装置、测量处理方法、测量处理程序和用于制造该装置的方法-CN201480083003.4有效
发明人：町井畅且;早野史伦;河井章利 -专利权人：株式会社尼康
申请日： 2014-09-02 - 公布日： 2021-05-07 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：一种用于X射线检查装置的测量处理装置，所述X射线检查装置利用检测单元检测穿过试样的X射线，以基于所获取的透射图像顺序地检查多个试样，所述测量处理装置包括：设置单元，用于在所述试样的一部分上设置待检查区域
测量处理装置方法程序用于制造

[发明专利]量子位测量装置、测量方法以及量子计算机-CN202111271204.5在审
发明人：孔伟成;赵勇杰 -专利权人：合肥本源量子计算科技有限责任公司
申请日： 2021-10-29 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： G06N10/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种量子位测量装置，包括第一存储模块，用于存储与待测量的量子位对应的测量波形和处理系数；其中，每个量子位均对应一个所述测量波形和一个处理系数；第二存储模块，用于存储所述测量波形和所述处理系数的时序参数；其中，所述时序参数与待测量的量子位执行的测量任务对应；测量采集模块，用于依据所述测量波形和所述测量波形的时序参数输出对应的测量信号至待测量的量子位；并依据所述处理系数和所述处理系数的时序参数处理与所述测量信号对应的反馈信号获得测量结果；第三存储模块，用于存储所述测量结果。本申请能优化测试流程，提高测试效率，进而提高量子位测量的测量结果的精度。
量子测量装置测量方法以及计算机

[发明专利]测量数据处理系统及其处理方法-CN200810219212.3无效
发明人：朱效贤;张尚斌;谢荣昆 -专利权人：富港电子(东莞)有限公司;正崴精密工业股份有限公司
申请日： 2008-11-14 - 公布日： 2010-06-16 - 主分类号： G01D9/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种测量数据处理系统及其处理方法，用以接收测量工具发出的测量数据信号，并将测量数据信号储存在记忆卡中，测量数据处理系统包括用以发出触发信号至测量工具，使测量工具送出测量数据信号的第一开关单元，用以侦测触发信号后，而接收测量数据信号的微处理单元，用以连接记忆卡的卡连接器，测量数据信号由微处理单元送出，经过卡连接器被储存至记忆卡中，以及用以发出触发信号至微处理单元，使微处理单元删除记忆卡的数据的第二开关单元控制第一、第二开关单元，将测量工具的测量数据可储存于记忆卡或删除记忆卡中所储存的测量数据，所以测量数据处理系统具有结构简单、使用容易等优点。
测量数据处理系统及其处理方法

[发明专利]异构网络下的层二测量及结果处理方法和设备-CN201210295666.5在审
发明人：张大钧;赵亚利 -专利权人：电信科学技术研究院
申请日： 2012-08-17 - 公布日： 2014-02-19 - 主分类号： H04W24/08 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种异构网络下的层二测量及结果处理方法和设备，涉及无线通信领域，用于解决异构网络下如何进行层二测量的问题。本发明中，处理实体向本地基站Local eNB发送进行层二测量的测量请求，Local eNB在接收到测量请求后，根据该测量请求进行层二测量，将层二测量的测量结果上报给发送所述测量请求的处理实体，处理实体接收Local eNB上报的、根据测量请求进行层二测量得到的测量结果，并对所述测量结果进行处理。
网络测量结果处理方法设备

[发明专利]用于测量板材收缩率的装置和方法-CN201610292500.6在审
发明人：祁麟;周波;李俊锋;王丽红 -专利权人：东旭科技集团有限公司;东旭集团有限公司
申请日： 2016-05-05 - 公布日： 2016-06-29 - 主分类号： G01N25/16 文献下载
摘要：本发明涉及板材性能测试领域，公开了一种用于测量板材收缩率的装置和方法。所述用于测量板材收缩率的装置包括：底座(1)，所述底座上设置有板材放置部(2)；支架，所述支架安装在所述底座上；测量探头，所述测量探头安装在所述支架上，且所述测量探头能够获取图像信号；以及显示处理装置，所述显示处理装置能够接收所述图像信号，对所述图像信号进行分析处理，并显示处理结果。将待测量的板材放置在板材放置部上，通过测量探头获取待测量板材的指定位置处的图像信号，显示处理装置对图像信号分析处理后显示处理结果，并根据该处理结构计算收缩率，在测量过程中保持待测量板材静止，以在稳定的状态下对待测量板材的收缩量进行测量
用于测量板材收缩装置方法

[实用新型]用于测量板材收缩率的装置-CN201620400074.9有效
发明人：祁麟;周波;李俊锋;王丽红 -专利权人：东旭科技集团有限公司;东旭集团有限公司
申请日： 2016-05-05 - 公布日： 2016-10-26 - 主分类号： G01N25/16 文献下载
摘要：本实用新型涉及板材性能测试领域，公开了一种用于测量板材收缩率的装置。所述用于测量板材收缩率的装置包括：底座(1)，所述底座上设置有板材放置部(2)；支架，所述支架安装在所述底座上；测量探头，所述测量探头安装在所述支架上，且所述测量探头能够获取图像信号；以及显示处理装置，所述显示处理装置能够接收所述图像信号，对所述图像信号进行分析处理，并显示处理结果。将待测量的板材放置在板材放置部上，通过测量探头获取待测量板材的指定位置处的图像信号，显示处理装置对图像信号分析处理后显示处理结果，并根据该处理结构计算收缩率，在测量过程中保持待测量板材静止，以在稳定的状态下对待测量板材的收缩量进行测量
用于测量板材收缩装置

[发明专利]测量设备与物理特性测量装置-CN201910289643.5有效
发明人：林庭瑜 -专利权人：纬创资通股份有限公司
申请日： 2019-04-11 - 公布日： 2022-11-29 - 主分类号： G01D21/02 文献下载
摘要：一种测量设备与物理特性测量装置。测量设备包括至少一第一物理特性测量装置以及数据处理装置。第一物理特性测量装置包括感测器、信号处理电路以及传递路径。感测器依据第一物理特性测量装置所在位置的物理特性产生测量信号。信号处理电路将测量信号转换为第一经处理信号。传递路径能够与第二物理特性测量装置相互电性连接。传递路径将第二物理特性测量装置的第二经处理信号传递给数据处理装置，以回应第一物理特性测量装置与第二物理特性测量装置相互电性连接。
测量设备物理特性装置

[发明专利]图像处理装置以及图像处理系统-CN202211309988.0在审
发明人：胜亦智史 -专利权人：东芝泰格有限公司
申请日： 2022-10-25 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： H04N1/00 文献下载
摘要：本申请公开了图像处理装置以及图像处理系统，提供一种不需要用户进行输入就能够制作测量结果数据的技术。图像处理装置具备格式数据获取部、测量数据获取部、生成部和记录处理部。格式数据获取部获取包括测量项目的格式数据。测量数据获取部基于与和测量项目的测量相关的电子设备的通信，从电子设备获取与测量项目相关的生物体的测量数据。生成部生成测量结果数据，该测量结果数据包括测量项目以及基于测量数据的生物体信息。记录处理部记录测量结果数据。
图像处理装置以及系统