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[发明专利]用于测量偏光板的偏光方向的装置和方法-CN200710107488.8有效
发明人：咸溶晟;文钟源;郑珍官 -专利权人： LG.菲利浦LCD株式会社
申请日： 2007-05-15 - 公布日： 2008-01-02 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明公开了用于测量偏光板的偏光方向的装置和方法。该偏光方向测量装置包括具有相对于基准轴线的任意偏光方向的第一偏光板、用于测量偏光方向的测量样品、测量样品架、光源和光检测器。所述测量样品沿着第一方向和与该第一方向镜像对称的第二方向放置在所述测量样品架上。所述测量样品架使所述测量样品在方位方向上沿着所述基准轴线旋转。所述光检测器检测在所述光源中产生然后穿过所述第一偏光板和所述测量样品的光。
用于测量偏光方向装置方法

[发明专利]偏光板和包含其的显示装置-CN201610265029.1有效
发明人：洪完泽 -专利权人：三星SDI株式会社
申请日： 2016-04-26 - 公布日： 2019-08-13 - 主分类号： G02B5/30 文献下载
摘要：本发明提供一种偏光板和包含其的显示装置。所述偏光板，包含：粘合层、安置于粘合层的第一表面上的偏光器以及安置于粘合层的第二表面上的偏光器保护膜。沿偏光板的横向方向(transverse direction，TD)的测量拉伸模数(β₁)与偏光器的测量厚度(α₁)和偏光器保护膜的测量厚度(α_{2<沿偏光器的TD的测量拉伸模数(β₂)与沿偏光器保护膜的TD的测量拉伸模数(β₃)的比率(β₂/β₃)大于0且小于0.2本发明的偏光板可改进沿拉伸方向的裂纹现象。}
偏光包含显示装置

[发明专利]保偏光纤损耗测试装置、系统、方法及存储介质-CN202111394623.8在审
发明人：李道豫;卢世才;徐华平;李可;徐闯;贺强;周培;吕刚;陈亮;谌毅;谢桂泉;李兵;邱志远;冯文昕;刘浩;邢方勃;姚纳;项方宇;白利金 -专利权人：中国南方电网有限责任公司超高压输电公司贵阳局
申请日： 2021-11-23 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种保偏光纤损耗测试装置、系统、方法及存储介质。所述保偏光纤损耗测试装置，包括：测量模块；测量模块用于连接全光纤电流互感器的待测保偏光纤位于控制室内的裸纤端口；测量模块用于向待测保偏光纤输出光信号；回光模块；回光模块用于连接待测保偏光纤位于高压侧的裸纤端口；回光模块接收经待测保偏光纤输出的光信号，并将光信号沿原光路返回给待测保偏光纤；测量模块还用于接收经待测保偏光纤输出的返回的光信号，并测量返回的光信号的光功率；光功率用于获得待测保偏光纤的光纤损耗。本申请结构简单、成本低、测量效率高以及测量可靠性高，为换流站内对全光纤电流互感器保偏光纤的检修、运维提供了便捷高效的检测手段。
偏光损耗测试装置系统方法存储介质

[发明专利]偏光片光学参数的测量方法及测量装置-CN201711483432.2在审
发明人：海博 -专利权人：惠州市华星光电技术有限公司
申请日： 2017-12-29 - 公布日： 2018-06-19 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种偏光片光学参数的测量方法及测量装置，偏光片包括补偿膜和PVA层，测量方法包括：第一状态下，入射线偏振光依次经过补偿膜和PVA层，获取该状态下偏光片出射光线亮度最低和亮度最高时的第一测量参数和第二测量参数；第二状态下，入射线偏振光依次经过PVA层和补偿膜，获取该状态下偏光片出射光线亮度最低和亮度最高时的第三测量参数和第四测量参数；根据第一测量参数、第二测量参数、第三测量参数及第四测量参数中的一个或多个获取偏光片中补偿膜和/或PVA层的光学参数，光学参数包括暗态亮度、对比度、偏光度中的任意一种或多种。本发明能够测量得到偏光片中补偿膜和/或PVA层对偏光片光学参数的影响，从而针对性改善偏光片的光学性能。
光学参数补偿膜测量参数偏光片测量入射线偏振光测量装置出射光线第二测量第一测量下偏光片偏光对偏光片光学性能偏光度暗态

[发明专利]偏光膜检验方法以及偏光膜检验装置-CN200810130593.8无效
发明人：洪群泰;林骏宏 -专利权人：达信科技股份有限公司
申请日： 2008-07-14 - 公布日： 2010-01-20 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种偏光膜检验方法以及偏光膜检验装置。偏光膜检验方法步骤包含：以光线照射偏光膜；使偏光膜与平行光线方向具有倾斜夹角；使偏光膜与垂直光线方向具有旋转夹角；获得通过偏光膜的光线的椭圆率值；以及根据椭圆率值产生检验结果。偏光膜检验装置包含光源、夹具以及测量装置。光源可发出光线照射偏光膜。夹具以可夹持偏光膜的方式设置，使偏光膜与平行光线方向具有倾斜夹角，且与垂直光线方向具有旋转夹角。测量装置设置于夹具相对于光源的另一侧，供测量通过偏光膜的光线的椭圆率。
偏光检验方法以及装置

