专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种多功能光电参数测试-CN202122691311.5有效
  • 高炬 - 成都工贸职业技术学院
  • 2021-11-05 - 2021-12-07 - G01R1/02
  • 本实用新型公开了一种多功能光电参数测试,包括光电测试本体,光电测试本体上设有操作面板、操作按钮和测试插接口,所述光电测试本体的下方设有测试底壳,光电测试本体的上方设有测试上护壳,所述测试上护壳与测试底壳之间安装有四个缓冲装置,该多功能光电参数测试,光电测试本体受到碰触时,测试上护壳能够有效阻挡上部受到的碰触,受到碰触后将会产生震动,将会带动四个缓冲杆分别在四个缓冲槽内移动,并分别压缩四个缓冲弹簧,在四个缓冲弹簧的弹力作用,能够有效减缓受到的冲击,从而能够很好的保护光电测试本体不易受到碰触损坏,同时设置的测试上护壳能够有效阻挡灰尘。
  • 一种多功能光电参数测试
  • [实用新型]平板电脑测试-CN201921089870.5有效
  • 陈灿华;许新生;杨志国;朱卓盛;梁富军 - 东莞市沃德精密机械有限公司
  • 2019-07-11 - 2020-03-31 - G01M99/00
  • 本实用新型的平板电脑测试集合了导电测试构、按键测试构、音频测试构及ALS测试构,导电测试构设置于定位治具的前侧,按键测试构和ALS测试构设置于定位治具的后侧,音频测试构设置于定位治具的左侧;导电测试构可沿Y轴移动以导电触点而测试导电性能,按键测试构可沿Y轴移动以按压按键而测试按键性能,音频测试构可沿X轴移动以插入音频插口而测试音频性能,ALS测试构可沿X轴移动以靠近平板电脑而测试感光性能本实用新型实现了平板电脑的多个功能模块的性能测试,提高了测试效率;且能够自动完成整个测试过程,能够避免由于人工判断标准不一而造成性能相同的产品有不同的测试结果,测试结果更加可靠。
  • 平板电脑测试
  • [实用新型]一种阀座尺寸自动测量机-CN202222959834.8有效
  • 张全 - 苏州普费勒精密量仪有限公司
  • 2022-11-07 - 2023-02-28 - G01B21/14
  • 本实用新型公开了一种阀座尺寸自动测量机,属于阀座测量技术领域,包括工作台、上料机构、孔径测试构、合格件测试构、台阶测试构、外形测试构、侧面孔测试构和分料机构,所述工作台上设置有转盘,所述上料机构、所述孔径测试构、所述合格件测试构、所述台阶测试构、所述外形测试构、所述侧面孔测试构均设置在所述转盘的周侧,本实用新型通过振动盘使得阀座沿着导料体进入到工作台上,夹具将阀座夹取,通过电机驱动丝杆带动移动板移动,将阀座放置在转盘上,转盘带动阀座进行转动,从而经过孔径测试构、合格件测试构、台阶测试构、外形测试构、侧面孔测试构底部,对阀座进行外形、内孔、高度、台阶、侧面孔测量。
  • 一种尺寸自动测量
  • [发明专利]一种多功能电源板测试生产线-CN201410414561.6有效
  • 李垂猛;翟保利 - 东莞市冠佳电子设备有限公司
  • 2014-08-21 - 2017-05-24 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种多功能电源板测试生产线,包括第一测试装置及第二测试装置,电源板流经第一测试装置之后进入第二测试装置内,第一测试装置和第二测试装置均包括机架、横跨于机架的输送带及设置于机架的测试治具;第一测试装置还包括ICT测试构、Hi‑pot测试构和FCT测试构,ICT测试构、Hi‑pot测试构和FCT测试构依次设置于第一测试装置的机架;第二测试装置还包括DPMS测试构、ATE测试构和TV测试构,DPMS测试构、ATE测试构和TV测试构依次设置于第二测试装置的机架。本发明提高了PCBA测试的工作效率和自动化,使得PCBA测试的品质更稳定。
  • 一种多功能电源板测试生产线
