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- [发明专利]检测治具-CN201210292981.2无效
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金湖滨
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苏州启智机电技术有限公司
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2012-08-17
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2013-01-02
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G01R31/00
- 本发明提供一种检测治具,包括测试平台和测试装置,所述测试装置为一风道,所述风道内设置有空气流量计和温度计,所述风道的出风口连入一出风端位于测试室外部的气道,所述测试平台上设置有夹具,所述夹具由一“L”形挡条和带滑动机构的所述风道构成,所述风道的进风口正对所述“L”形挡条的一边,所述测试平台上开有供笔记本进气的缺口,本发明采用独立的测试风道引出笔记本散出的热风,使测试数据准确不受干扰。
- 检测
- [发明专利]去封装芯片的测试装置-CN01103724.5无效
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张智雄
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茂德科技股份有限公司
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2001-02-12
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2002-09-18
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H01L21/66
- 本发明提出一种去封装芯片(de-capsulatedchip)的测试装置,适用于放置于机器的吸附承载台而藉由该机器的测试头(probeneedles)来测试芯片,该测试装置包括一测试放置板,具有用以放置于该吸附承载台的一第一面及位于该第一面的相反侧的一第二面,且于该第二面形成至少一凹陷部,用以放置该芯片,且该测试放置板具有贯穿连通该凹陷部及该第一面的一贯穿孔,用以藉由该吸附承载台吸力来吸附该芯片,进而藉由该测试头来测试该芯片。
- 封装芯片测试装置
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