[发明专利]偏光度的测量方法-CN201811165732.0有效
发明人：陈俊吉 -专利权人：惠州市华星光电技术有限公司
申请日： 2018-10-08 - 公布日： 2020-04-03 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种偏光度的测量方法，其用于测量偏振片的偏光度，本发明的优点在于，采用反射式测量方法，不需要将偏振片从模组上取下后再测量偏光度，避免模组被破坏，且避免偏振片受损，影响偏振片的偏光度；另外，本发明偏光度的测量方法能够实现大批量在线监控
偏光测量方法

[实用新型]一种偏光片贴附精度测量装置-CN201220548227.6有效
发明人：赵寅初;公伟刚;许安龙 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司
申请日： 2012-10-24 - 公布日： 2013-04-03 - 主分类号： G01B5/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及液晶面板质量检测器具技术领域，特别涉及一种偏光片贴附精度测量装置，用于方便快捷地、精确地测量偏光片在液晶面板上的贴附精度。本实用新型公开了一种偏光片贴附精度测量装置，包括：测量平台，位于所述测量平台周边的至少一个滑动结构，以及滑动装配在每一个所述滑动结构上的至少一个尺寸测量模块。使用本实用新型提供的偏光片贴附精度测量装置，可明显减小因目镜本身精度和人为因素引起的读数误差，提高测量偏光片在液晶面板上的贴附精度；同时，本偏光片贴附精度测量装置一次测试可获得至少两个点位的偏光片贴附精度，方便快捷，提高了测量效率。
一种偏光片贴附精度测量装置

[发明专利]偏光板组件及含有该偏光板组件的投影机-CN201410546501.X在审
发明人：卢霞;梁志强 -专利权人：深圳雅图数字视频技术有限公司
申请日： 2014-10-15 - 公布日： 2015-01-21 - 主分类号： G03B21/16 文献下载
摘要：一种偏光板组件，包括偏光板及测温件。测温件具有测温探头，测温探头固定于偏光板的边缘上，并与偏光板紧密接触，测温探头用于测量偏光板的温度。上述偏光板组件的偏光板的温度能够被较为准确的测量，从而有利于对偏光板的温度进行实时监控，以防止偏光板的温度过高而被烧坏。此外，还提供一种含有上述偏光板组件的投影机。
偏光组件含有投影机

[发明专利]少模保偏光纤拍长测量方法-CN202211031045.6在审
发明人：于飞;伍成;冯素雅;于春雷;胡丽丽;吴达坤 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2022-08-26 - 公布日： 2022-11-22 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种少模保偏光纤拍长测量方法，该测量方法包括测量少模保偏光纤不同偏振模式之间的干涉信号，通过逆傅里叶变换转换为时序图，分离不同偏振模式，并根据不同模式的偏振敏感性进行区分，从而获得不同偏振模之间的群时延差，并据此计算得到少模保偏光纤的拍长。目前主流的保偏光纤拍长测量方法与装置仅针对单模保偏光纤。本发明具有便于搭建、操作简单、测量速度快、测量精度高的特点，对于少模保偏光纤的研制与应用具有一定的指导作用。
少模保偏光纤拍长测量方法

[发明专利]圆偏光面板检测方法及圆偏光面板检测装置-CN201611230328.8有效
发明人：徐亮;林奇颖 -专利权人：武汉华星光电技术有限公司
申请日： 2016-12-27 - 公布日： 2019-07-02 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种圆偏光面板检测方法及圆偏光面板检测装置。该圆偏光面板检测方法根据波长分散性的原理，以一预设角度为间隔旋转检偏器(3)内的偏光片(31)，圆偏光面板(1)发出的光线经偏光片(31)与退偏滤片(33)进入光谱仪(5)，每旋转一次偏光片(31)，使用光谱仪(5)测量一次全光谱，然后根据光谱仪(5)测量到的全光谱数据便能够计算得到圆偏光波长、及圆偏光延迟量值，从而能够较快速准确地测量面板的圆偏光特性，对圆偏光面板品质进行评估，有效监控圆偏光面板模组制程。
偏光面板检测方法装置