  • [实用新型]多功能电源板测试设备-CN201420474808.9有效
  • 李垂猛;翟保利 - 东莞市冠佳电子设备有限公司
  • 2014-08-21 - 2015-03-25 - G01R31/28
  • 本实用新型公开了多功能电源板测试设备,包括第一测试装置及第二测试装置,电源板流经第一测试装置之后进入第二测试装置内,第一测试装置和第二测试装置均包括机架、横跨于机架的输送带及设置于机架的测试治具;第一测试装置还包括ICT测试构、Hi-pot测试构和FCT测试构,ICT测试构、Hi-pot测试构和FCT测试构依次设置于第一测试装置的机架;第二测试装置还包括DPMS测试构、ATE测试构和TV测试构,DPMS测试构、ATE测试构和TV测试构依次设置于第二测试装置的机架。本实用新型提高了PCBA测试的工作效率和自动化,使得PCBA测试的品质更稳定。
  • 多功能电源板测试设备
  • [实用新型]一种POS机多功能寿命测试-CN201921341559.5有效
  • 刘健 - 福州汇思博信息技术有限公司
  • 2019-08-19 - 2020-03-27 - G01M99/00
  • 本实用新型公开了一种POS机多功能寿命测试,包括壳体、按键测试构、POS机固定机构、USB接口测试构、刷卡测试构及插拔卡测试构;所述POS机固定机构装设于壳体顶部,以固定待测POS机;所述USB接口测试构和刷卡测试构相对设置地装设于壳体顶部并分别位于所述POS机固定机构左右两侧;所述插拔卡测试构和所述按键测试构相对设置地装设于所述壳体顶部并分别位于所述POS机固定机构前后两侧;所述按键测试构、USB接口测试构、刷卡测试构及插拔卡测试构分别正对所述待测POS机的按键、USB接口、刷卡槽及插卡槽。本实用新型能够实现同时对POS机多个部位进行寿命测试,大大提高测试效率。
  • 一种pos多功能寿命测试
  • [发明专利]一种集成电路芯片内部电路节点测试装置-CN202110858142.1在审
  • 王雪莲 - 王雪莲
  • 2021-07-28 - 2021-11-26 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种集成电路芯片内部电路节点测试装置,其结构包括测试、显示屏、遮尘帘、芯片测试构,显示屏内嵌在测试前端面板内,遮尘帘支撑杆与测试顶板螺栓连接,芯片测试构底部与测试顶板活动卡合连接测试上设有多个芯片测试构,方便同时进行多块芯片测试,遮尘帘可以防止空气中的粉尘对芯片测试构造成积灰,芯片测试构设有夹脚测试构用来固定芯片针脚和实时传输数据,传输机构内设有触点机构和传输保护机构,在测试运行时,可以对芯片针脚进行保护
  • 一种集成电路芯片内部电路节点测试装置
  • [发明专利]一种测试延迟补偿方法、系统及测试-CN202010117178.X在审
  • 梁建;罗雄科 - 上海泽丰半导体科技有限公司
  • 2020-02-25 - 2020-06-30 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种测试延迟补偿方法、系统及测试。其中,测试中用于对外连接的各信号管脚处于开路状态;每个信号管脚通过其所在的信号线与测试芯片的一个芯片管脚电连接;延迟补偿方法包括:测试芯片向信号管脚发送测试信号;测试信号传输至信号管脚处后,沿着相反的方向反射回测试芯片;测试芯片接收信号管脚反射回的测试反射信号;测试芯片根据测试信号、及测试反射信号,获取信号管脚的传输延迟;测试芯片从各信号管脚的传输延迟数据中,选取时间最长的传输延迟作为延迟参考;测试芯片根据延迟参考本发明保证测试内部芯片输出到各信号管脚(测试测试板连接处)等延迟,具备相同时序。
  • 一种测试延迟补偿方法系统

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