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[实用新型]测试片-CN202320081854.1有效
发明人：何艳玲;王杰伟;孙万东;刘丰瑞;马颖 -专利权人：北京陆桥技术股份有限公司
申请日： 2023-01-11 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： C12M1/34 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种测试片。该测试片包括底板和设置在底板上的培养区域，底板上设置有可揭开的覆膜，覆膜的至少一侧相对于底板伸出。在现有技术中，覆膜和底板基本都是一体裁切的，当测试片放在平台上后，操作人员很难移动测试片。本实用新型的测试片在使用时，当测试片放在平台上，由于覆膜相对于底板伸出，操作人员可以根据相对于底板伸出的覆膜来移动测试片，便于操作人员使用测试片。
测试

[发明专利]测试片-CN201910720300.X在审
发明人：李晓 -专利权人：李晓
申请日： 2019-08-06 - 公布日： 2019-10-01 - 主分类号： G01N33/569 文献下载
摘要：本发明提供了一种测试片，包括上层片和下层片，下层片的顶面设置有第一环形凸筋和间隔设置在第一环形凸筋外侧的第二环形凸筋，第一环形凸筋的内侧围成测试空间，第一环形凸筋和第二环形凸筋之间形成沉降空间。应用本发明的技术方案，可以让空气中的微生物或者杂质就会沉降在沉降空间，避免进入到测试空间内影响测试的精度。这样一来，就可以在保证通气性的基础上，还可以对影响测试的微生物或杂质起到阻隔的作用。
环形凸筋测试空间沉降空间影响测试测试片下层片微生物间隔设置沉降上层片通气性顶面阻隔应用保证

[发明专利]测试片-CN201610546248.7有效
发明人：李政哲;蔡瀚庆;萧程允;刘人豪 -专利权人：台欣生物科技研发股份有限公司
申请日： 2016-07-12 - 公布日： 2018-12-28 - 主分类号： G01N27/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试片包括隔板、基板、试剂层、盖片及垫层。隔板具有凹口。隔板贴合在基板上且基板具有自凹口暴露的反应区，试剂层涂布在反应区上。
测试

[实用新型]测试片-CN201921260715.5有效
发明人：李晓 -专利权人：李晓
申请日： 2019-08-06 - 公布日： 2020-04-21 - 主分类号： G01N33/569 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种测试片，包括上层片和下层片，下层片的顶面设置有第一环形凸筋和间隔设置在第一环形凸筋外侧的第二环形凸筋，第一环形凸筋的内侧围成测试空间，第一环形凸筋和第二环形凸筋之间形成沉降空间。应用本实用新型的技术方案，可以让空气中的微生物或者杂质就会沉降在沉降空间，避免进入到测试空间内影响测试的精度。这样一来，就可以在保证通气性的基础上，还可以对影响测试的微生物或杂质起到阻隔的作用。
测试

[外观设计]测试片-CN201830070165.5有效
发明人：周峰 -专利权人：四川峰哲精密设备有限公司
申请日： 2018-02-14 - 公布日： 2018-09-14 - 主分类号： 15-99 文献下载
摘要：1．本外观设计产品的名称：测试片。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于芯片的测试。3．本外观设计产品的设计要点：该产品的形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：设计1立体图。
外观设计测试片芯片测试图片

[外观设计]测试片-CN201830161310.0有效
发明人：周峰 -专利权人：四川峰哲精密设备有限公司
申请日： 2018-04-18 - 公布日： 2018-09-14 - 主分类号： 15-99 文献下载
摘要：1．本外观设计产品的名称：测试片。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于半导体产品的测试。3．本外观设计产品的设计要点：该产品的形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：设计1立体图。
外观设计测试片半导体产品测试图片

[外观设计]测试片-CN202130436017.2有效
发明人：夏欢;张勇 -专利权人：金动力智能科技（深圳）有限公司
申请日： 2021-07-09 - 公布日： 2021-12-21 - 主分类号： 10-04 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：测试片。2.本外观设计产品的用途：用于滤波器的性能指标测试。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
测试