[发明专利]保偏光纤拍长测量方法及系统-CN201510114773.7有效
发明人：李强龙;杨直;赵卫;李峰;张挺;杨小君;王屹山 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2015-03-16 - 公布日： 2019-09-27 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种保偏光纤拍长测量方法，其包括如下步骤：S101、将光源保偏光纤尾纤和待测保偏光纤的输入端直接熔接，待测保偏光纤的输出端切平后和准直透镜相对；S103、使线偏振脉冲激光经光源保偏光纤从待测保偏光纤的输入端进入，从待测保偏光纤的输出端出射，并经准直透镜准直输入至自相关仪；S105、利用自相关仪测量获得线偏振脉冲激光在待测保偏光纤两光轴的脉冲延时差Δτ，并代入函数即可得出待测保偏光纤的拍长L_B，其中，λ为线偏振脉冲激光的光波波长，L为待测保偏光纤的长度，c为真空中光速。本发明另外提供一种保偏光纤拍长测量系统。所述保偏光纤拍长测量方法操作过程简单、快捷，能够精确快速地测量待测保偏光纤的拍长。
偏光纤拍长测量方法系统

[发明专利]一种保偏光纤截止波长校准装置及其校准方法-CN201210439525.6有效
发明人：全治科;高业胜;张洪喜;汪择宏;王恒飞 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2012-11-07 - 公布日： 2013-02-13 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提出了一种保偏光纤截止波长校准装置，解决了现有技术中无法产生宽光谱范围偏振光、分别测量保偏光纤快慢轴截止波长问题。一种保偏光纤截止波长校准装置，包括：可变波长程控光源，线偏振起偏镜，对轴耦合系统，包括法兰盘、保偏光纤跳线和保偏光纤熔接机，光纤测试台，微应力光纤夹具，光纤功率计，计算机。本发明充分考虑了保偏光纤的特殊结构对截止波长的测量要求，采取针对措施实现了测量用宽光谱偏振光输出，解决了保偏光纤对轴耦合问题，从而实现了保偏光纤快慢轴截止波长参数的分别测量，提高了测量精度，在不使用对轴耦合系统时，本发明可以兼顾单模光纤截止波长的测量，整个校准装置易于操作和维护，稳定性好。
一种偏光截止波长校准装置及其方法

[发明专利]一种保偏光纤环分布式偏振串扰双向同时测量装置及方法-CN202010748503.2有效
发明人：杨军;喻张俊;张浩亮;余鑫峰;王云才;秦玉文 -专利权人：广东工业大学
申请日： 2020-07-30 - 公布日： 2022-09-06 - 主分类号： G01C19/72 文献下载
摘要：本发明提出一种保偏光纤环分布式偏振串扰双向同时测量装置，解决现有测量保偏光纤环正反向偏振特性的方案容易引起测量误差的问题，装置的光源模块产生的测量光信号注入保偏光纤环双向测量共用光路模块中并在保偏光纤环中发生耦合，信号差分光程扫描与干涉解调模块中的第一解调干涉仪、第二解调干涉仪共用差分光程扫描器，可同时获得待测光纤环中任意位置的双向偏振串扰测量结果，本发明还提出一种保偏光纤环分布式偏振串扰双向同时测量方法，能够降低正反向测量差异，测量准确性和可靠性高，可广泛用于保偏光纤环的分布式偏振串扰双向测量、互易性评估以及绕环对称性评价。
一种偏光分布式偏振双向同时测量装置方法

[发明专利]一种基于谱域OCT成像系统测量保偏光纤扭转方法-CN201410140519.X有效
发明人：张彩妮;施飞韬;王洁;刘承 -专利权人：浙江大学
申请日： 2014-04-10 - 公布日： 2014-07-30 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于谱域OCT成像系统测量保偏光纤扭转方法，该方法在基于谱域OCT成像系统测量保偏光纤扭转装置上实现，所述基于谱域OCT成像系统测量保偏光纤扭转装置包括光纤放线装置、光纤收线装置、光学探头、谱域OCT系统、电脑、待测保偏光纤；本发明利用谱域OCT成像系统，对待测保偏光纤进行断面成像，得到保偏光纤不同位置的断面图像后，根据所得图像中两个应力区中心点的相对位置对保偏光纤扭转角进行测量，该方法具有高分辨
一种基于 oct 成像系统测量偏光扭转方法

[发明专利]一种用于保偏光纤的高精度分布式消光比测量方法-CN202010740511.2有效
发明人：喻张俊;杨军;侯成城;蒋泽军;王云才;秦玉文 -专利权人：广东工业大学
申请日： 2020-07-28 - 公布日： 2022-08-12 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于保偏光纤的高精度分布式消光比测量方法，包括：S1：测量待测保偏光纤的偏振串音；S2：计算偏振串音的测量误差；S3：根据测量误差，校正待测保偏光纤的偏振串音；S4：根据校正后的保偏光纤对应的偏振串音，测量待测保偏光纤分布式消光比。本发明基于白光干涉原理，在得到保偏光纤分布式偏振串音的基础上，测量得到光纤的分布式消光比，本发明测量消光比时考虑了光纤内部存在的损耗，消除损耗引入的系统误差，提高分布式消光比测量精度。本发明所述方法具有测量精度高、大动态范围测量等优点，可广泛应用于对偏振参数测量要求高的光纤型保偏器件的分析上。
一种用于偏光高精度分布式测量方法

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