[实用新型]一种二极管新型测试片-CN201921033357.4有效
发明人：邱和平 -专利权人：阳信金鑫电子有限公司
申请日： 2019-07-03 - 公布日： 2020-04-10 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种二极管新型测试片，包括第一测试片、第二测试片、第三测试片、第四测试片和放置台，第一测试片的端部设有第一测试片头部测试块，第一测试片上设有第一螺丝锁孔、测试片定位孔和第二螺丝锁孔，第二测试片的端部设有第二测试片头部测试块，整组测试片采用第一测试片和第二测试片，第三测试片和第四测试片组合，组合间的间隙可调，满足不同宽度的被测引脚需求；测试片组合凹槽垂直角被磨损后，还可以通过磨修与组合间隙调整来延长测试片的使用次数，节约成本，测试片通过定位孔与双螺孔设计搭配，定位准确、安装快速，调节方便、并且不会短接。
一种二极管新型测试

[实用新型]一种二极管电性测试结构-CN202020932060.8有效
发明人：覃荣俊 -专利权人：中之半导体科技（东莞）有限公司
申请日： 2020-05-28 - 公布日： 2021-01-15 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型提供一种二极管电性测试结构，包括测试限位板、安装板A、安装板B、第一测试片组、第二测试片组；第一测试片组包括测试片A、测试片B，测试片A和测试片B相邻设置；第二测试片组包括测试片C、测试片D，测试片C和测试片D相邻设置；安装板A安装在测试限位板的一侧形成第一测试片组的收纳空间，安装板B安装在测试限位板的另一侧形成第二测试片组的收纳空间，第一测试片组与测试限位板弹性连接并且设置在第一测试片组的收纳空间内，第二测试片组与测试限位板弹性连接并且设置在第二测试片组的收纳空间内；测试限位板的上表面设置有测试座。本实用新型的有益效果是：实现迅速、稳定的测试动作。
一种二极管测试结构

[实用新型]一种芯片测试座-CN202121056401.0有效
发明人：宁丽娟 -专利权人：深圳市福瑞达电子有限公司
申请日： 2021-05-17 - 公布日： 2021-12-03 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片测试座，包括测试座主体、以及均匀设置在所述测试座主体的若干组测试片组件，其中，每组所述测试片组件均至少包括有第一测试片和第二测试片，所述第一测试片和第二测试片沿X轴水平方向并列设置在所述测试座主体上，并且所述第一测试片和第二测试片的外表均涂有绝缘材料。通过将第一测试片和第二测试片沿X轴水平方向并列设置在测试座主体上，便于第一测试片和第二测试片安装在测试座主体上，也使得测试座的结构更加地简单、紧凑，并且也更加地便于第一测试片和第二测试片的安装和更换，此外，第一测试片和第二测试片的外表均涂有绝缘材料，防止第一测试片和第二测试片之间相互导通，实现电子芯片的开尔文测试方法。
一种芯片测试

[实用新型]一种芯片测试结构-CN202121812511.5有效
发明人：宁丽娟 -专利权人：深圳市福瑞达电子有限公司
申请日： 2021-08-04 - 公布日： 2022-01-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种芯片测试结构，包括测试座主体、以及若干组测试片组件，每组所述测试片组件均至少包括有第一测试片和第二测试片，所述第一测试片和第二测试片设置在所述测试座主体上，所述第一测试片和第二测试片均分别包括有测试片主体、第一接触端、以及第二接触端，所述测试片主体设于所述测试座主体上，所述第一接触端和第二接触端分别设置于所述测试片主体的两端，所述第一测试片的第一接触端和第二测试片的第一接触端间隔设置，且靠近所述测试座主体底部设置的第一接触端靠近所述测试座主体中部的一侧设置该结构使测试座的结构更加地简单、紧凑，此外，还能够防止第一测试片和第二测试片在工作过程中相互接触。
一种芯片测试结构

[实用新型]一种芯片测试结构-CN202221602858.1有效
发明人：宁丽娟 -专利权人：深圳市福瑞达电子有限公司
申请日： 2022-06-24 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种芯片测试结构，包括测试座主体、以及沿X轴方向均匀并列设置在所述测试座主体的若干组测试片组件，每组所述测试片组件包括有第一测试片和第二测试片，所述第一测试片和第二测试片分别设置在所述测试座主体上；所述第一测试片和第二测试片均分别包括有测试片主体、接触端、以及连接端，所述测试片主体设于所述测试座主体上，所述接触端和连接端分别设置于所述测试片主体的两端，所述第一测试片的接触端和第二测试片的接触端沿Y轴方向间隔设置，且所述第一测试片的接触端面低于所述第二测试片的接触端面设置。上述芯片测试结构简单、紧凑、安装和更换方便，此外，还能够实现对具有弯折结构的电子芯片管脚两个触点进行检测。
一种芯片测试结构

[发明专利]一种用于标签试验的持粘性测试装置-CN202210417113.6在审
发明人：周浩;张书东;蔡广成;任远贵 -专利权人：合肥文苑印刷有限公司
申请日： 2022-04-20 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： G01N19/04 文献下载
摘要：本发明涉及标签试验设备技术领域，公开了一种用于标签试验的持粘性测试装置，包括机箱，机箱内设有隔板，隔板上方与下方分别分隔有测试区和收纳区，测试区内设有测试机构，测试机构包括设置在机箱顶部的挂钩，挂钩的下方设有上测试片和下测试片，上测试片与下测试片竖直向下，并位于同一平面内，上测试片与下测试片之间通过标签相粘连，上测试片和下测试片相对一端均开设有挂孔，上测试片悬挂在挂钩上，下测试片的挂孔内悬挂有砝码，利用若干挂钩，将上测试片和下测试片之间由标签粘连，顶部悬挂在挂钩上，底部悬挂砝码，观察标签粘连在测试片上未脱落的时间，即可同时对多类型种类的标签进行粘性测试，提高测试效率。
一种用于标签试验粘性测试装置

[发明专利]一种带回路测试功能的光耦高压测试装置及其测试方法-CN202011439813.2在审
发明人：张广添;黄宝莹;吴质朴;何畏 -专利权人：深圳市奥伦德元器件有限公司
申请日： 2020-12-10 - 公布日： 2021-03-12 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种带回路测试功能的光耦高压测试装置及其测试方法，包括：底座；测试单元，测试单元安装在底座上，测试单元包括第一测试单元和第二测试单元；第一测试单元包括第一测试片、第二测试片、第三测试片和第一夹持区；第二测试单元包括第四测试片、第五测试片、第六测试片和第二夹持区；接线装置，用于接入高压测试线，所述接线装置设置在所述第二测试片的一端和所述第六测试片的一端。在测试时，带回路测试功能的光耦高压测试装置的第一测试片、第二测试片和第三测试片共同卡设固定光耦的一只输入引脚，第四测试片、第五测试片和第六测试片共同卡设固定光耦的另一只输入引脚，从而实现测试单元能紧紧扣住光耦芯片的技术效果
一种回路测试功能高压装置及其方法

[实用新型]一种芯片测试结构-CN202121812705.5有效
发明人：宁丽娟 -专利权人：深圳市福瑞达电子有限公司
申请日： 2021-08-04 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片测试结构，包括测试座主体、以及均匀设置在所述测试座主体的若干组测试片组件，其中，每组所述测试片组件均至少包括有第一测试片和第二测试片，所述第一测试片和第二测试片设置在所述测试座主体上，并且所述第一测试片和第二测试片相邻的外表上均涂有绝缘材料，其中，所述第一测试片和第二测试片均分别包括有测试片主体、第一接触端、以及第二接触端，所述测试片主体设于所述测试座主体上，所述第二接触端包括有一体成型的弯折部和连接部上述芯片测试结构便于第一测试片和第二测试片的安装和更换，并且与PCB板的接触也更加的稳定。
一种芯片测试结构

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